使用IV型像差校正单色器光栅，单个凹面光栅将来自入口狭缝的光分散、准直并重新聚焦到出口狭缝上。通过光栅的简单旋转获得波长扫描。这些光栅的凹槽间距是计算机优化的，以产生具有较小值的高质量图像像散和彗差，即使在大数值孔径下。与Czerny-Turner单色仪（配有一面平面光栅、一面准直镜和一面聚焦镜）相比，像差校正单色仪光栅提供了更好的光收集效率和信噪比。

使用IV型像差校正单色器光栅，单个凹面光栅将来自入口狭缝的光分散、准直并重新聚焦到出口狭缝上。通过光栅的简单旋转获得波长扫描。这些光栅的凹槽间距是计算机优化的，以产生具有较小值的高质量图像像散和彗差，即使在大数值孔径下。与Czerny-Turner单色仪（配有一面平面光栅、一面准直镜和一面聚焦镜）相比，像差校正单色仪光栅提供了更好的光收集效率和信噪比。

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使用IV型像差校正单色器光栅，单个凹面光栅将来自入口狭缝的光分散、准直并重新聚焦到出口狭缝上。通过光栅的简单旋转获得波长扫描。这些光栅的凹槽间距是计算机优化的，以产生具有较小值的高质量图像像散和彗差，即使在大数值孔径下。与Czerny-Turner单色仪（配有一面平面光栅、一面准直镜和一面聚焦镜）相比，像差校正单色仪光栅提供了更好的光收集效率和信噪比。

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使用IV型像差校正单色器光栅，单个凹面光栅将来自入口狭缝的光分散、准直并重新聚焦到出口狭缝上。通过光栅的简单旋转获得波长扫描。这些光栅的凹槽间距是计算机优化的，以产生具有较小值的高质量图像像散和彗差，即使在大数值孔径下。与Czerny-Turner单色仪（配有一面平面光栅、一面准直镜和一面聚焦镜）相比，像差校正单色仪光栅提供了更好的光收集效率和信噪比。

使用IV型像差校正单色器光栅，单个凹面光栅将来自入口狭缝的光分散、准直并重新聚焦到出口狭缝上。通过光栅的简单旋转获得波长扫描。这些光栅的凹槽间距是计算机优化的，以产生具有较小值的高质量图像像散和彗差，即使在大数值孔径下。与Czerny-Turner单色仪（配有一面平面光栅、一面准直镜和一面聚焦镜）相比，像差校正单色仪光栅提供了更好的光收集效率和信噪比。

使用IV型像差校正单色器光栅，单个凹面光栅将来自入口狭缝的光分散、准直并重新聚焦到出口狭缝上。通过光栅的简单旋转获得波长扫描。这些光栅的凹槽间距是计算机优化的，以产生具有较小值的高质量图像像散和彗差，即使在大数值孔径下。与Czerny-Turner单色仪（配有一面平面光栅、一面准直镜和一面聚焦镜）相比，像差校正单色仪光栅提供了更好的光收集效率和信噪比。

使用IV型像差校正的单色光栅，单个凹面光栅将来自入口狭缝的光分散、准直并重新聚焦到出口狭缝上。通过光栅的简单旋转来获得波长扫描，这些光栅的凹槽间距由计算机优化，以产生具有较小值的高质量图像与Czerny-Turner单色仪（配有一个平面光栅、一个准直镜和一个聚焦镜）相比，IV型像差校正的单色仪光栅提供了更好的光收集效率和信噪比。

使用IV型像差校正单色器光栅，单个凹面光栅将来自入口狭缝的光分散、准直并重新聚焦到出口狭缝上。通过光栅的简单旋转获得波长扫描。这些光栅的凹槽间距是计算机优化的，以产生具有较小值的高质量图像像散和彗差，即使在大数值孔径下。与Czerny-Turner单色仪（配有一面平面光栅、一面准直镜和一面聚焦镜）相比，像差校正单色仪光栅提供了更好的光收集效率和信噪比。

使用IV型像差校正单色器光栅，单个凹面光栅将来自入口狭缝的光分散、准直并重新聚焦到出口狭缝上。通过光栅的简单旋转获得波长扫描。这些光栅的凹槽间距是计算机优化的，以产生具有较小值的高质量图像像散和彗差，即使在大数值孔径下。与Czerny-Turner单色仪（配有一面平面光栅、一面准直镜和一面聚焦镜）相比，像差校正单色仪光栅提供了更好的光收集效率和信噪比。

MSA-130单色仪的主要特点是它能够在加色散和减色散两种模式下工作。它是世界上先进能够提供两种模式而无需任何额外校准和校准的仪器。通过将选择器旋钮从“加法”位置手动切换到“减法”位置，或从“减法”位置手动切换到“加法”位置，即可切换加法和减法模式。

MSA-130单色仪的主要特点是它能够在加色散和减色散两种模式下工作。它是世界上先进能够提供两种模式而无需任何额外校准和校准的仪器。通过将选择器旋钮从“加法”位置手动切换到“减法”位置，或从“减法”位置手动切换到“加法”位置，即可切换加法和减法模式。

OL750是一种非常通用的光谱辐射测量系统，能够在计算机控制下对紫外线、可见光和红外线进行各种高精度的光辐射测量。OL 750的模块化方法，加上广泛的附件选择和强大的应用软件包，使用户能够根据其确切要求定制交钥匙系统，并确保未来的可扩展性。提供单（OL 750S）和双（OL 750D）光栅单色仪版本。基本系统，以及可选项目和附件的广泛选择，使OL 750能够测量整个200 nm至30 mm波长范围的全部或部分。凭借其可配置的光栅、阻挡滤光片和狭缝，OL 750可以在整个太阳光谱输出范围内设置。它还具有多种附件，用于测量反射率（漫反射和镜面反射分量），从而计算内部和外部量子效率（IQE，EQE）。甚至还有一个白色偏置附件，即白色光源，它允许电池的有效区域达到典型的工作能量水平，同时测量光谱响应。

一种多用途双光束分光光度计，可用于紫外、可见和近红外区域的吸光度和荧光测量。棱镜+光栅F/8单色仪的真正双光束吸收采集在整个UV/VIS区域使用光电倍增管，在整个NIR区域使用PBS探测器。支持扫描激发和发射测量。荧光检测在UV/VIS区域使用灵敏的光子计数装置，在NIR区域使用TE冷却的InGaAs。

Clarity VF充分利用了50年来采用集成腔的努力。该分光光度计的性能特点允许您在其自然或接近自然的状态下研究样品。使用钨灯和氘灯作为激发源，并使用具有灵敏的单光束光子计数检测的单光栅单色仪。

扫描数字Mini-Chrom单色仪（SDMC）包括一个整体步进电机，该电机可由校准驱动器（如Optometrics PCM-02）通过15针连接器进行控制。SDMC与Digital Mini-Chrom的相似之处在于，它包括一个用于可视波长读出的四位计数器和一个用于手动波长选择的刻度盘。所有Digital Mini-Chrom上的波长都可以选择并读取到0.2 nm。从型号01、02、03、04和05上的计数器直接以纳米（nm）为单位读取波长。对于近红外型号（06），四位计数器读数必须加倍，达到每格2nm。

扫描数字Mini-Chrom单色仪（SDMC）包括一个整体步进电机，该电机可由校准驱动器（如Optometrics PCM-02）通过15针连接器进行控制。SDMC与Digital Mini-Chrom的相似之处在于，它包括一个用于可视波长读出的四位计数器和一个用于手动波长选择的刻度盘。所有Digital Mini-Chrom上的波长都可以选择并读取到0.2 nm。从型号01、02、03、04和05上的计数器直接以纳米（nm）为单位读取波长。对于近红外型号（06），四位计数器读数必须加倍，达到每格2nm。