FIS在货架上备有您需要的跳线。从我们的大量库存中选择单模和多模跳线。FIS库存跳线采用较流行的连接器组合。使用可靠耐用的陶瓷套圈组装，您可以选择PC、UPC和APC抛光表面。大多数电缆组件样式可以是单工或双工。多模跳线有50/125或62.5/125两种版本。

FIS在货架上备有您需要的跳线。从我们的大量库存中选择单模和多模跳线。FIS库存跳线采用较流行的连接器组合。使用可靠耐用的陶瓷套圈组装，您可以选择PC、UPC和APC抛光表面。大多数电缆组件样式可以是单工或双工。多模跳线有50/125或62.5/125两种版本。

与XUL系列一样，XRF光谱仪Fischerscope®X-Ray XAN®非常适合分析形状简单的样品。然而，XanSeries的一大优势在于其高质量的半导体探测器。X射线荧光（XRF）不仅可以测量涂层的厚度，还可以分析合金的成分（例如，G。铜）。XanSeries总共包括5台台式XRF光谱仪，涵盖了广泛的应用。XAN215具有高性价比的PIN检测器。它非常适合简单的涂层厚度任务，例如铁或Au/Ni/Cu上的锌。对于使用合金或贵金属的更复杂的应用，我们建议使用我们的带有硅漂移探测器的XRF设备（例如Xan220）：由于其分辨率高得多，它可以可靠地区分金和铂。当您需要检测微量重金属和其他有害物质时，Xan250是您的解决方案。

FISCHERSCOPE®X光XUL®系列是每个电镀车间真正的基础设备。这些简单且经济实惠的能量色散X射线荧光XRF分析仪非常适合监测镀液成分，但在质量控制方面，它们也是不可或缺的帮手：坚固耐用，非常适合测量螺母和螺栓等批量生产零件上的电镀层。XUL/XULM系列中的所有XRF光谱仪操作简单直观。较大的样品可以用手简单地放置在测量室中；或者，对于较小的项目，如插头，仪器可以配备手动样品台。虽然测量设备很紧凑，但它们为您的试件提供了足够的空间-高达17厘米。如果您有几个不同的测量任务，FischerScope X射线XULM具有可更换的过滤器和准直器，因此您可以为所有应用创建较佳的测量条件。此外，XULM具有内置的微聚焦管，即使测量点很小，测量层很薄，也能提供精确的结果。

五轴光学支架包括：-带两个螺钉（螺距250µm（100tpi））的侧面调节双轴运动反射镜支架-双轴平移台，行程范围2mm，由两个螺钉驱动（螺距250µm（100tpi））-提供10毫米行程范围的变焦

OZ Optics系列扩展光束型中性密度固定衰减器是多模应用和衰减光纤不可用或不可用的应用的理想选择。当与多模光纤一起使用时，这些衰减器提供与模式无关的固定衰减。插入损耗将不取决于光如何射入光纤。与其他衰减器设计相比，这是一个显著的优点。衰减器由一组准直和聚焦光学器件以及包含滤波器的中央基板组成。可以订购插座式或猪尾式。扩展束设计允许比插塞式衰减器更高的功率处理。过滤器本身可以是永久性的，也可以是可拆卸的。这为实验提供了极大的灵活性。

OZ Optics系列扩展光束型中性密度固定衰减器是多模应用和衰减光纤不可用或不可用的应用的理想选择。当与多模光纤一起使用时，这些衰减器提供与模式无关的固定衰减。插入损耗将不取决于光如何射入光纤。与其他衰减器设计相比，这是一个显著的优点。衰减器由一组准直和聚焦光学器件以及包含滤波器的中央基板组成。可以订购插座式或猪尾式。扩展束设计允许比插塞式衰减器更高的功率处理。过滤器本身可以是永久性的，也可以是可拆卸的。这为实验提供了极大的灵活性。

阿姆斯特朗光学公司（Armstrong Optical）新推出的是一款经过客户验证的相位测量斐索干涉仪（Fizeau Interferometer），采用垂直（向下看）配置，孔径为60mm，IFV-60。如果需要，孔径也可以增加到100。它配有经过认证的Lambda/20传输平面和符合人体工程学设计的样品处理系统。使用我们的合作伙伴TriOptics Berlin提供的备受推崇、功能强大且直观的µShape专业控制、采集和分析软件，可以简单、精确地测量较大的平面和透射窗口。

Armstrong Optical较新推出了一系列经过客户验证的相位测量斐索干涉仪，包括垂直（向下看）和水平配置的300mm（12）孔径IFV-300和IFH-300。这两种配置都配有经过认证的Lambda/20传输平面和符合人体工程学设计的样品处理系统。使用我们的合作伙伴TriOptics Berlin提供的备受推崇、功能强大且直观的µShape专业控制、采集和分析软件，可以简单、精确地测量较大的平面和透射窗口。

与来自Tucsen的较好SCMOS相机技术一样，FL-20冷却相机在-15°C下工作，可确保长期可靠运行，显著降低暗电流累积导致的热像素，并获得更纯净的荧光背景图像。灵敏度是CCD的两倍以上，满足专业荧光成像的需求。

1英寸图像传感器覆盖了CMount的较佳图像质量FOV；传感器分辨率高达2000万像素，因此即使使用4倍和10倍显微镜物镜成像，也不会损失光学分辨率。FL-20BW基于Tucsen的SCMOS相机专业散热技术，可实现低至0.001E/pixel/s的暗电流水平，显著降低长时间曝光时的热像素噪声。

FL500是驱动低功率激光二极管的理想选择。它的工作电压为3至12 V，因此与Li+电池工作兼容。它可以配置为两个完全独立的250 mA驱动器或单个500 mA驱动器。与A型或B型激光二极管兼容。FL500可在恒流（CC）模式下快速轻松地操作。对于简单的CC模式操作，所需的先进组件是电源、模拟控制电压、激光器和可选的滤波电路。FL500可与FL591评估板配合使用，以获得更多特性，包括用于恒定功率操作的限流和光电二极管反馈。

FL500是驱动低功率激光二极管的理想选择。它的工作电压为3至12 V，因此与Li+电池工作兼容。它可以配置为两个完全独立的250mA驱动器或单个500mA驱动器。与A型或B型激光二极管兼容。FL500可在恒流（CC）模式下快速轻松地操作。对于简单的CCMODE操作，所需的元件只有电源、模拟控制电压、激光器和可选滤波电路。对于其他特性，包括用于恒定功率操作的限流和光电二极管反馈，FL500可与FL591评估板配合使用。

Spark、Flame和Firestorm属于基于主振荡器功率放大器结构的高能和高重复率固体激光器家族。一个前置放大器和两级功率放大器在单个脉冲中提供高达50mJ的能量，从而产生具有独特参数的激光系统。

Spark、Flame和Firestorm属于基于主振荡器功率放大器结构的高能和高重复率固体激光器家族。一个前置放大器和两级功率放大器在单个脉冲中提供高达50mJ的能量，从而产生具有独特参数的激光系统。

IV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上，使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的，并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正，这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时，通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上，并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散，因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。

IV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上，使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的，并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正，这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时，通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上，并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散，因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。

IV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上，使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的，并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正，这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时，通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上，并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散，因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。

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IV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上，使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的，并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正，这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时，通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上，并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散，因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。