• SA210-5B 干涉仪
    美国
    分类:干涉仪
    厂商:索雷博
    类型: Fabry-perot Interferometer 测量类型: Laser Line Shape, Width 波长: 535 to 820 nm 探测器类型: Photodiode RoHS: Yes

    Thorlabs Inc的SA210-5B是一款干涉仪,自由光谱范围(FSR)为10 GHz,波长为535至820 nm.有关SA210-5B的更多详细信息,请联系我们。

  • SA210-8B 干涉仪
    美国
    分类:干涉仪
    厂商:索雷博
    类型: Fabry-perot Interferometer 测量类型: Laser Line Shape, Width 波长: 820 to 1275 nm 探测器类型: Photodiode RoHS: Yes

    Thorlabs Inc的SA210-8B是一款干涉仪,自由光谱范围(FSR)为10 GHz,波长为820至1275 nm.有关SA210-8B的更多详细信息,请联系我们。

  • SA30-120 干涉仪
    美国
    分类:干涉仪
    厂商:索雷博
    类型: Fabry-perot Interferometer 测量类型: Laser Line Shape 波长: 1060 to 1350 nm 探测器类型: Photodiode RoHS: Yes

    Thorlabs Inc的SA30-120是一款干涉仪,自由光谱范围(FSR)为1.5 GHz,波长为1060至1350 nm.有关SA30-120的更多详细信息,请联系我们。

  • SA30-144 干涉仪
    美国
    分类:干涉仪
    厂商:索雷博
    类型: Fabry-perot Interferometer 测量类型: Laser Line Shape 波长: 1250 to 1625 nm 探测器类型: Photodiode RoHS: Yes

    Thorlabs公司的SA30-144是一款干涉仪,自由光谱范围(FSR)为1.5 GHz,波长为1250至1625 nm.有关SA30-144的更多详细信息,请联系我们。

  • SA30-47 干涉仪
    美国
    分类:干涉仪
    厂商:索雷博
    类型: Fabry-perot Interferometer 测量类型: Laser Line Shape 波长: 400 to 535 nm 探测器类型: Photodiode RoHS: Yes

    Thorlabs公司的SA30-47是一款干涉仪,自由光谱范围(FSR)为1.5 GHz,波长为400至535 nm.有关SA30-47的更多详细信息,请联系我们。

  • SA30-52 干涉仪
    美国
    分类:干涉仪
    厂商:索雷博
    类型: Fabry-perot Interferometer 测量类型: Laser Line Shape 波长: 488 to 545 nm 探测器类型: Photodiode RoHS: Yes

    Thorlabs公司的SA30-52是一款干涉仪,自由光谱范围(FSR)为1.5 GHz,波长为488至545 nm.有关SA30-52的更多详细信息,请联系我们。

  • SA30-73 干涉仪
    美国
    分类:干涉仪
    厂商:索雷博
    类型: Fabry-perot Interferometer 测量类型: Laser Line Shape 波长: 630 to 824 nm 探测器类型: Photodiode RoHS: Yes

    Thorlabs公司的SA30-73是一款干涉仪,自由光谱范围(FSR)为1.5 GHz,波长为630至824 nm.有关SA30-73的更多详细信息,请联系我们。

  • SA30-95 干涉仪
    美国
    分类:干涉仪
    厂商:索雷博
    类型: Fabry-perot Interferometer 测量类型: Laser Line Shape 波长: 824 to 1071 nm 探测器类型: Photodiode RoHS: Yes

    Thorlabs公司的SA30-95是一款干涉仪,自由光谱范围(FSR)为1.5 GHz,波长为824至1071 nm.有关SA30-95的更多详细信息,请联系我们。

  • FPI-100-0400-1 干涉仪
    德国
    分类:干涉仪
    类型: Fabry-perot Interferometer 测量类型: Wavelength 波长: 380 to 430 nm 应用: Telecommunication, Spectral Analysis

    Toptica Photonics的FPI-100-0400-1是一款法布里-珀罗干涉仪,工作波长为380至430 nm.它的自由频谱范围(FSR)为1 GHz,频率分辨率为2.5 GHz.该共焦扫描干涉仪具有7mm的孔径、超过400的典型精细度和具有99.8%反射率的标准镜。它有一个内置的光电探测器单元,设计用于测量和控制连续波(CW)激光器的模式分布。该干涉仪具有FC/APC光纤连接器,是电信和光谱分析应用的理想选择。

  • Differential Polarization Delay Lines 光学延迟线
    加拿大
    分类:光学延迟线
    厂商:OZ Optics Ltd.
    应用: PMD compensation in high speed communications networks, PMD emulation, TDM bit alignment, Interferometric sensors, Coherent telecommunications 工作波长: 1550 nm 延迟范围: ±50 ps 类型: Electrically Controlled, Manually Variable 插入损耗: 1.2 dB

    来自OZ Optics的差分偏振延迟线是在1550nm的波长下工作的光学延迟线(ODL)。它们的延迟范围为±50 PS,延迟分辨率为0.0027 PS.这些光学延迟线提供60dB的回波损耗和1.2dB的最大插入损耗。该系列通过将光纤内的光分成正交偏振,然后在将两个偏振再次组合在一起之前,主动改变一个偏振相对于另一个偏振传播的时间,从而允许对光网络中的偏振模色散进行电子控制。差分极化延迟线需要6-8 V的直流电源,并消耗高达180 mA的电流。它们可以通过RS232或TTL接口进行控制。该系列采用尺寸为105 X 51 X 25 mm的封装,配有光密度为0.9 mm的1米长紧密缓冲9/125 SM光纤和FC/APC连接器。它非常适合高速通信网络中的PMD补偿、PMD仿真、TDM位对准、干涉传感器和相干电信应用。

  • F-VDL-2-3-FP-S 光学延迟线
    美国
    分类:光学延迟线
    厂商:MKS | Newport
    工作波长: 1260 to 1650 nm 延迟范围: 0 to 330 ps 类型: Manually Variable 插入损耗: 1 dB 光纤连接器: FC/PC

    Newport公司的F-VDL-2-3-FP-S是一种可变光纤延迟线,其延迟范围高达330 PS.它的工作波长为1260nm至1650nm,最大光功率为300mW.该延迟线的典型插入损耗为1 dB,回波损耗为50 dB.它有一个带有FC/PC连接器的康宁SMF-28光纤尾纤。该延迟线可以集成到网络设备和测试仪器中,用于精确的光程长度调整或时序对准。该器件采用紧凑坚固的设计,尺寸为25.4 X 53.3 X 152 mm,非常适合无源时分多路复用、光纤干涉仪和TDM位对准应用。

  • 岛津IRTracer-100傅立叶变换红外光谱仪 其他分类测量仪器
    中国大陆
    厂商:岛津中国

    IRTracer-100是岛津推出的新一代旗舰级傅立叶变换红外光谱仪,具有强大的定性定量分析和快速反应监测功能。60000:1的信噪比水平(4cm-1分辨率,1分钟扫描,峰-峰值,KBr窗片,DLATGS检测器)和标DLATGS检测器下每秒钟20张高质量完整光谱的高速扫描能力,成为高端FTIR的标杆。高强度陶瓷光源,高精度线性导轨动镜驱动机构,电子控温型高灵敏度DLATGS检测器,干涉仪内置的长寿命自动电子除湿装置,新型的防潮特氟龙镀层KBr光学窗片,处处体现了岛津传承百年的工匠精神。

  • OWI Desktop 1/2" 干涉仪
    美国
    分类:干涉仪
    重量: 6 kg 接口: ½" reference spheres with M25x0.75 thread 应用: 球体的非接触式测试和测量

    用于镜片的非接触式测量系统,由于采用非接触式测量技术,不会对镜片表面造成损坏。 非接触式测量技术不会损坏镜片表面 - 坚固的减震设计 - 比测试板更安全、更精确 设计紧凑,可方便地直接安装在抛光机旁 可直接安装在抛光机旁 - 带千分尺螺钉的三轴微调平台 包括我们的高级干涉仪模块OptoTech 微型EL-F数字干涉仪

  • OWI Desktop 60 mm 干涉仪
    美国
    分类:干涉仪
    重量: 12 kg 接口: Bajonett 2“ 应用: 球体的非接触式测试和测量

    非接触式镜片测量系统,不损伤镜片表面 镜片表面 - - 坚固的减震设计 设计紧凑,可方便地直接安装在抛光机旁 可直接安装在抛光机旁 - 比测试板更安全、更精确 - 带千分尺螺钉的三轴微调平台 包括我们的高级干涉仪模块OptoTech 微型EL-F数字式检测仪 使用高质量的OptoTech 60mm基准球面仪 测量范围从微型光学元件到4英寸光学元件

  • OWI 60 HP 干涉仪
    美国
    分类:干涉仪
    重量: 130 kg 接口: Reference sphere with bayonet interface 应用: 球体的非接触式测试和测量

    标准设置,干涉仪模块位于花岗岩工作台底部,与Z轴对齐 - 测量球形部件的理想工具。 多种选件使这些测量设备能够适应不同的测量任务。 - 微型光学元件的测量范围可达直径60mm。 - 设计紧凑,可用于生产 安装在减震花岗岩台面上。带4个减震元件的被动减震系统。 全面的模块化系统允许所有轴的配置,在轴承(摩擦或交叉滚柱轴承)和通过滚珠丝杠主轴的工作台驱动(手动或电动)方面,可根据具体应用进行理想的定制。 OptoTech干涉仪模块 检查微型EL-F数字式,带60毫米扩束器 使用高质量的OptoTech 60mm基准球测量微光学元件,测量精度为 λ/20 - 集成数字位置传感器(海德汉线性光栅尺),分辨率为 1µm,用于测量测试半径。

  • OWI 100 ECO 干涉仪
    美国
    分类:干涉仪
    重量: 825 kg 接口: 4” bajonett interface 应用: 非接触式测量球体

    刚性花岗岩塔架,通过四个减震器被动隔振 - 用于无级调节测量工作台的操纵杆,线性滑轨采用无游隙轴承 - 工作台由伺服电机和滚珠丝杠主轴驱动 工作台由伺服电机和滚珠丝杠主轴驱动,速度可通过操纵杆调节(无级调节) - 手动微调,使用细牙螺杆,带 高精度滚柱导轨 - 3轴工作台(基本型机床只有Z轴;可选配不同的X-Y轴型号 不同的X-Y轴选项) - 各种干涉仪模块: MarOpto 4", Zygo VeriFire - 用于参考球的4 "卡口接口,与Zygo、Zeiss F-Aplanar等兼容。Zygo、Zeiss F-Aplanar等。

  • OWI 150 XT 1500 干涉仪
    美国
    分类:干涉仪
    重量: 1600 kg 接口: 4“ or 6“ Bayonet-Interface (depending on interferometer module) 应用: 车间干涉仪 球面和非球面 光学元件

    - 优化用于生产 测量支架由花岗岩制成,具有高的精度和刚度 - 不锈钢机器底座。被动式空气减震元件安装在稳定的钢制底座上。 - 3个带花岗岩塔架的被动空气减震元件,具有最高的精度和刚度。 - 弧度滑块,带无间隙预应力摩擦轴承,由伺服电机驱动。带无间隙预应力摩擦轴承的半径滑块,由伺服电机驱动。操纵杆用于变 操纵杆用于变速行走,最大行程1500mm。 - 三轴精密可调工作台(多种X/Y测量选项 三轴精密可调工作台) - 海德汉玻璃光栅尺,测量精度为5微米。海德汉玻璃光栅尺,总行程测量精度为5 µm,用于半径的绝对测量精度、 光栅尺靠近光轴安装(阿贝原理) - 通过激光对中测量半径轴(包括 测量协议) - 创新性地安装当前类型的干涉仪(MAHR MarOpto FI 1100 Z, Zygo 4 通过激光对中测量半径轴,包括测量协议。 英寸和6英寸,Äpre S100/150 HR),包括分析软件。 软件 - 通过镜子系统重新定向半径轴,节省空间 安装方便 - 包括带集成电气柜和存储系统的移动式 包括带集成电气柜和存储系统的移动式 PC 工作站

  • OWI 150 XLC 干涉仪
    美国
    分类:干涉仪
    重量: 8000 kg 接口: 6“ Bayonet-Interface 应用: 干涉仪,用于测量 圆柱和平面光学元件

    优化用于生产 测量装置由天然硬石制成,门式结构,被动气浮,水平调节 干涉仪模块反向安装在X轴上 X/Y/Z/B轴可通过电机调节。可通过操纵杆移动。测量位置可保存 适用于CX和CV圆柱和平面光学元件 通过使用计算机生成的全息图(CGH)将准直波面分割为一维,以创建圆柱波面。 包括集成 PC 工作站 OptoTech软件与Zygo MX相结合 全自动测量单个圆柱段

  • MIS 60 干涉仪
    美国
    分类:干涉仪
    重量: 800 kg 应用: 多功能缝合干涉仪

    刚性花岗岩底座和被动式空气阻尼器 Z轴配置的高精度半径滑轨 安装在B轴上的反向设计的干涉仪模块 高分辨率旋转轴(B 轴),用于将干涉仪单元垂直于基片表面定位 直接驱动旋转轴(C轴),用于旋转光路中的高孔径球面和平面 OptoTech Inspect Mini EL-F 数字式 2" 菲佐干涉仪模块 设计紧凑,集成 PC 工作站 操作: 传统(手动)或使用μStitch MSI软件进行自动轴控制 OptoTech干涉仪软件 μShape OWI用于自动透镜评估

  • OWI 150 XT invers 干涉仪
    美国
    分类:干涉仪
    重量: 1600 kg 接口: 4“ or 6“ Bayonet-Interface (depending on interferometer module) 应用: 用于测量球面和非球面光学元件的干涉仪

    用于球面和非球面检测的高精度Fizeau车间干涉仪。 高精度运动学和高达150毫米的工作范围使该测量机成为高端光学产品生产不可或缺的工具。 测量支架由减震花岗岩制成,具有高的精度和刚度 被动空气减震元件安装在稳定的钢制底座上 半径滑块,带预载无间隙抗摩擦轴承,由伺服电机驱动,通过操纵杆变速,行程1050毫米 三轴工作台(可选配五轴工作台) 海德汉玻璃光栅尺,总行程测量精度为5 μm,实现半径的绝对测量精度,光栅尺安装在光轴附近(阿贝原理) 创新的、便于维护的现有类型干涉仪安装,包括分析软件(MAHR MarOpto FI 1100 Z、Zygo GPI/Verifire 4英寸和6英寸干涉仪)