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测量类型: Contaminant detection and analysis, Chemical identification, Other 最低电平检测: 1 - 1 ppm
与XUL系列一样,XRF光谱仪Fischerscope®X-Ray XAN®非常适合分析形状简单的样品。然而,XanSeries的一大优势在于其高质量的半导体探测器。X射线荧光(XRF)不仅可以测量涂层的厚度,还可以分析合金的成分(例如,G。铜)。XanSeries总共包括5台台式XRF光谱仪,涵盖了广泛的应用。XAN215具有高性价比的PIN检测器。它非常适合简单的涂层厚度任务,例如铁或Au/Ni/Cu上的锌。对于使用合金或贵金属的更复杂的应用,我们建议使用我们的带有硅漂移探测器的XRF设备(例如Xan220):由于其分辨率高得多,它可以可靠地区分金和铂。当您需要检测微量重金属和其他有害物质时,Xan250是您的解决方案。
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测量类型: Contaminant detection and analysis, Chemical identification, Other 最低电平检测: 1 - 1 ppm
FISCHERSCOPE®X光XUL®系列是每个电镀车间真正的基础设备。这些简单且经济实惠的能量色散X射线荧光XRF分析仪非常适合监测镀液成分,但在质量控制方面,它们也是不可或缺的帮手:坚固耐用,非常适合测量螺母和螺栓等批量生产零件上的电镀层。XUL/XULM系列中的所有XRF光谱仪操作简单直观。较大的样品可以用手简单地放置在测量室中;或者,对于较小的项目,如插头,仪器可以配备手动样品台。虽然测量设备很紧凑,但它们为您的试件提供了足够的空间-高达17厘米。如果您有几个不同的测量任务,FischerScope X射线XULM具有可更换的过滤器和准直器,因此您可以为所有应用创建较佳的测量条件。此外,XULM具有内置的微聚焦管,即使测量点很小,测量层很薄,也能提供精确的结果。
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分类:半导体激光器配件
FL500是驱动低功率激光二极管的理想选择。它的工作电压为3至12 V,因此与Li+电池工作兼容。它可以配置为两个完全独立的250mA驱动器或单个500mA驱动器。与A型或B型激光二极管兼容。FL500可在恒流(CC)模式下快速轻松地操作。对于简单的CCMODE操作,所需的元件只有电源、模拟控制电压、激光器和可选滤波电路。对于其他特性,包括用于恒定功率操作的限流和光电二极管反馈,FL500可与FL591评估板配合使用。
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激光类型: Continuous Wave (CW), Modulated 纤维类型: Multi-Mode 波长: 450nm 输出功率: 1mW 纤维芯直径: 19um
在FlexPoint®MVFiber激光系统中,带有控制电子设备的激光单元通过单模光纤连接到光学单元。因为电子设备可以与较小的光学单元分开集成,所以激光器也可以在空间有限的区域中使用。这种分离导致光学部件上的热效应减小,从而几乎完全防止了激光器位置的热漂移。它产生的散射光较少,并可防止边模,否则边模会对激光投影产生破坏性影响。激光源和光学头设计用于FC/PC连接器,可单独订购,为客户选择合适的系统提供了较大的灵活性。激光器有450 nm和660 nm两种,功率水平高达50 MW。其他波长或输出功率水平可根据要求提供。微处理器控制的电子设备用作激光驱动器,通过其串行接口可以对激光进行编程或读出。光学头可以配备有均匀线、具有高斯分布的线、点投影或DOE光学器件(平行线、点阵、圆等)。