高能激光器需要较好的反射镜。SPAWR的无涂层铜镜为中波和长波红外激光器提供了较高的质量和表面损伤阈值。这些反射镜上的高反射率涂层通常是不需要的，然而，它们可作为真空沉积保护的银涂层或电化学沉积的硬金涂层获得。

高能激光器需要较好的反射镜。SPAWR的无涂层铜镜为中波和长波红外激光器提供了较高的质量和表面损伤阈值。这些反射镜上的高反射率涂层通常是不需要的，然而，它们可作为真空沉积保护的银涂层或电化学沉积的硬金涂层获得。

高能激光器需要较好的反射镜。SPAWR的无涂层铜镜为中波和长波红外激光器提供了较高的质量和表面损伤阈值。这些反射镜上的高反射率涂层通常是不需要的，然而，它们可作为真空沉积保护的银涂层或电化学沉积的硬金涂层获得。

CoroCam 6D是CoroCam日盲UVC成像系统的再开发，重点是成本通过创新设计减少。通过使用新设计的日盲过滤包和专门开发的低噪声、高灵敏度探测器，提高了灵敏度。增加了现代化的电子设备，以减少重量、系统噪音和尺寸。CoroCam 6D可以在工厂安装一个可选的电动模块，该模块允许相机在日盲（SB）或非日盲（NSB）模式下运行。NSB模式将SB滤光片从光路中移除，并允许更多的紫外光到达探测器——这提高了相机的灵敏度。在NSB模式下，CoroCam 6D只能在夜间或室内使用。

Cr~（4+）：YAG作为一种新型的饱和吸收材料，是一种非常适合于被动调Q的Nd：YAG、Nd：YVO_4、Nd：YLF或其他Nd、Yb掺杂的激光器（激射波长为1.0~1.2μm）的优良晶体。Cr4+：YAG可以满足可靠、简单、紧凑和有效的激光系统的要求，例如测距仪和军事系统。Caston现在提供大量具有高光学质量的Cr4+：YAG光盘，初始透射率从1%到99%，直径从2毫米到25毫米，厚度从0.2毫米到10毫米。我们还可以提供φ2~10mm和长达80mm的Cr4+：YAG棒作为可调谐激光器主机。

质量保证和质量控制法规，如ISO 9000、GLP、GMP和药典，要求公司验证使用中的任何分光光度计是否始终在高水平上运行。Hellma Analytics认证的标准物质可用于测试以下参数：波长精度、光度精度、杂散光和紫外/可见分光光度计的光谱分辨率。

质量保证和质量控制法规，如ISO 9000、GLP、GMP和药典，要求公司验证使用中的任何分光光度计是否始终在高水平上运行。Hellma Analytics认证的标准物质可用于轻松有效地测试以下参数：波长精度、光度精度、杂散光和UV/VIS分光光度计的光谱分辨率。

质量保证和质量控制法规，如ISO 9000、GLP、GMP和药典，要求公司验证使用中的任何分光光度计是否始终在高水平上运行。Hellma Analytics认证的标准物质可用于轻松有效地测试以下参数：波长精度、光度精度、杂散光和UV/VIS分光光度计的光谱分辨率。

质量保证和质量控制法规，如ISO 9000、GLP、GMP和药典，要求公司验证使用中的任何分光光度计是否始终处于高水平。HELLMA Analytics认证的标准物质可用于轻松有效地测试以下参数：波长精度、光度精度、杂散光和紫外/可见分光光度计的光谱分辨率。

质量保证和质量控制法规，如ISO 9000、GLP、GMP和药典，要求公司验证使用中的任何分光光度计是否始终处于高水平。HELLMA Analytics认证的标准物质可用于轻松有效地测试以下参数：波长精度、光度精度、杂散光和紫外/可见分光光度计的光谱分辨率。

质量保证和质量控制法规，如ISO 9000、GLP、GMP和药典，要求公司验证使用中的任何分光光度计是否始终在高水平上运行。HELLMA Analytics认证的标准物质可用于轻松有效地测试以下参数：波长准确度、光度准确度、杂散光和紫外/可见分光光度计的光谱分辨率。

质量保证和质量控制法规，如ISO 9000、GLP、GMP和药典，要求公司验证使用中的任何分光光度计是否始终在高水平上运行。Hellma Analytics认证的标准物质可用于测试以下参数：波长精度、光度精度、杂散光和紫外/可见分光光度计的光谱分辨率。

CropScan 3000B近红外透射分析仪设计用于测量小麦、大麦、油菜、高粱、燕麦、小黑麦、大豆、玉米、大米、豌豆、豆类等全谷物中的蛋白质、水分、淀粉、纤维和油。内置的触摸屏电脑提供了一种测量各种谷物样品的方法，而且还增加了有关谷物的存储和质量信息，包括：测试重量、筛选、保留、品种、等级、吨位、存储位置。CropScan 3000B使用倒出测量池，该测量池具有针对每种谷物类型的自动路径长度选择。选择产品后，CropScan 3000B会调整测量单元的路径长度，以提供较佳扫描。CropScan 3000B可以连接到第二个屏幕，其中CropNet谷物数据管理软件与CR3000B操作软件并行运行。地磅监控器可通过USB端口和电缆连接到CR3000B，以便自动获取负载重量。或者，可以将条形码阅读器和电子秤连接到CR3000B USB端口，以记录现场试验测试中使用的袋子重量和样品ID。CropNet软件将数据发布到互联网上，可以使用智能手机、平板电脑或个人电脑远程查看。

交叉极化波（XPW）的产生是一个非线性三阶过程，在此过程中基波和产生的波具有相同的频率。然而，所产生的波与泵浦波偏振垂直偏振。在XPW产生过程中，相位匹配发生在大带宽上。这意味着基波和XPW具有相同的相速和群速。交叉极化波（XPW）的产生过程由晶体的三阶非线性和张量的各向异性驱动。用于交叉偏振波（XPW）产生的典型光学材料是具有Z（-#91；001-#93；）或全息（-#91；011-#93；）晶体取向的氟化钡（BaF2）晶体。理论预测，当使用-#91；011-#93；-切割BaF2晶体时，较大XPW能量转换效率约为35%，伴随的脉冲缩短因子为√3，对应于纯三阶非线性过程。

交叉极化波（XPW）的产生是一个三阶非线性过程，在这个过程中，基波和产生的波具有相同的频率。然而，所产生的波与泵浦波偏振垂直偏振。在XPW产生过程中，相位匹配发生在大带宽上。这意味着基波和XPW具有相同的相速度和群速度。交叉偏振波（XPW）的产生过程是由晶体的三阶非线性和张量的各向异性驱动的。用于交叉偏振波（XPW）产生的典型光学材料是具有Z（-#91；001-#93；）或全息（-#91；011-#93；）晶体取向的氟化钡（BaF2）晶体。理论预测，当使用-#91；011-#93；-切割BaF2晶体时，较大XPW能量转换效率约为35%，伴随的脉冲缩短因子为√3，对应于纯三阶非线性过程。

交叉极化波（XPW）的产生是一个非线性的三阶过程，在此过程中基波和产生的波具有相同的频率。然而，所产生的波与泵浦波偏振垂直偏振。在XPW产生过程中，相位匹配发生在大带宽上。这意味着基波和XPW具有相同的相速和群速。交叉极化波（XPW）的产生过程由晶体的三阶非线性和张量的各向异性驱动。用于交叉偏振波（XPW）产生的典型光学材料是具有Z（-#91；001-#93；）或全息（-#91；011-#93；）晶体取向的氟化钡（BaF2）晶体。理论预测，当使用-#91；011-#93；-切割BaF2晶体时，较大XPW能量转换效率约为35%，伴随的脉冲缩短因子为√3，对应于纯三阶非线性过程。

Crylas提供被动调Q激光系统（DPSS），发射波长为213nm、266nm、355nm、532nm和1064nm，具有出色的光束质量。数千台被动调Q系列FTSS 355-50激光器已供应并投入工业运行超过7年。

Crylas提供被动调Q激光系统（DPSS），发射波长为213 nm、266 nm、355 nm、532 nm和1064 nm，具有出色的光束质量。数千台被动调Q系列FTSS 355-50激光器已供应并投入工业运行超过7年。

发射213 nm、266 nm、355 nm、532 nm和1064 nm波长的高质量被动调Q脉冲激光系统，用于OEM和科学研究。应用包括生物技术、分析、成像、光谱学、传感器系统、微加工和激光雷达。产品组合包括被动调Q、染料和DUV CW激光器。

Crylas提供被动调Q激光系统（DPSS），发射波长为213nm、266nm、355nm、532nm和1064nm，具有出色的光束质量。数千台被动调Q系列FTSS 355-50激光器已供应并投入工业运行超过7年。