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测量范围: 0.51 - 1.02 mm
Capacitec的HPB薄型“侧视”钮扣式探头设计用于测量紧密或隐蔽接入位置的位移和零件尺寸变化,以观察接地目标。Button系列探头特别适合放置在非常小的位置,低至0.025英寸(0.65毫米),用于检查薄间隙。探针通常成对使用,以补偿零件未对准和量规定位。Capacitec可以用非接触式“电子测量仪”取代现有的机械接触测量方法,从而提高准确度、可重复性和精度。HPB按钮探头可在宽工作温度范围内进行从低温到1000°C的精确位移测量。Capacitec专门提供定制配置,包括将探头安装到客户的组件和固定装置中的服务。有关更多信息,请咨询Capacitec技术支持团队。
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测量范围: 1.27 - 1.91 mm
Capacitec的HPB薄型“侧视”钮扣式探头设计用于测量紧密或隐蔽接入位置的位移和零件尺寸变化,以观察接地目标。Button系列探头特别适合放置在非常小的位置,低至0.025英寸(0.65毫米),用于检查薄间隙。探针通常成对使用,以补偿零件未对准和量规定位。Capacitec可以用非接触式“电子测量仪”取代现有的机械接触测量方法,从而提高准确度、可重复性和精度。HPB按钮探头可在宽工作温度范围内进行从低温到1000°C的精确位移测量。Capacitec专门提供定制配置,包括将探头安装到客户的组件和固定装置中的服务。有关更多信息,请咨询Capacitec技术支持团队。
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化合物类型: Nitrogen, CO2 (Carbon Dioxide), CO (Carbon Monoxide) 检测技术: Spectrophotometry 最低检测率: 60ppt (parts per trillion)
差示电化学质谱(DEMS)是一种将电化学半电池实验与质谱相结合的分析技术。它允许对气态或挥发性电化学反应物、反应中间体和产物进行实时的原位质量分辨测定。Hiden Analytical为Hiden HPR-40 DSA质谱仪提供了一系列具有电解质/纳米孔取样接口的DEMS电池。对于需要现有电池或反应器的在线电化学质谱、原始设备制造商的应用,可提供一系列标准入口选项,以提供废气和溶解物质分析解决方案。可与HIDEN HPR-40 DEMS系统连接的电化学电池包括以下选定型号:Redoxme AB和EL-Cell®
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传感器类型: Other 检测方法: Direct Detection # 像素(宽度): 782 # 像素(高度): 582 全帧速率: 50fps
检测高能电磁辐射(UV、X射线)和粒子辐射的原理是在不同类型和厚度的荧光屏中转换为可见光。发射的光被传输到照相机的传感器。光纤板和锥体的使用允许高传输效率和视场对传感器尺寸的适应性。作为图像增强器和微光CCD相机的制造商,Proxivision在将光纤耦合到CCD/CMOS传感器以及荧光粉涂层方面拥有丰富的经验。根据客户要求,ProxiVision提供完整的成像探测器,包括荧光涂层、光纤耦合、摄像机和外壳。成像探测器基于各种商用相机,并通过Proxivision的涂层、光纤耦合和相机技术进行升级。由于客户的要求,Proxivision还提供涂层和耦合领域的服务。