-
模式锁定电源: 30mW 脉冲持续时间: 6000fs 半高宽(FWHM): 0.24nm 重复频率: 20 - 40MHz 脉冲能量: 1nJ
脉冲宽度为2-50ps的Enlight超快SEEDO激光器为微加工、半导体检测、光学计量、多光子光谱学等高要求应用提供了高端可靠的光源,并为光学放大器和非线性波长转换到更长或更短波长提供了优秀的种子光源。SEEDO激光器经过精心设计,可提供卓越的性能和高可靠性。凭借我们独特的光纤激光器设计,Seedo激光器的功率可以扩展到1瓦的水平。SEEDO激光器采用Enlight可靠的高端超快光纤激光器以及精密先进的光学封装设计,具有功率稳定、使用寿命长的特点,专为24/7工业应用而打造,拥有成本较低,正常运行时间较长。
-
相机类型: Industrial, Scientific 阵列类型: Not Specified 光谱带: 1 - 0.94 um # 像素(高度): 2801 # 像素(宽度): 2801
VCPROBE-NIR-STG是测量小孔径近红外光源的理想选择,为LED和激光器等近红外光源提供了一种高效的测量解决方案。该系统可在±70°视角锥内进行全图测量,具有出色的角分辨率,工作距离为4mm非接触式测量。建议用于2.5 mm出射光瞳发射器。DXY+/-1 mm容差,相对于位置的可重复性优于1%,便于在线定位。VCPROBE-NIR-STG在940 nm波长下校准,可为研发和大规模生产/质量控制应用提供高速和精确的测量。如果您需要一个类似的系统用于特殊项目或大规模生产,我们可以建立一个符合您要求的系统。
-
相机类型: Scientific, Security 阵列类型: Not Specified 光谱带: 1 - 0.940 um # 像素(高度): 2801 # 像素(宽度): 2801
VCPROBE-NIR-STG是测量小孔径近红外光源的理想选择,为LED和激光器等近红外光源提供了一种高效的测量解决方案。该系统可在±70°视角锥内进行全图测量,具有出色的角分辨率,工作距离为4mm非接触式测量。建议用于2.5 mm出射光瞳发射器。DXY+/-1 mm容差,相对于位置的可重复性优于1%,便于在线定位。VCPROBE-NIR-STG在940 nm波长下校准,可为研发和大规模生产/质量控制应用提供高速和精确的测量。如果您需要一个类似的系统用于特殊项目或大规模生产,我们可以建立一个符合您要求的系统。
-
镜头类型: Positive, Negative 材料: BK7 尺寸: 5.0mm 焦距: 7.5mm
消色差柱面透镜在设计和功能上与标准柱面透镜相似,但具有减少像平面上的球面像差和色差的附加优点。当与单色光源(如激光二极管)一起使用时,根据透镜的数值孔径,消色差柱面透镜将产生小50–90%的光斑。当与宽带光源一起使用时,镜头将较大限度地减少色差,产生具有较少颜色分离的聚焦线,或者将产生明亮的变形图像。正柱面透镜非常适合于只需要在一个维度上放大的应用。当球面透镜对称地聚焦入射光时,柱面透镜以相同的方式起作用,但仅在一个维度上起作用。典型的应用包括用激光二极管产生线,将发散光束聚焦到线性检测器阵列上,或者使用一对柱面透镜来准直和圆化激光二极管的输出。消色差柱面透镜是一种双合透镜,由粘合在一起的正低折射率(皇冠)元件和负高折射率(弗林特)元件组成。这两种材料被设计成协同工作以减少球面像差和色差。通过使用成对设计所提供的额外设计自由度允许性能的进一步优化。因此,与直径和焦距相当的单透镜相比,消色差透镜具有明显的优势。