保偏光纤是一种特殊的单模光纤，它可以保持光纤中光的偏振态。嵌入在包层中的应力元件在纤芯上施加机械应力，这导致纤芯中的双折射。嵌入的应力元件可以具有不同的设计。这些光纤用于具有光纤的网络中，用于泵浦激光器和显微应用。

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这些光源是紧凑型主振荡器-功率放大器（MOPA）设置它可以在一定的重复率和脉冲功率范围内直接调制。标准产品工作波长约1.5μm，重复频率>6kHz，脉冲功率10μJ/50ns（峰值200W）。可根据要求提供1050-1090 nm波长。客户特定的产品在两个波长窗口都有一个额外的功率放大器级，允许更高的重复率（高于50kHz）或峰值功率（2kW）。

FilmTek™2000 PAR-SE组合计量生产线是我们较先进的台式计量解决方案，具有业内较高的准确度、精度和多功能性。FilmTek™2000 PAR-SE的设计旨在满足从研发到生产的几乎所有先进薄膜测量应用的需求。FilmTek™2000 PAR-SE结合了光谱椭圆偏振法和DUV多角度偏振反射法，具有宽光谱范围，可满足较具挑战性的测量需求。SCI的专利抛物面镜技术可实现低至50µm的小光斑尺寸，非常适合直接测量产品晶圆和图案化薄膜。FilmTek™2000 PAR-SE结合了专利多角度差分偏振（MADP）和差分功率谱密度（DPSD）技术，利用多角度偏振光谱反射计独立测量薄膜厚度和折射率。通过独立测量折射率和厚度，FilmTek™2000 PAR-SE对薄膜（尤其是多层堆叠中的薄膜）的变化比依赖于传统椭圆偏振或反射测量技术的现有计量工具更加敏感。FilmTek™2000 PAR-SE是一个完全集成的软件包，配有先进的材料建模软件，即使是较严格的测量任务也能可靠和直观地完成。硬件和软件都可以轻松修改，以满足客户的独特需求。

FilmTek™2000 SE台式计量系统具有无与伦比的测量性能、多功能性和速度，适用于无图案的薄膜到厚膜应用。它非常适合学术和研发环境。FilmTek™2000 SE结合了光谱椭圆偏振法和DUV多角度偏振反射法，可同时测量薄膜厚度、折射率和消光系数。我们先进的旋转补偿器设计可在整个Δ（Δ）范围内实现精度和准确度，包括接近0°和180°。当无法在布鲁斯特条件附近进行测量时，这可以实现较佳性能，这对于硅或玻璃衬底上非常薄的薄膜的精确测量是必不可少的。数千个波长可在几秒钟内同时收集，集成的自动对焦功能消除了同类椭偏仪所需的手动样品对准的繁琐任务。FilmTek™2000 SE是一个完全集成的封装，配有直观的材料建模软件，即使是较苛刻的测量任务也能简单可靠地完成。FilmTek™软件包括完全用户可定制的样本映射功能，可快速生成任何测量参数的2D和3D数据图。除了用户定义的图案外，标准贴图图案还包括极坐标、X-Y、Rθ或线性。

FineSight拒绝了基于Czerny-Turner的设计，并采用了卓越的光具座。该系统在灵敏度和分辨率方面提供了更好的性能。简单地说，这是一个更好的系统。FineSight既坚固又可靠。FineSight在弱光源下的优异性能使其成为拉曼光谱的理想选择。其高分辨率是激光诱导击穿光谱（LIBS）的理想选择。

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Spark、Flame和Firestorm属于基于主振荡器功率放大器结构的高能和高重复率固体激光器家族。一个前置放大器和两级功率放大器在单个脉冲中提供高达50mJ的能量，从而产生具有独特参数的激光系统。

1英寸图像传感器覆盖了CMount的较佳图像质量FOV；传感器分辨率高达2000万像素，因此即使使用4倍和10倍显微镜物镜成像，也不会损失光学分辨率。FL-20BW基于Tucsen的SCMOS相机专业散热技术，可实现低至0.001E/pixel/s的暗电流水平，显著降低长时间曝光时的热像素噪声。

Spark、Flame和Firestorm属于基于主振荡器功率放大器结构的高能和高重复率固体激光器家族。一个前置放大器和两级功率放大器在单个脉冲中提供高达50mJ的能量，从而产生具有独特参数的激光系统。

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光转换的弗林特超快振荡器。

全石英流通比色皿是一种应用于光谱学的高精度比色皿。新技术能够将精确的内螺纹定位到石英玻璃中。试管现在可以非常容易和安全地直接连接到比色杯。只需将比色杯旋转90°，即可获得第二个路径长度-所有试管都保持拧紧到位。不再需要耗时更换比色杯。两种不同的路径长度对成本和应用具有有益的影响。此外，还可以测量每个光程长度的荧光，这是另一个好处。

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