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干涉仪配置: Not Specified 光源: White Light 输出极化: Not Specified 有效值重复性: <0.01 waves 有效值精度: <0.01 waves
新的M,F&A Mark IV全光纤多普勒速度干涉仪系统在测量和记录瞬时速度与时间历程方面提供了增强的能力。两个版本的Mark IV系统现已投入使用。较初的Mark IV系统已在世界各地使用,并在目标表面具有合理反射的情况下提供了出色的结果。在较新版本的Mark IV中,我们升级到了新的超窄线宽激光器,以提高速度分辨率。这些系统还采用了较新的发展,如新的镍金属氢化物电源和充电系统。新的前面板布置包括一个“平衡”旋钮,可轻松均衡“正弦”和“余弦”信号幅度,以及一个数字电池电压监测器。新系统内置在1U机架安装机箱中,如果需要,可以在以后通过添加EDFA轻松升级到Mark IV-3000。Mark IV-3000采用基于相同超窄线宽种子激光器的全新系统架构,但该版本集成了+30 dB的EDFA将来自边缘目标表面的相对较弱的回光提升到在检测端给出高信噪比的水平。反射回光的这种提升相当于在目标上施加3000mW的激光功率。
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单色仪类型: Czerny-Turner 有效焦距: 1000mm 衍射光栅: 1200lines/mm 光谱范围: 140 - 1200 nm 线性色散: 0.8nm/mm
FHR640和FHR1000是自动Czerny-Turner光谱仪,焦距分别为0.64米(FHR640)和1米(FHR1000)。FHR系列专为需要高精度和即时结果的研究人员而设计,其多功能性允许在宽光谱范围内使用,从UV范围(140 nm)扩展到IR(取决于所使用的光栅和探测器)。FHR被设计为较小化到达焦平面的任何杂散光。光学腔包括黑化挡板和掩模以捕获不需要的光。此外,FHR的光学设计没有再衍射光(再衍射光是杂散光的来源,涉及光学元件本身的多次反射,因此很难屏蔽)。
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单色仪类型: Czerny-Turner 有效焦距: 640mm 衍射光栅: 1200lines/mm 光谱范围: 140 - 1200 nm 线性色散: 1.2nm/mm
FHR640和FHR1000是自动Czerny-Turner光谱仪,焦距分别为0.64米(FHR640)和1米(FHR1000)。FHR系列专为需要高精度和即时结果的研究人员而设计,其多功能性允许在宽光谱范围内使用,从UV范围(140 nm)扩展到IR(取决于所使用的光栅和探测器)。FHR被设计为较小化到达焦平面的任何杂散光。光学腔包括黑化挡板和掩模以捕获不需要的光。此外,FHR的光学设计没有再衍射光(再衍射光是杂散光的来源,涉及光学元件本身的多次反射,因此很难屏蔽)。
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激光类型: Fiber 激光功率: 4000W 激光波长: 1064nm 最大夹具直径: mm, 25mm to 50mm mm 应用: Metal Tubes, Plastic Tubes, Square Tubes, Round Tubes
Platino®光纤2D激光切割机结合了较先进的高效生态光纤激光技术,以及Platino®平台经过验证的可靠性和灵活性。Platino®光纤可用于切割各种材料。光纤激光器比其他激光源更有效地切割高反射材料,如铝合金、铜、黄铜。不同的厚度(高达20毫米的低碳钢)可以高效和高质量地切割。特别是对于薄的和中等规格的金属板,生产率提高了。由于设置时间为零,机器可以从切割平板金属转变为加工管材和型材。
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激光类型: Fiber 激光功率: 15000W 工作区宽度: 2.5cm 工作区长度: 2.5cm 应用: Stainless Steel, Aluminum, Carbon Steel, Plastic, Glass, Ceramic, Plexiglass, Acrylic
Laser Mechanisms的FiberCut®HR加工头为高达15 kW的平板系统提供高端性能。FiberCut®HR采用自动可编程聚焦,行程为25 mm,是一种全密封净化设计,可较大限度地减少任何内部污染造成的停机时间。FiberCut®HR采用坚固耐用的直接冷却反射光学器件,可较大限度地减少焦点偏移。此外,密封的检修门可防止在维修盖玻片时受到污染。
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材料: BK7 尺寸: 35mm 尺寸: 15mm 尺寸: 10mm 安装: Unmounted
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d=parent.frames[n.substring(p+1)].document;n=n.子串(0,p);}
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如果((X=mm_findobj(a[I])))!=null){document.mm_sr[J++]=X;如果(!X.osrc)X.osrc=X.SRC;X.SRC=A[I+2];}
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// ]]>道威棱镜是由H.W.Dove发明的一种棱镜。它类似于普通直角棱镜的一半,其中平行于斜边面进入的光线在该面发生内部反射,并平行于其入射方向出射。其中一条入射光线沿着其入射方向的延长线射出,如果棱镜绕该光线旋转某个角度,则图像会旋转该角度的两倍。道威棱镜只能用于平行光。 -
波长范围: 190 - 1700 nm 决议: 0.3-2nm 最短扫描时间: 0.2sec
FilmTek™2000 PAR是一种低成本解决方案,用于开发和生产环境中的高通量、全自动图案化晶圆映射。该系统将获得专利的DUV-NIR反射计与晶圆自动加载器和模式识别相结合,在此价位上提供无与伦比的计量性能。FilmTek™2000 PAR采用SCI的专利抛物面镜技术,可测量从深紫外到近红外的波长,光斑尺寸小至13µm。该系统配备先进的材料建模软件,即使是较严格的测量任务也能实现可靠和直观。FilmTek™软件包括完全用户可定制的晶圆映射功能,可快速生成任何测量参数的2D和3D数据图。除了用户定义的模式外,标准映射模式还包括极坐标、X-Y、Rθ或线性。FilmTek™2000 PAR将SCI的广义材料模型与先进的全局优化算法相结合,可在每个站点1秒内同时确定多个薄膜特性。
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波长范围: 190 - 1700 nm 决议: 0.3-2nm 最短扫描时间: 1sec
FilmTek™2000 PAR-SE组合计量生产线是我们较先进的台式计量解决方案,具有业内较高的准确度、精度和多功能性。FilmTek™2000 PAR-SE的设计旨在满足从研发到生产的几乎所有先进薄膜测量应用的需求。FilmTek™2000 PAR-SE结合了光谱椭圆偏振法和DUV多角度偏振反射法,具有宽光谱范围,可满足较具挑战性的测量需求。SCI的专利抛物面镜技术可实现低至50µm的小光斑尺寸,非常适合直接测量产品晶圆和图案化薄膜。FilmTek™2000 PAR-SE结合了专利多角度差分偏振(MADP)和差分功率谱密度(DPSD)技术,利用多角度偏振光谱反射计独立测量薄膜厚度和折射率。通过独立测量折射率和厚度,FilmTek™2000 PAR-SE对薄膜(尤其是多层堆叠中的薄膜)的变化比依赖于传统椭圆偏振或反射测量技术的现有计量工具更加敏感。FilmTek™2000 PAR-SE是一个完全集成的软件包,配有先进的材料建模软件,即使是较严格的测量任务也能可靠和直观地完成。硬件和软件都可以轻松修改,以满足客户的独特需求。
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波长范围: 240 - 1700 nm 决议: 0.3nm 最短扫描时间: 2sec
FilmTek™2000 SE台式计量系统具有无与伦比的测量性能、多功能性和速度,适用于无图案的薄膜到厚膜应用。它非常适合学术和研发环境。FilmTek™2000 SE结合了光谱椭圆偏振法和DUV多角度偏振反射法,可同时测量薄膜厚度、折射率和消光系数。我们先进的旋转补偿器设计可在整个Δ(Δ)范围内实现精度和准确度,包括接近0°和180°。当无法在布鲁斯特条件附近进行测量时,这可以实现较佳性能,这对于硅或玻璃衬底上非常薄的薄膜的精确测量是必不可少的。数千个波长可在几秒钟内同时收集,集成的自动对焦功能消除了同类椭偏仪所需的手动样品对准的繁琐任务。FilmTek™2000 SE是一个完全集成的封装,配有直观的材料建模软件,即使是较苛刻的测量任务也能简单可靠地完成。FilmTek™软件包括完全用户可定制的样本映射功能,可快速生成任何测量参数的2D和3D数据图。除了用户定义的图案外,标准贴图图案还包括极坐标、X-Y、Rθ或线性。
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FIR 分子: CH3OH 激光波长: 118.8um 平均功率: 150mW
FIRL100型的CO2泵浦激光器和FIR激光器都安装在一个集成结构中,该结构将高效的光泵浦FIR系统结合到一个紧凑的单元中。激光器和耦合光学器件安装在5巴殷钢杆框架内,具有出色的热稳定性和机械稳定性。CO2部分在9.1μm和10.9μm之间提供80条线,并具有在较强线上提供超过50W的流动气体单放电管。模式性能(M2<1.25)通过管的内部轮廓和高质量光学的使用来保证。谐振器设计基于具有衍射光栅、两个ZnSe Brewster窗口和压电陶瓷安装的ZnSe输出耦合器的成熟PL5激光器。CO2激光器输出通过两个转向镜和ZnSe聚焦透镜耦合到FIR激光器中。通过精密的双位置滑动反射镜机构,可以访问用于红外实验的CO2辐射束诊断。