-
单色仪类型: Czerny-Turner 有效焦距: 1000mm 衍射光栅: 1200lines/mm 光谱范围: 140 - 1200 nm 线性色散: 0.8nm/mm
FHR640和FHR1000是自动Czerny-Turner光谱仪,焦距分别为0.64米(FHR640)和1米(FHR1000)。FHR系列专为需要高精度和即时结果的研究人员而设计,其多功能性允许在宽光谱范围内使用,从UV范围(140 nm)扩展到IR(取决于所使用的光栅和探测器)。FHR被设计为较小化到达焦平面的任何杂散光。光学腔包括黑化挡板和掩模以捕获不需要的光。此外,FHR的光学设计没有再衍射光(再衍射光是杂散光的来源,涉及光学元件本身的多次反射,因此很难屏蔽)。
-
单色仪类型: Czerny-Turner 有效焦距: 640mm 衍射光栅: 1200lines/mm 光谱范围: 140 - 1200 nm 线性色散: 1.2nm/mm
FHR640和FHR1000是自动Czerny-Turner光谱仪,焦距分别为0.64米(FHR640)和1米(FHR1000)。FHR系列专为需要高精度和即时结果的研究人员而设计,其多功能性允许在宽光谱范围内使用,从UV范围(140 nm)扩展到IR(取决于所使用的光栅和探测器)。FHR被设计为较小化到达焦平面的任何杂散光。光学腔包括黑化挡板和掩模以捕获不需要的光。此外,FHR的光学设计没有再衍射光(再衍射光是杂散光的来源,涉及光学元件本身的多次反射,因此很难屏蔽)。
-
中心波长范围: 1000 - 1800 nm FBG 长度: From 1mm to 20mm, 15 mm, 12 mm, 10 mm, 7 mm, 5 mm, 3 mm, 1 mm, Custom 反射率: 3 - 90%, 10 - 50%, 10 - 90%, 30 - 70%, 30 - 99%, >30%, >50%, >70%, >90%, >1%,<=1% 反射率: From 1% to 99,99%%
Idil Fibers Optiques是一家定制光纤布拉格光栅(FBG)的全球供应商,适用于大多数无源和有源应用。IDIL Fibers Optiques设计和制造各种光纤布拉格光栅(FBG)外形,包括均匀FBG、啁啾FBG、闪耀FBG、FBG阵列和FBG封装(包括裸光纤FBG和无热FBG)。我们的产品覆盖了广泛的波长范围:从1000纳米到1800纳米。IDIL可以在各种类型的光纤上工作,并提供各种类型的连接器。我们的团队计算并设计了FBG的轮廓。我们还表征并实现了多路复用FBG(CF)。相反),在同一光纤上有几个光栅(从1到大约20个),这些光栅可以接近几毫米或分开几公里。我们的FBG在光纤激光器(高功率和低噪声激光器)、高功率放大器、传感器(声学、干涉测量、光谱学)和电信(DWDM)等领域具有广泛的应用。https://www.idil-fibres-optiques.com/product/fiber-bragg-gratings-2/
-
波长范围: 190 - 1700 nm 决议: 0.3-2nm 最短扫描时间: 1sec
FilmTek™2000 PAR-SE组合计量生产线是我们较先进的台式计量解决方案,具有业内较高的准确度、精度和多功能性。FilmTek™2000 PAR-SE的设计旨在满足从研发到生产的几乎所有先进薄膜测量应用的需求。FilmTek™2000 PAR-SE结合了光谱椭圆偏振法和DUV多角度偏振反射法,具有宽光谱范围,可满足较具挑战性的测量需求。SCI的专利抛物面镜技术可实现低至50µm的小光斑尺寸,非常适合直接测量产品晶圆和图案化薄膜。FilmTek™2000 PAR-SE结合了专利多角度差分偏振(MADP)和差分功率谱密度(DPSD)技术,利用多角度偏振光谱反射计独立测量薄膜厚度和折射率。通过独立测量折射率和厚度,FilmTek™2000 PAR-SE对薄膜(尤其是多层堆叠中的薄膜)的变化比依赖于传统椭圆偏振或反射测量技术的现有计量工具更加敏感。FilmTek™2000 PAR-SE是一个完全集成的软件包,配有先进的材料建模软件,即使是较严格的测量任务也能可靠和直观地完成。硬件和软件都可以轻松修改,以满足客户的独特需求。
-
波长范围: 240 - 1700 nm 决议: 0.3nm 最短扫描时间: 2sec
FilmTek™2000 SE台式计量系统具有无与伦比的测量性能、多功能性和速度,适用于无图案的薄膜到厚膜应用。它非常适合学术和研发环境。FilmTek™2000 SE结合了光谱椭圆偏振法和DUV多角度偏振反射法,可同时测量薄膜厚度、折射率和消光系数。我们先进的旋转补偿器设计可在整个Δ(Δ)范围内实现精度和准确度,包括接近0°和180°。当无法在布鲁斯特条件附近进行测量时,这可以实现较佳性能,这对于硅或玻璃衬底上非常薄的薄膜的精确测量是必不可少的。数千个波长可在几秒钟内同时收集,集成的自动对焦功能消除了同类椭偏仪所需的手动样品对准的繁琐任务。FilmTek™2000 SE是一个完全集成的封装,配有直观的材料建模软件,即使是较苛刻的测量任务也能简单可靠地完成。FilmTek™软件包括完全用户可定制的样本映射功能,可快速生成任何测量参数的2D和3D数据图。除了用户定义的图案外,标准贴图图案还包括极坐标、X-Y、Rθ或线性。