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MRN系列多通道光纤旋转接头(FORJ)在Princetel的FORJ系列中拥有较大的通道数。提供20-36个独立光纤通道作为标准选项。较常见的是24通道版本。损耗和背向反射在所有信道上是均匀的。在旋转过程中不存在通道“下降”或“盲点”。对于单模和多模光纤,它们还具有低串扰性能(<-60 dB)。与我们的其他多通道FORJ一样,所有通道都可以容纳单模或多模光纤。还可以将两种类型的光纤组合在一个跨越三个光学窗口(850、1310和1550nm)的装置中。根据经验,为了获得更小的尺寸、更低的成本、更快的交付速度和更轻松的处理,请始终首先考虑较低的通道数。但是,如果需要大量通道,Princetel的MRN系列ForJS可提供较佳解决方案。
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通道数量: Multi Channel 工作波长范围: 350 - 2050 nm 动态衰减范围: 40dB 插入损耗: 2.0dB 反射损耗: 35dB
OZ Optics提供紧凑、坚固和低成本的多通道数字衰减器,具有高分辨率、高衰减范围和高功率处理能力(仅限阻塞技术)。OZ Optics的多通道数字衰减器是一个193U机架模块。这些衰减器具有低插入损耗、低背反射、低PDL和平坦的波长响应。对于C或L波段,每个衰减器较多可校准4个波长。或者,可以针对连续范围对该单元进行校准。通过使用校准波长之间的插值,该装置能够在连续的宽波长范围内提供精确的衰减水平。OZ Optics的多通道衰减器非常适合用于误码率测试、接收器和其他有源光纤组件的故障排除、功率计线性检查、模拟长距离光纤传输和功率设置。计算机接口允许用户通过PC访问或远程控制该单元。
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通道数量: Single Channel 工作波长范围: 350 - 2050 nm 动态衰减范围: 60dB 插入损耗: 1dB 反射损耗: 40dB
OZ Optics提供紧凑、坚固和低成本的多通道数字衰减器,具有高分辨率、高衰减范围和高功率处理能力(仅限阻塞技术)。OZ Optics的多通道数字衰减器是一个193U机架模块。这些衰减器具有低插入损耗、低背反射、低PDL和平坦的波长响应。对于C或L波段,每个衰减器较多可校准4个波长。或者,可以针对连续范围对该单元进行校准。通过使用校准波长之间的插值,该装置能够在连续的宽波长范围内提供精确的衰减水平。OZ Optics的多通道衰减器非常适合用于误码率测试、接收器和其他有源光纤组件的故障排除、功率计线性检查、模拟长距离光纤传输和功率设置。计算机接口允许用户通过PC访问或远程控制该单元。
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传感器类型: CMOS # 像素(宽度): 1936 # 像素(高度): 1216 全帧速率: 41fps 位深度: 12bit
Spectral Devices多光谱显微镜系统专为要求苛刻的显微镜应用而设计。它们在一个盒子中包含4个CMOS相机。该系统将来自单个C-Mount入口端口的光分成4个通道,以同时成像。在4个光束内的位置插入八(8)个可拆卸的标准1英寸滤光片支架。使用任何相机作为内部触发源或将所有四个相机从属于外部触发源。使用同步信号同步外部设备。所有相机都具有全局快门,以提供移动物体的精确高速图像。USB3 Vision和Genicam兼容性使系统设置和使用变得简单。外壳由铝材CNC加工而成,以提高强度,并经过硬质阳极氧化处理,以提高耐用性。多摄像头系统与Windows、Linux和National Instruments LabVIEW的各种软件和SDK兼容。每次购买系统时都会附带2ndLook for Windows,以简化系统设置和使用。这些系统可扩展为多达4个外部C安装摄像头或探测器。
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传感器类型: CMOS # 像素(宽度): 2048 # 像素(高度): 2048 像素大小: 5.5um 峰值量子效率: 67%
光谱设备多光谱快照相机将CMOS传感器与高性能多光谱滤光片阵列技术相结合。每次相机曝光时同时捕获多个光谱图像。以高达90帧/秒的速度拍摄多光谱视频。行业领先的多光谱相机型号选择,针对标准和定制成像应用进行了优化。全局快门为快速移动的物体提供精确的高速成像。USB3 Vision和Genicam兼容性使这些摄像机易于安装和使用。外壳由铝材CNC加工而成,以提高强度,并经过硬质阳极氧化处理,以提高耐用性。我们提供来自主要制造商的镜头,并可以推荐一款经过优化的镜头,即使是较困难的成像任务。摄像机与Windows、Linux和National Instruments LabVIEW的各种软件和SDK兼容。
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传感器类型: CCD # 像素(宽度): 1392 # 像素(高度): 1040 像素大小: 4.65um 峰值量子效率: 50%
Mvia SciGen数码相机专为高分辨率明场和荧光科学和工业应用而设计。逐行扫描隔行扫描CCD传感器分辨率为140万像素,12位数字输出。高速低噪声电子设备提供线性数字数据感兴趣区域和面元中的帧速率高达110 FPS。IEEE 1394 FireWire™数字接口使使用和安装单线,不需要帧抓取器或外部电源。SciGen包括捕获软件,适用于基于Microsoft Windows和Mac OS的系统,用于实时图像预览和捕获。一个软件开发套件(SDK)可根据要求提供与定制软件的接口。
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传感器类型: CCD # 像素(宽度): 1360 # 像素(高度): 1036 像素大小: 6.45um 峰值量子效率: 70%
MVIA SCIMAX CCD数码相机具有增强的可见光和红外量子效率,具有非常高的灵敏度,非常适合要求苛刻的低光和荧光成像应用。逐行扫描隔行扫描CCD传感器在12位数字输出中提供140万像素的分辨率。高速低噪声电子设备提供用于快速图像捕捉的线性数字数据。IEEE 1394 FireWire TM数字接口易于使用和安装,只需一根线,无需帧捕获器或外部电源。SCIMAX包括用于基于Microsoft Windows和Mac OS的软件系统的捕获软件,用于实时图像预览和捕获。软件开发工具包(SDK)可用于与定制软件接口。
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传感器类型: CCD # 像素(宽度): 1024 # 像素(高度): 255 像素大小: 26um 峰值量子效率: 95%
这一高端USB2.0 Newton CCD系列将Andor的超快速、低噪声电子平台和市场领先的-100°C深热电冷却结合在一起,并辅以Andor的UltraVac™技术,该技术在科学和工业领域具有无与伦比的可靠性记录。智能裁剪模式操作可实现高达每秒1,600个光谱的宽带检测速率。牛顿CCD是用于超快UV、VIS或NIR光谱(或以上所有与双AR涂层Bex2-DD技术!)的理想工具,例如2D化学绘图、在线过程监控或非侵入性医疗诊断。Newton 940系列提供13.5 X 13.5μm像素,用于较高UV至VIS分辨率光谱,而920系列及其26 X 26μm为UV至NIR应用提供较高动态范围。两个>6.6 mm高的传感器都非常适合多轨道光谱或超光谱成像。
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传感器类型: EMCCD # 像素(宽度): 1600 # 像素(高度): 200 像素大小: 16um 峰值量子效率: 97%
EM技术使来自每个像素的电荷在读出之前在传感器上倍增,从而提供单光子灵敏度。Newton EM平台结合了1600 X 200(或1600 X 400)16μm像素阵列、低至-100°C的热电冷却(暗电流可忽略不计)、3MHz读出和USB 2.0即插即用连接,为光谱应用提供无与伦比的性能。双输出放大器允许在传统的高灵敏度或电子倍增输出之间进行软件选择,以适应广泛的光子状态条件。这使得Newton EMCCD成为超快化学成像应用的理想选择,例如SERS、TERS或发光成像。
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测量类型: Chemical identification
Rigaku NEX LS采用先进的第三代能量色散X射线荧光(EDXRF)技术,代表了用于卷材或线圈应用的扫描多元素工艺涂层分析仪的下一次进化。能量色散X射线荧光(EDXRF)为了提供卓越的分析性能和可靠性,EDXRF测量头组件源自已建立的Rigaku NEX系列高分辨率台式仪器。凭借其成熟的技术,Rigaku NEX LS可对涂层重量、涂层厚度和/或成分进行快速、无损的多元素分析,适用于从铝(Al)到铀(thickness U)的元素。涂层厚度和成分Rigaku NEX LS专为卷筒纸和卷材应用而设计,能够执行多元素组合、涂层重量或涂层厚度。测量头安装在刚性梁上,并配备有位于滚轮上方的线性横动机构,以使头-面距离恒定。需要时,可直接测量涂层的元素组成。相反,涂层重量(或涂层厚度)可以直接测量(其中元素的计数率与厚度成比例)或通过测量一些基材元素的衰减来间接测量(其中计数率与厚度负相关)。长期以来,台式EDXRF光谱仪一直是脱模涂层、转换器、真空成型塑料制造商和其他使用硅油作为阻挡层、脱模涂层或脱模剂的行业所熟悉的技术。实时扫描,用于更严格的过程控制公差,将用于硅涂层分析的EDXRF技术提升到一个新的水平。硅酮涂层应用于塑料和纸质基材,以改变产品(如标签)或包装的释放特性。如果施加的硅酮太少,或者如果存在硅酮涂层缺失的幅材区域,则在剥离应用中粘合剂剥离性能将受到不利影响,或者真空成形塑料的脱嵌特性将受到损害,从而导致产品报废或在制造和其它下游工艺中中断。如果应用了太多的硅酮,则制造的辊的成本增加,降低了盈利能力,并且在某些情况下影响了较终产品的接受和性能。
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测量类型: Elemental analysis
Rigaku NEX OL采用先进的第三代能量色散X射线荧光(EDXRF)技术,代表了液流和固定位置网络或线圈应用的工艺元素分析的下一次进化。NEX OL的设计涵盖了从重工业到食品级的过程测量解决方案,可配置用于分类和非分类领域。从铝(Al)到铀(₂U)的分析为了提供卓越的分析性能和可靠性,EDXRF测量头组件源自已建立的Rigaku NEX QC高分辨率台式仪器。凭借这一成熟的技术,Rigaku NEX OL可对从铝(Al)到铀(U)的元素进行快速、无损的多元素分析——从百万分率(ppm)水平到高重量百分比(wt%)浓度。Rigaku NEX OL配备50 kV X射线管和SDD探测器,以及标准化、优化的管式过滤器套件,旨在解决广泛的过程控制应用。