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波长: 517nm 重复频率: 1MHz 输出功率: 20W 脉冲持续时间: 350fsMonaco 517是一款采用MOPA架构的工业飞秒激光器。该激光器系列专为高正常运行时间、24/7应用而设计，在517 nm时提供>40μJ/脉冲。该能量在750kHz下可用，以允许以高吞吐量水平处理高烧蚀阈值材料。绿色波长在特定材料（如铜和聚合物）中提供更好的相互作用耦合，并具有更好的焦深。二次谐波级完全集成到激光器外壳中，确保为工业环境提供稳定、高度可靠的绿色输出。
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波长: 1035nm 重复频率: 1MHz 输出功率: 40W 脉冲持续时间: 350fsMonaco Smartcleave是一款采用MOPA架构的工业激光器。基于摩纳哥飞秒平台，SmartCleave模型被配置并指定用于切割结构化透明材料。播种机爆发能量>320µJ，一次切割0.1 mm至>2 mm厚的材料。此外，Monaco的超短脉冲性质允许在很少或没有热影响区的情况下处理分层或涂层玻璃和蓝宝石。Monaco SmartCleave进一步扩展了玻璃和薄膜切割的选择，以实现下一代显示器的生产。
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光谱范围: 300 - 1200 nm 分散: 12nm/mm 沟槽密度: 800l/mm 偏差 D: 61.1deg使用IV型像差校正单色器光栅，单个凹面光栅将来自入口狭缝的光分散、准直并重新聚焦到出口狭缝上。通过光栅的简单旋转获得波长扫描。这些光栅的凹槽间距是计算机优化的，以产生具有较小值的高质量图像像散和彗差，即使在大数值孔径下。与Czerny-Turner单色仪（配有一面平面光栅、一面准直镜和一面聚焦镜）相比，像差校正单色仪光栅提供了更好的光收集效率和信噪比。
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光谱范围: 400 - 1600 nm 分散: 16nm/mm 沟槽密度: 600l/mm 偏差 D: 61.6deg使用IV型像差校正单色器光栅，单个凹面光栅将来自入口狭缝的光分散、准直并重新聚焦到出口狭缝上。通过光栅的简单旋转获得波长扫描。这些光栅的凹槽间距是计算机优化的，以产生具有较小值的高质量图像像散和彗差，即使在大数值孔径下。与Czerny-Turner单色仪（配有一面平面光栅、一面准直镜和一面聚焦镜）相比，像差校正单色仪光栅提供了更好的光收集效率和信噪比。
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光谱范围: 800 - 3200 nm 分散: 32nm/mm 沟槽密度: 300l/mm 偏差 D: 61.6deg使用IV型像差校正单色器光栅，单个凹面光栅将来自入口狭缝的光分散、准直并重新聚焦到出口狭缝上。通过光栅的简单旋转获得波长扫描。这些光栅的凹槽间距是计算机优化的，以产生具有较小值的高质量图像像散和彗差，即使在大数值孔径下。与Czerny-Turner单色仪（配有一面平面光栅、一面准直镜和一面聚焦镜）相比，像差校正单色仪光栅提供了更好的光收集效率和信噪比。
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光谱范围: 400 - 2100 nm 分散: 10nm/mm 沟槽密度: 450l/mm 偏差 D: 61.6deg使用IV型像差校正单色器光栅，单个凹面光栅将来自入口狭缝的光分散、准直并重新聚焦到出口狭缝上。通过光栅的简单旋转获得波长扫描。这些光栅的凹槽间距是计算机优化的，以产生具有较小值的高质量图像像散和彗差，即使在大数值孔径下。与Czerny-Turner单色仪（配有一面平面光栅、一面准直镜和一面聚焦镜）相比，像差校正单色仪光栅提供了更好的光收集效率和信噪比。
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光谱范围: 400 - 800 nm 分散: 0.5nm/mm 沟槽密度: 2000l/mm 偏差 D: 3deg使用IV型像差校正单色器光栅，单个凹面光栅将来自入口狭缝的光分散、准直并重新聚焦到出口狭缝上。通过光栅的简单旋转获得波长扫描。这些光栅的凹槽间距是计算机优化的，以产生具有较小值的高质量图像像散和彗差，即使在大数值孔径下。与Czerny-Turner单色仪（配有一面平面光栅、一面准直镜和一面聚焦镜）相比，像差校正单色仪光栅提供了更好的光收集效率和信噪比。
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光谱范围: 200 - 800 nm 分散: 2.2nm/mm 沟槽密度: 1484l/mm 偏差 D: 46.4deg使用IV型像差校正单色器光栅，单个凹面光栅将来自入口狭缝的光分散、准直并重新聚焦到出口狭缝上。通过光栅的简单旋转获得波长扫描。这些光栅的凹槽间距是计算机优化的，以产生具有较小值的高质量图像像散和彗差，即使在大数值孔径下。与Czerny-Turner单色仪（配有一面平面光栅、一面准直镜和一面聚焦镜）相比，像差校正单色仪光栅提供了更好的光收集效率和信噪比。
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光谱范围: 175 - 520 nm 分散: 0.5nm/mm 沟槽密度: 1500l/mm 偏差 D: 61.2deg使用IV型像差校正单色器光栅，单个凹面光栅将来自入口狭缝的光分散、准直并重新聚焦到出口狭缝上。通过光栅的简单旋转获得波长扫描。这些光栅的凹槽间距是计算机优化的，以产生具有较小值的高质量图像像散和彗差，即使在大数值孔径下。与Czerny-Turner单色仪（配有一面平面光栅、一面准直镜和一面聚焦镜）相比，像差校正单色仪光栅提供了更好的光收集效率和信噪比。
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光谱范围: 400 - 1200 nm 分散: 3.3nm/mm 沟槽密度: 1000l/mm 偏差 D: 46.4deg使用IV型像差校正单色器光栅，单个凹面光栅将来自入口狭缝的光分散、准直并重新聚焦到出口狭缝上。通过光栅的简单旋转获得波长扫描。这些光栅的凹槽间距是计算机优化的，以产生具有较小值的高质量图像像散和彗差，即使在大数值孔径下。与Czerny-Turner单色仪（配有一面平面光栅、一面准直镜和一面聚焦镜）相比，像差校正单色仪光栅提供了更好的光收集效率和信噪比。
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光谱范围: 1200 - 2400 nm 分散: 3nm/mm 沟槽密度: 570l/mm 偏差 D: 38deg使用IV型像差校正单色器光栅，单个凹面光栅将来自入口狭缝的光分散、准直并重新聚焦到出口狭缝上。通过光栅的简单旋转获得波长扫描。这些光栅的凹槽间距是计算机优化的，以产生具有较小值的高质量图像像散和彗差，即使在大数值孔径下。与Czerny-Turner单色仪（配有一面平面光栅、一面准直镜和一面聚焦镜）相比，像差校正单色仪光栅提供了更好的光收集效率和信噪比。
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光谱范围: 380 - 740 nm 分散: 8nm/mm 沟槽密度: 1800l/mm 偏差 D: 38deg使用IV型像差校正单色器光栅，单个凹面光栅将来自入口狭缝的光分散、准直并重新聚焦到出口狭缝上。通过光栅的简单旋转获得波长扫描。这些光栅的凹槽间距是计算机优化的，以产生具有较小值的高质量图像像散和彗差，即使在大数值孔径下。与Czerny-Turner单色仪（配有一面平面光栅、一面准直镜和一面聚焦镜）相比，像差校正单色仪光栅提供了更好的光收集效率和信噪比。
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光谱范围: 400 - 1100 nm 分散: 9nm/mm 沟槽密度: 670l/mm 偏差 D: 27deg使用IV型像差校正单色器光栅，单个凹面光栅将来自入口狭缝的光分散、准直并重新聚焦到出口狭缝上。通过光栅的简单旋转获得波长扫描。这些光栅的凹槽间距是计算机优化的，以产生具有较小值的高质量图像像散和彗差，即使在大数值孔径下。与Czerny-Turner单色仪（配有一面平面光栅、一面准直镜和一面聚焦镜）相比，像差校正单色仪光栅提供了更好的光收集效率和信噪比。
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光谱范围: 1000 - 2400 nm 分散: 9.6nm/mm 沟槽密度: 500l/mm 偏差 D: 41.3deg使用IV型像差校正单色器光栅，单个凹面光栅将来自入口狭缝的光分散、准直并重新聚焦到出口狭缝上。通过光栅的简单旋转获得波长扫描。这些光栅的凹槽间距是计算机优化的，以产生具有较小值的高质量图像像散和彗差，即使在大数值孔径下。与Czerny-Turner单色仪（配有一面平面光栅、一面准直镜和一面聚焦镜）相比，像差校正单色仪光栅提供了更好的光收集效率和信噪比。
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光谱范围: 190 - 800 nm 分散: 8nm/mm 沟槽密度: 1200l/mm 偏差 D: 61.6deg使用IV型像差校正的单色光栅，单个凹面光栅将来自入口狭缝的光分散、准直并重新聚焦到出口狭缝上。通过光栅的简单旋转来获得波长扫描，这些光栅的凹槽间距由计算机优化，以产生具有较小值的高质量图像与Czerny-Turner单色仪（配有一个平面光栅、一个准直镜和一个聚焦镜）相比，IV型像差校正的单色仪光栅提供了更好的光收集效率和信噪比。
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光谱范围: 200 - 800 nm 分散: 7nm/mm 沟槽密度: 950l/mm 偏差 D: 40deg使用IV型像差校正单色器光栅，单个凹面光栅将来自入口狭缝的光分散、准直并重新聚焦到出口狭缝上。通过光栅的简单旋转获得波长扫描。这些光栅的凹槽间距是计算机优化的，以产生具有较小值的高质量图像像散和彗差，即使在大数值孔径下。与Czerny-Turner单色仪（配有一面平面光栅、一面准直镜和一面聚焦镜）相比，像差校正单色仪光栅提供了更好的光收集效率和信噪比。
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光谱范围: 5000 - 10000 nm 分散: 64nm/mm 沟槽密度: 100l/mm 偏差 D: 38deg使用IV型像差校正单色器光栅，单个凹面光栅将来自入口狭缝的光分散、准直并重新聚焦到出口狭缝上。通过光栅的简单旋转获得波长扫描。这些光栅的凹槽间距是计算机优化的，以产生具有较小值的高质量图像像散和彗差，即使在大数值孔径下。与Czerny-Turner单色仪（配有一面平面光栅、一面准直镜和一面聚焦镜）相比，像差校正单色仪光栅提供了更好的光收集效率和信噪比。
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波长: 1047nm 平均值功率: 0.06W 重复频率: 0.001 - 0.03 kHz 空间模式: 2 脉宽: 2nsQ-Peak的Moonbow激光系列可应用于军事领域的测距和非致命性眩目，科学领域的LIBS、拉曼、荧光材料表征，工业领域的废气流监测过程控制，采矿领域的金属成分分析和矿物测定，以及环境检测。污染。
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