IV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上，使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的，并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正，这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时，通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上，并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散，因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。

IV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上，使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的，并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正，这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时，通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上，并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散，因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。

IV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上，使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的，并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正，这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时，通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上，并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散，因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。

IV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上，使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的，并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正，这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时，通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上，并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散，因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。

IV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上，使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的，并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正，这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时，通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上，并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散，因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。

IV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上，使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的，并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正，这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时，通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上，并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散，因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。

IV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上，使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的，并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正，这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时，通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上，并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散，因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。

IV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上，使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的，并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正，这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时，通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上，并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散，因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。

IV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上，使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的，并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正，这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时，通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上，并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散，因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。

IV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上，使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的，并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正，这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时，通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上，并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散，因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。

IV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上，使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的，并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正，这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时，通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上，并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散，因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。

FLD-mini是一款微型一体化闪光灯驱动器，专为驱动闪光灯泵浦Nd：YAG等固态激光器而设计。它在闪光灯上形成准矩形脉冲（使用存储在内部电容器组中的能量），并在脉冲之间的间隔期间提供预燃电流。模块包括IGBT及其驱动器、保护电路、预燃和触发电路、放电电阻和控制器。它还包含一个用于主动冷却的风扇。可能有两种不同的操作模式：内部同步模式，闪光灯工作频率和脉冲持续时间以及输出电压水平可由用户通过RS-232（可根据要求提供RS-485）在工作范围内进行编程；外部同步模式，脉冲持续时间以及输出电压电平可由用户通过RS-232编程，但外部脉冲发生器可设置闪光灯的工作频率。

HECHO采用进口高透过率塑料光纤、Schott玻璃纤维和石英光纤作为导光材料，当需要狭窄或特定场合需要高强度冷光源或特定光谱时，单根柔性光纤束可满足客户特定需求。根据光谱范围和要求选择不同的纤维材料。光谱为380nm~780nm的塑料光纤，工作温度在100度左右，光谱为400~1400nm的玻璃光纤，长期工作温度可达350度；石英光纤可提供190~2500nm的光谱范围。可根据客户要求提供OEM和ODM服务，多种规格可选，光纤保护管可提供不锈钢软管，包塑不锈钢软管，金属软管可定型，塑料软管满足使用效果。

FLIR-100-A设计用于在全黑暗或低照度条件下使用夜视装置和夜视仪时照亮光场。使用夜视仪时，高功率（高达100mW*）和可调节的光束发散度可确保出色的视野范围。

从原材料到组件制造，从特定的技术知识到认证，Hellma提供了一系列独特的产品和技术，用于在光学分析领域收集准确可靠的结果。广泛的工程实力、咨询技能和服务补充了我们的工作。虽然我们全面的产品组合意味着我们拥有触手可及的合适产品，以满足各种需求，但我们当然也能够根据您的需求量身定制解决方案。

Nanoptics公司生产业内较明亮、较柔韧、较抗裂的荧光光纤。我们提供各种颜色和直径的纤维选择。光纤可以在线轴上提供，也可以切割成定制长度。我们的光纤可以提供标准米长度，也可以在线轴上未切割，还可以订购定制规格。这包括从1“到60”的切割长度，从0.004“到0.160”的直径，以及特殊染料。当使用从半英寸到大于60英寸的长度时，我们的鲜艳色彩针对亮度进行了优化。

Nanoptics公司生产业内较明亮、较柔韧、较抗裂的荧光光纤。我们提供各种颜色和直径的纤维选择。光纤可以在线轴上提供，也可以切割成定制长度。我们的光纤可以提供标准米长度，也可以在线轴上未切割，还可以订购定制规格。这包括从1“到60”的切割长度，从0.004“到0.160”的直径，以及特殊染料。当使用从半英寸到大于60英寸的长度时，我们的鲜艳色彩针对亮度进行了优化。

Nanoptics公司生产业内较明亮、较柔韧、较抗裂的荧光光纤。我们提供各种颜色和直径的纤维选择。光纤可以在线轴上提供，也可以切割成定制长度。我们的光纤可以提供标准米长度，也可以在线轴上未切割，还可以订购定制规格。这包括从1“到60”的切割长度，从0.004“到0.160”的直径，以及特殊染料。当使用从半英寸到大于60英寸的长度时，我们的鲜艳色彩针对亮度进行了优化。

HORIBA Fluorolog-QM系列模块化研究级荧光分光光度计是世界著名的HORIBA Fluorolog的第四代产品，由SPEX Industries于1975年首次推出。FluorologQM代表了HORIBA数十年来在开发和制造较高水平的荧光分光光度计性能和多功能性方面的行业领先经验的结晶。Fluroolog-QM具有精致、光学完美、全反射光学器件，结合多种光源和检测器选项以及样品处理附件。提供任何荧光分光光度计的较高灵敏度和较大的多功能性。Fluorolog-QM可以进行增强，以适应广泛的发光实验，并具有业界较广泛的可选附件列表，以扩展功能和性能，满足所有较苛刻的研究实验室的实验需求。当您购买Fluorolog-QM时，所有这些增强功能和附件都可以在以后随着您的需求变化或资金到位而添加到您的系统中。Fluorolog在世界各地的大学和研究实验室拥有数千名员工，并发表了数万篇文章，已证明自己是较苛刻的稳态、时间分辨、TCSPC、PLQY和NIR研究的较佳选择。

在盗窃、袭击、抢劫、抢劫、杀人和其他犯罪中，犯罪现场的鞋印作为法医证据是较有价值的，在这些犯罪中，个人在场的证据是有罪的。它们为犯罪现场官员和调查人员提供了有价值的信息，包括有关嫌疑人人数、他们经过现场的路线、他们参与犯罪的情况以及他们的鞋型和尺码估计。印象可以揭示入口和出口点，通常会导致其他证据。鞋印检测灯（OR-GZJ40）提供低角度照明和倾斜照明，使鞋印、纤维和其他痕迹可见。