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3SAE Liquid Clamp Cleaver II LDF是较先进的大直径BER切割器,适用于125μm至1000μm的圆形和异形BER。它有两种不同的型号,液体夹钳切割器II-S(LCC II-S)和液体夹钳切割器II-A(LCC II-A)。LCC II-S设计用于标准的非角度切割,而LCC II-A具有旋转高达30°的角度切割功能。不良劈裂角的主要原因是BER中的扭转应变,这是由来自传统夹具的扭矩引起的。这一专利工艺采用了完全无扭矩的夹紧系统,该系统使用了一种专有的金属合金锭,其熔化温度低于水的沸点。这是一种无铅、无镉的合金锭,其特殊配方可在冷却时紧密凝固在光学BER周围,即使在非圆形BER(如八角形)上也可提供无扭矩夹持。固态温度控制系统根据需要快速液化和固化合金。当合金锭因使用而耗尽时,可以容易地更换。这些独特的合金锭由3SAE Technologies较先提供。 产品关键指标: 光纤旋转角度可达30°,切割直径可达1 mm。(仅LCC II-A) 圆形和异形纤维兼容 可用的最低平均劈裂角 可用的最低标准偏差 光纤支架兼容(16mm f/H标准,18mm f/H带光纤支架转接板) 延长叶片使用寿命 用于刀片、挡块和光纤对准的集成视觉系统。 最多可存储10个程序 集成视觉系统需要USB PC连接
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重量: 1600 kg 接口: 4“ or 6“ Bayonet-Interface (depending on interferometer module) 应用: 车间干涉仪 球面和非球面 光学元件
- 优化用于生产 测量支架由花岗岩制成,具有高的精度和刚度 - 不锈钢机器底座。被动式空气减震元件安装在稳定的钢制底座上。 - 3个带花岗岩塔架的被动空气减震元件,具有最高的精度和刚度。 - 弧度滑块,带无间隙预应力摩擦轴承,由伺服电机驱动。带无间隙预应力摩擦轴承的半径滑块,由伺服电机驱动。操纵杆用于变 操纵杆用于变速行走,最大行程1500mm。 - 三轴精密可调工作台(多种X/Y测量选项 三轴精密可调工作台) - 海德汉玻璃光栅尺,测量精度为5微米。海德汉玻璃光栅尺,总行程测量精度为5 µm,用于半径的绝对测量精度、 光栅尺靠近光轴安装(阿贝原理) - 通过激光对中测量半径轴(包括 测量协议) - 创新性地安装当前类型的干涉仪(MAHR MarOpto FI 1100 Z, Zygo 4 通过激光对中测量半径轴,包括测量协议。 英寸和6英寸,Äpre S100/150 HR),包括分析软件。 软件 - 通过镜子系统重新定向半径轴,节省空间 安装方便 - 包括带集成电气柜和存储系统的移动式 包括带集成电气柜和存储系统的移动式 PC 工作站
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重量: 1600 kg 接口: 4“ or 6“ Bayonet-Interface (depending on interferometer module) 应用: 用于测量球面和非球面光学元件的干涉仪
用于球面和非球面检测的高精度Fizeau车间干涉仪。 高精度运动学和高达150毫米的工作范围使该测量机成为高端光学产品生产不可或缺的工具。 测量支架由减震花岗岩制成,具有高的精度和刚度 被动空气减震元件安装在稳定的钢制底座上 半径滑块,带预载无间隙抗摩擦轴承,由伺服电机驱动,通过操纵杆变速,行程1050毫米 三轴工作台(可选配五轴工作台) 海德汉玻璃光栅尺,总行程测量精度为5 μm,实现半径的绝对测量精度,光栅尺安装在光轴附近(阿贝原理) 创新的、便于维护的现有类型干涉仪安装,包括分析软件(MAHR MarOpto FI 1100 Z、Zygo GPI/Verifire 4英寸和6英寸干涉仪)
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最大平均功率: 250W 有效光圈: 19mm 光谱范围: 0.19 - 20 um 冷却方式: No cooling
Gentec-EO的PRONTO-50-W5和PRONTO-250便携式激光探头是带有内置显示屏的袖珍功率和电能表。PRONTO-50-W5和PRONTO-250可在5秒内精确测量高达50 W和250 W的激光功率。除常规单次功率(SSP)模式外,PRONTO-250-PLUS还具有2种额外的测量模式:在连续功率(CWP)模式下,该器件可连续测量高达8 W的功率,而在单次能量模式(SSE)下,它可测量单个脉冲的能量。高功率表面吸收传感器设计用于高平均功率密度。Pronto探测器可配备可选支架和/或电源。如果所需的波长在校准的光谱范围之外,您可以使用“校正因子”功能来调整显示的测量。
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最大平均功率: 250W 有效光圈: 19mm 光谱范围: 0.19 - 20 um 冷却方式: No cooling
Gentec-EO的PRONTO-50-W5和PRONTO-250便携式激光探头是带有内置显示屏的袖珍功率和电能表。PRONTO-50-W5和PRONTO-250可在5秒内精确测量高达50 W和250 W的激光功率。除常规单次功率(SSP)模式外,PRONTO-250-PLUS还具有2种额外的测量模式:在连续功率(CWP)模式下,该器件可连续测量高达8 W的功率,而在单次能量模式(SSE)下,它可测量单个脉冲的能量。高功率表面吸收传感器设计用于高平均功率密度。Pronto探测器可配备可选支架和/或电源。如果所需的波长在校准的光谱范围之外,您可以使用“校正因子”功能来调整显示的测量。
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最大平均功率: 50W 有效光圈: 19mm 光谱范围: 0.19 - 10 um 冷却方式: No cooling
Gentec-EO的PRONTO-50-W5和PRONTO-250便携式激光探头是带有内置显示屏的袖珍功率和电能表。PRONTO-50-W5和PRONTO-250可在5秒内精确测量高达50 W和250 W的激光功率。除常规单次功率(SSP)模式外,PRONTO-250-PLUS还具有2种额外的测量模式:在连续功率(CWP)模式下,该器件可连续测量高达8 W的功率,而在单次能量模式(SSE)下,它可测量单个脉冲的能量。高功率表面吸收传感器设计用于高平均功率密度。Pronto探测器可配备可选支架和/或电源。如果所需的波长在校准的光谱范围之外,您可以使用“校正因子”功能来调整显示的测量。
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技术: Distributed Feedback (DFB), Multi-Quantum Well (MQW) 工作模式: CW/Pulsed Laser 波长: 1547 to 1553 nm 输出功率: 15 to 50 mW 工作电压: 1.3 to 1.7 V
Laserscom公司的LDS-1550-DFB-2.5G-15/50是一种多量子阱激光二极管,工作波长为1550 nm.输出光功率50mW(脉冲)&15mW(连续),光谱宽度0.08nm,斜率效率0.16W/A,上升/下降时间80ps,跟踪误差0.15dB.它的电容为10 PF,暗电流小于100 nA,阈值电流为8 mA.该激光二极管具有DFB腔、内置监控光电二极管,并提供高达2.5 Gbps的数据速率。它使用LDS技术来提高光功率的热稳定性。LDS-1550-DFB-2.5G-15/50需要1.4 V的直流电源,消耗100 mA的电流。该激光二极管采用同轴、带支架的同轴或14针DIL封装,并具有带FC/APC、SC/APC、FC/UPC和SC/UPC连接器选项的SM/PM光纤选项。它非常适合数据速率高达2.5 Gbps的光纤通信系统和激光系统应用。
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技术: Distributed Feedback (DFB), Multi-Quantum Well (MQW) 工作模式: CW/Pulsed Laser 波长: 1567 to 1573 nm 输出功率: 15 to 45 mW 工作电压: 1.4 to 1.7 V
Laserscom的LDS-1570-DFB-2.5G-15/45是一款与光纤耦合的多量子阱激光二极管,工作波长为1570 nm,斜率效率为0.16 W/A.在SM光纤G.657.A1中,它在CW模式下的光输出功率高达15 MW,在脉冲模式下高达45 MW.该激光二极管需要大约1.4V的工作电压,并且具有大约8mA的阈值电流。它采用同轴电缆、带支架的同轴电缆或14针DIL,包括密封外壳中的监视器PD,是数据速率高达2.5 Gbps的光纤通信系统的理想选择。
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数据接口: USB 扫描模式: Progressive Scan 传感器类型: CMOS 透镜支架: C-/CS mount Compatible 传感器制造商: ON Semiconductor
IDS Imaging Development Systems的U3-3684XLE-C-HQ是一款USB3 5.0 Gbps摄像机,可为工业应用(如表面检测)中的详细图像评估提供高分辨率数据。它使用ON Semiconductors的500万像素CMOS图像传感器,该传感器具有2592(H)X 1944(V)像素的有源像素阵列。相机具有滚动快门传感器功能,支持高达30 FPS的帧速率。由于采用了BSI(背面照明)像素技术,它提供了卓越的低光性能,并且具有低功耗。该传感器在低光照条件和NIR范围内提供低噪声和更好的灵敏度。该相机采用塑料外壳,带有C/CS支架和可调后焦距,或者作为板级版本,带有或不带有C/CS支架或S支架。它的光学尺寸为5.702 X 4.277 mm,非常适合恶劣或不断变化的照明条件、ITS、计量、农业和工业应用。
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波长范围: 340-560 nm
HARPIA-TG是一个瞬时光栅光谱仪,用于测量载流子扩散和寿命。测量是基于激光诱导的瞬态光栅(LITG)技术。这种方法可以通过全光手段同时观察非平衡载流子的重组和扩散。 HARPIA-TG允许对非导电或非荧光的样品进行表征。它适用于半导体材料和衍生物,如碳化硅(SiC)、氮化镓(GaN)、包晶石、有机和无机太阳能电池、量子点,甚至复杂的纳米结构,如量子井。 与CARBIDE或带有集成光学参数放大器(I-OPA)的PHAROS激光器相配合,这个紧凑的系统通过先进的测量和分析软件实现了完全自动化和计算机控制。因此,用户只需要把样品放在支架上并开始测量,就可以在几分钟内获得扩散系数。