• FISCHERSCOPE X-RAY XUL和XULM光谱仪 光谱分析仪
    美国
    分类:光谱分析仪
    测量类型: Contaminant detection and analysis, Chemical identification, Other 最低电平检测: 1 - 1 ppm

    FISCHERSCOPE®X光XUL®系列是每个电镀车间真正的基础设备。这些简单且经济实惠的能量色散X射线荧光XRF分析仪非常适合监测镀液成分,但在质量控制方面,它们也是不可或缺的帮手:坚固耐用,非常适合测量螺母和螺栓等批量生产零件上的电镀层。XUL/XULM系列中的所有XRF光谱仪操作简单直观。较大的样品可以用手简单地放置在测量室中;或者,对于较小的项目,如插头,仪器可以配备手动样品台。虽然测量设备很紧凑,但它们为您的试件提供了足够的空间-高达17厘米。如果您有几个不同的测量任务,FischerScope X射线XULM具有可更换的过滤器和准直器,因此您可以为所有应用创建较佳的测量条件。此外,XULM具有内置的微聚焦管,即使测量点很小,测量层很薄,也能提供精确的结果。

  • 五轴光学支架 - 5KOM 底座
    美国
    分类:底座
    安装材料: Custom 调整: Tip, Tilt, Piston, Vertical Translation, Horizontal Translation

    五轴光学支架包括:-带两个螺钉(螺距250µm(100tpi))的侧面调节双轴运动反射镜支架-双轴平移台,行程范围2mm,由两个螺钉驱动(螺距250µm(100tpi))-提供10毫米行程范围的变焦

  • 固定中性密度衰减器尾巴式 光纤衰减器
    加拿大
    分类:光纤衰减器
    厂商:OZ Optics
    通道数量: Single Channel 工作波长范围: 440 - 1625 nm 动态衰减范围: 30dB 反射损耗: 40dB

    OZ Optics系列扩展光束型中性密度固定衰减器是多模应用和衰减光纤不可用或不可用的应用的理想选择。当与多模光纤一起使用时,这些衰减器提供与模式无关的固定衰减。插入损耗将不取决于光如何射入光纤。与其他衰减器设计相比,这是一个显著的优点。衰减器由一组准直和聚焦光学器件以及包含滤波器的中央基板组成。可以订购插座式或猪尾式。扩展束设计允许比插塞式衰减器更高的功率处理。过滤器本身可以是永久性的,也可以是可拆卸的。这为实验提供了极大的灵活性。

  • 固定中性密度衰减器插座式 光纤衰减器
    加拿大
    分类:光纤衰减器
    厂商:OZ Optics
    通道数量: Single Channel 工作波长范围: 440 - 1625 nm 动态衰减范围: 30dB 反射损耗: 35dB

    OZ Optics系列扩展光束型中性密度固定衰减器是多模应用和衰减光纤不可用或不可用的应用的理想选择。当与多模光纤一起使用时,这些衰减器提供与模式无关的固定衰减。插入损耗将不取决于光如何射入光纤。与其他衰减器设计相比,这是一个显著的优点。衰减器由一组准直和聚焦光学器件以及包含滤波器的中央基板组成。可以订购插座式或猪尾式。扩展束设计允许比插塞式衰减器更高的功率处理。过滤器本身可以是永久性的,也可以是可拆卸的。这为实验提供了极大的灵活性。

  • Fizeau干涉仪IFV-60 干涉仪
    英国
    分类:干涉仪
    干涉仪配置: Fizeau Interferometer 光源: White Light 输出极化: Linear 有效值重复性: Not Specified 有效值精度: Not Specified

    阿姆斯特朗光学公司(Armstrong Optical)新推出的是一款经过客户验证的相位测量斐索干涉仪(Fizeau Interferometer),采用垂直(向下看)配置,孔径为60mm,IFV-60。如果需要,孔径也可以增加到100。它配有经过认证的Lambda/20传输平面和符合人体工程学设计的样品处理系统。使用我们的合作伙伴TriOptics Berlin提供的备受推崇、功能强大且直观的µShape专业控制、采集和分析软件,可以简单、精确地测量较大的平面和透射窗口。

  • Fizeau干涉仪IFV-300和IFH-300 干涉仪
    英国
    分类:干涉仪
    干涉仪配置: Fizeau Interferometer 光源: White Light 输出极化: Not Specified 有效值重复性: Not Specified 有效值精度: Not Specified

    Armstrong Optical较新推出了一系列经过客户验证的相位测量斐索干涉仪,包括垂直(向下看)和水平配置的300mm(12)孔径IFV-300和IFH-300。这两种配置都配有经过认证的Lambda/20传输平面和符合人体工程学设计的样品处理系统。使用我们的合作伙伴TriOptics Berlin提供的备受推崇、功能强大且直观的µShape专业控制、采集和分析软件,可以简单、精确地测量较大的平面和透射窗口。

  • FL-20 2000万像素冷却式摄像机 科学和工业相机
    中国大陆
    厂商:Tucsen Photonics
    传感器类型: CCD # 像素(宽度): 5472 # 像素(高度): 3648 像素大小: 2.40um 峰值量子效率: 84%

    与来自Tucsen的较好SCMOS相机技术一样,FL-20冷却相机在-15°C下工作,可确保长期可靠运行,显著降低暗电流累积导致的热像素,并获得更纯净的荧光背景图像。灵敏度是CCD的两倍以上,满足专业荧光成像的需求。

  • FL-20BW冷却式单色CMOS相机 科学和工业相机
    中国大陆
    厂商:Tucsen Photonics
    传感器类型: CMOS # 像素(宽度): 5472 # 像素(高度): 3648 像素大小: 2.40um 峰值量子效率: 84%

    1英寸图像传感器覆盖了CMount的较佳图像质量FOV;传感器分辨率高达2000万像素,因此即使使用4倍和10倍显微镜物镜成像,也不会损失光学分辨率。FL-20BW基于Tucsen的SCMOS相机专业散热技术,可实现低至0.001E/pixel/s的暗电流水平,显著降低长时间曝光时的热像素噪声。

  • FL-500激光二极管驱动器 半导体激光器配件

    FL500是驱动低功率激光二极管的理想选择。它的工作电压为3至12 V,因此与Li+电池工作兼容。它可以配置为两个完全独立的250 mA驱动器或单个500 mA驱动器。与A型或B型激光二极管兼容。FL500可在恒流(CC)模式下快速轻松地操作。对于简单的CC模式操作,所需的先进组件是电源、模拟控制电压、激光器和可选的滤波电路。FL500可与FL591评估板配合使用,以获得更多特性,包括用于恒定功率操作的限流和光电二极管反馈。

  • FL500激光二极管和VCSEL驱动器 半导体激光器配件

    FL500是驱动低功率激光二极管的理想选择。它的工作电压为3至12 V,因此与Li+电池工作兼容。它可以配置为两个完全独立的250mA驱动器或单个500mA驱动器。与A型或B型激光二极管兼容。FL500可在恒流(CC)模式下快速轻松地操作。对于简单的CCMODE操作,所需的元件只有电源、模拟控制电压、激光器和可选滤波电路。对于其他特性,包括用于恒定功率操作的限流和光电二极管反馈,FL500可与FL591评估板配合使用。

  • 火焰20超高能千兆二极管泵浦激光器 激光器模块和系统
    中心波长: 1064nm 重复频率: 0.001 - 0.5 kHz 脉冲能源: 20mJ 脉冲持续时间: 1500000fs 极化: Vertical, Horizontal

    Spark、Flame和Firestorm属于基于主振荡器功率放大器结构的高能和高重复率固体激光器家族。一个前置放大器和两级功率放大器在单个脉冲中提供高达50mJ的能量,从而产生具有独特参数的激光系统。

  • 火焰50超高能千里镜二极管泵浦激光器 激光器模块和系统
    中心波长: 1064nm 重复频率: 0.001 - 0.5 kHz 脉冲能源: 50mJ 脉冲持续时间: 1500000fs 极化: Vertical, Horizontal

    Spark、Flame和Firestorm属于基于主振荡器功率放大器结构的高能和高重复率固体激光器家族。一个前置放大器和两级功率放大器在单个脉冲中提供高达50mJ的能量,从而产生具有独特参数的激光系统。

  • 平场和成像光栅 523 00 010 衍射光学元件
    美国
    分散: 8nm/mm 波长范围: 200 - 400 nm 频谱长度: 25mm F/Number: 3.2 沟槽密度: 600l/mm

    IV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上,使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的,并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正,这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时,通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上,并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散,因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。

  • 平场和成像光栅 523 00 020 衍射光学元件
    美国
    分散: 16nm/mm 波长范围: 400 - 800 nm 频谱长度: 25mm F/Number: 3.2 沟槽密度: 300l/mm

    IV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上,使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的,并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正,这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时,通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上,并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散,因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。

  • 平场和成像光栅 523 00 030 衍射光学元件
    美国
    分散: 24nm/mm 波长范围: 200 - 800 nm 频谱长度: 25mm F/Number: 3.2 沟槽密度: 200l/mm

    IV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上,使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的,并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正,这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时,通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上,并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散,因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。

  • 平场和成像光栅 523 00 040 衍射光学元件
    美国
    分散: 36nm/mm 波长范围: 300 - 1170 nm 频谱长度: 25mm F/Number: 3.2 沟槽密度: 138l/mm

    IV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上,使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的,并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正,这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时,通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上,并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散,因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。

  • 平场和成像光栅 523 00 050 衍射光学元件
    美国
    分散: 40nm/mm 波长范围: 200 - 1200 nm 频谱长度: 25mm F/Number: 3.2 沟槽密度: 120l/mm

    IV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上,使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的,并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正,这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时,通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上,并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散,因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。

  • 平场和成像光栅 523 00 060 衍射光学元件
    美国
    分散: 48nm/mm 波长范围: 200 - 1400 nm 频谱长度: 25mm F/Number: 3.2 沟槽密度: 100l/mm

    IV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上,使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的,并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正,这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时,通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上,并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散,因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。

  • 平场和成像光栅 523 00 080 衍射光学元件
    美国
    分散: 4nm/mm 波长范围: 300 - 400 nm 频谱长度: 25mm F/Number: 3.2 沟槽密度: 1200l/mm

    IV型像差校正平场和成像光栅被设计为将光谱聚焦到平面表面上,使其非常适合与线性或2-射线探测器一起使用。这些光栅由既不等间距也不平行的凹槽制成,并经过计算机优化,以在探测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正,这些IV型像差校正了平场成像。与传统的I型罗兰圆凹面光栅相比,该光栅提供了更好的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的面探测器时,通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上,并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散,因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。

  • 平场和成像光栅 523 00 150 衍射光学元件
    美国
    分散: 67.4nm/mm 波长范围: 1600 - 2200 nm 频谱长度: 8.9mm F/Number: 2 沟槽密度: 130l/mm

    IV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上,使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的,并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正,这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时,通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上,并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散,因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。