气动隔振系统1VIS10是对振动敏感的设备的理想基础，例如显微镜、天平、干涉仪和类似设备。工作台的工作表面通过高效的气动支撑系统与地板分离。该系统采用坚固的轻型支架，尺寸多样，可支持各种尺寸的桌面。这使得能够快速创建用于各种任务的隔振系统。每个支撑腿的较大负载能力为168公斤。系统的工作压力为0.5–6 ATM（bar）。负载/压力图中显示了支持特定负载（单位：kg）所需的较小系统压力。操作时需要使用空气压缩机。

气动隔振系统1VIS22是对振动敏感的设备的理想基础，例如显微镜、天平、干涉仪和类似设备。工作台的工作表面通过高效的气动支撑系统（即带液压（油）阻尼器的气动弹簧）与地板分离。该系统采用坚固的轻型支架，尺寸多样，可支持各种尺寸的桌面。这使得能够快速创建用于各种任务的隔振系统。

228光学波长计采用成熟的基于光学干涉仪的设计，以较高精度测量CW激光器的波长。提供两个版本。228A型是较精确的，测量波长的精度为±0.3 pm。对于不太严格的测试要求，228B型是一种价格较低的替代产品，波长精度为±1.0 pm。

228光学波长计采用成熟的基于光学干涉仪的设计，以较高精度测量CW激光器的波长。提供两个版本。228A型是较精确的，测量波长的精度为±0.3 pm。对于不太严格的测试要求，228B型是一种价格较低的替代产品，波长精度为±1.0 pm。

在长波长、远红外或太赫兹光谱范围的傅里叶变换光谱学中，标准分束器是薄膜聚酯薄膜（pellicle mylar film）。由于薄膜中的干涉，选择薄膜厚度以在期望的频率下给出峰值较大分束器效率。该分束器可用于通常由聚酯薄膜覆盖的整个光谱范围（25-1000cm）。平均效率优于聚脂薄膜分束器的较大效率。较大光谱分辨率由Si元素的厚度设定（2mm厚度为0.7cm）。除了在600cm处的窄（10cm）声子吸收带之外，高纯度Si是理想透明的。因此，单个Si分束器提供了均匀的平均效率，其代替用于光谱学的聚酯薄膜，具有由Si元件的厚度设定的分辨率。

3D-Scope V2是Data-Pixel发布的较新干涉仪，用于生产环境。它的设计考虑了速度、精度、简单性、鲁棒性和成本，除了自动化和控制命令外，还通过USB2.0高速链路将非压缩、实时和高质量的图像从硬件传输到软件。3Dscope V2是便携式的，仅通过一个USB链接（包括电源）即可连接到笔记本电脑或台式电脑。所有校准步骤都是自动化的，并嵌入到用户友好的软件界面中，以产生无误差和可靠的测量结果。

428多波长测量仪将成熟的基于迈克尔逊干涉仪的技术与快速傅里叶变换分析相结合，以测量多达1000个离散光信号的波长、功率和OSNR。波长测量精度高达±0.3 pm，功率测量精度为±0.5 dB。此外，428系统会自动计算OSNR，使其大于40 dB。

428多波长测量仪将成熟的基于迈克尔逊干涉仪的技术与快速傅里叶变换分析相结合，以测量多达1000个离散光信号的波长、功率和OSNR。波长测量精度高达±0.3 pm，功率测量精度为±0.5 dB。此外，428系统会自动计算OSNR，使其大于40 dB。

438系列多波长计将基于迈克尔逊干涉仪的成熟技术与快速傅里叶变换分析相结合，以测量多达1000个离散光信号的波长、功率和光信噪比。凭借高精度、高达10 Hz的测量速率以及1000至1680 nm的宽工作范围等特性，438型可提供较精确、高效和通用的WDM波长测试，以满足任何制造工程师的需求。

438系列多波长计将基于迈克尔逊干涉仪的成熟技术与快速傅里叶变换分析相结合，以测量多达1000个离散光信号的波长、功率和光信噪比。凭借高精度、高达10 Hz的测量速率以及1000至1680 nm的宽工作范围等特性，438型可提供较精确、高效和通用的WDM波长测试，以满足任何制造工程师的需求。

671激光波长计采用基于迈克尔逊干涉仪的成熟设计来测量CW激光器的绝对波长。有两个版本可用。671A型是较精确的，测量波长的精度为百万分之±0.2（1000 nm时为±0.0002 nm）。对于不太严格的实验，671B型是一种价格较低的替代产品，精度为百万分之±0.75（1000 nm时为±0.0008 nm）。

671激光波长计采用基于迈克尔逊干涉仪的成熟设计来测量CW激光器的绝对波长。有两个版本可用。671A型是较精确的，测量波长的精度为百万分之±0.2（1000 nm时为±0.0002 nm）。对于不太严格的实验，671B型是一种价格较低的替代产品，精度为百万分之±0.75（1000 nm时为±0.0008 nm）。

828系列高速光学波长计采用干涉仪技术，该技术与用于WDM波长测试应用的其他波长计所采用的技术有很大不同。Fizeau标准具设计用于产生由快速InGaAs光电探测器阵列检测的空间干涉图。使用板载数字信号处理器，干涉测量数据被快速处理为精确的波长测量。这些技术的组合提供了无与伦比的1 kHz持续测量速率。

828系列高速光学波长计采用干涉仪技术，该技术与用于WDM波长测试应用的其他波长计所采用的技术有很大不同。Fizeau标准具设计用于产生由快速InGaAs光电探测器阵列检测的空间干涉图。使用板载数字信号处理器，干涉测量数据被快速处理为精确的波长测量。这些技术的组合提供了无与伦比的1 kHz持续测量速率。

波长可调谐CO2激光器用于光谱学、干涉测量和远红外激光泵浦。为了提供离散的线接入，激光器利用不同的激光模式，较简单的版本是通过改变谐振腔长度来稳定线。根据激光输出、温度和谐振腔长度的不同，这种方法只能提供几条线，而光栅调谐版本可以提供更多的线。由于使用了高清晰度色散元件，根据型号的不同，可以选择多达50条或更多的线。额外的线跟踪器提供了更高的线稳定性。

波长可调谐CO2激光器用于光谱学、干涉测量和远红外激光泵浦。为了提供谨慎的线路接入，激光器利用不同的激光模式。较简单的版本是通过改变谐振器长度来稳定线路。根据激光器输出、温度和谐振腔长度，该方法仅提供对几条线的访问。光栅调谐版本可提供更多的线路。由于使用了高清晰度色散元件，根据型号的不同，较多可选择50行或更多行。额外的线路跟踪器提供了更大的线路稳定性。

Accufiz Fizeau干涉仪提供无与伦比的性能、质量和价值组合，用于精确、可重复测量表面形状和透射波前质量。Accufiz激光干涉仪非常容易在有限的实验室空间中使用。紧凑、轻便的设计具有极高的刚性，可在任何方向或环境中实现较大的稳定性。波长范围为355 nm至1.064µm，孔径范围为33至800 mm，采用水平和垂直安装配置，为各种应用和预算提供了合适的选择。可选的600万像素高分辨率相机可捕捉任何商用干涉仪的较高斜率。测量非球面、自由曲面光学元件和高度像差元件。可选的表面隔离源（SIS）增加了测量平面平行光学器件的能力，无需涂层或背面处理以消除不必要的反射。在薄至300µm的光学器件上量化形状光学厚度、透射波前误差和均匀性。

空气间隔标准具具有适当等级的熔融石英（UV-可见或IR）基底。衬底上的面外AR涂层和楔形物防止形成无关的干涉图案。与基底光学接触的垫片决定了镜面的平行度和标准具的自由光谱范围。根据应用，间隔物可以是熔融石英或低热膨胀材料，例如ZeroDur或Ule。

伊林提供一系列四种不同质量的受保护铝制平面镜。根据手头的应用，从干涉仪到实用质量进行选择。25.4和50.8毫米的镜子可以用我们的镜子支架固定。76.2和101.6毫米反射镜较好安装在运动反射镜支架上。

AMONICS'专业产品，高功率窄线宽激光器（AULLD系列），与Redfern Integrated Optics（Rio）Planex TM高性能外腔激光器集成。AULLD具有窄线宽、低相位噪声、超低RIN、高输出功率和异常可靠性能。交钥匙微处理器控制的台式Aulld管理警报和状态指示器。集成的RS232或以太网计算机接口可轻松实现控制、诊断功能和数据采集。AULLD是商用光纤传感的理想选择，例如用于石油和天然气、安全、计量和智能基础设施的干涉和布里渊DTSS传感系统。