• 平场和成像光栅 533 00 570 衍射光学元件
    美国
    分散: 10nm/mm 波长范围: 370 - 760 nm 频谱长度: 37.1mm F/Number: 3 沟槽密度: 950l/mm

    IV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上,使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的,并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正,这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时,通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上,并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散,因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。

  • 平场和成像光栅 533 00 580 衍射光学元件
    美国
    分散: 16nm/mm 波长范围: 340 - 690 nm 频谱长度: 24mm F/Number: 3.3 沟槽密度: 430l/mm

    IV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上,使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的,并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正,这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时,通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上,并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散,因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。

  • 平场和成像光栅 533 00 610 衍射光学元件
    美国
    分散: 40nm/mm 波长范围: 330 - 780 nm 频谱长度: 11.3mm F/Number: 3.5 沟槽密度: 250l/mm

    IV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上,使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的,并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正,这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时,通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上,并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散,因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。

  • 平场和成像光栅 533 00 670 衍射光学元件
    美国
    分散: 23nm/mm 波长范围: 340 - 800 nm 频谱长度: 19.7mm F/Number: 2.8 沟槽密度: 440l/mm

    IV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上,使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的,并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正,这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时,通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上,并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散,因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。

  • 平场和成像光栅 533 00 700 衍射光学元件
    美国
    分散: 32nm/mm 波长范围: 300 - 1100 nm 频谱长度: 25mm F/Number: 2.8 沟槽密度: 227l/mm

    IV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上,使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的,并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正,这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时,通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上,并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散,因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。

  • 平场和成像光栅 533 00 710 衍射光学元件
    美国
    分散: 24nm/mm 波长范围: 190 - 800 nm 频谱长度: 25mm F/Number: 2.8 沟槽密度: 298l/mm

    IV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上,使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的,并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正,这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时,通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上,并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散,因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。

  • 平场和成像光栅 533 00 720 衍射光学元件
    美国
    分散: 16nm/mm 波长范围: 380 - 780 nm 频谱长度: 25mm F/Number: 2.8 沟槽密度: 457l/mm

    IV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上,使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的,并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正,这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时,通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上,并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散,因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。

  • 平场和成像光栅 533 00 890 衍射光学元件
    美国
    分散: 15.5nm/mm 波长范围: 340 - 800 nm 频谱长度: 29.6mm F/Number: 2.2 沟槽密度: 785l/mm

    IV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上,使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的,并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正,这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时,通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上,并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散,因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。

  • 平场和成像光栅 543 00 150 衍射光学元件
    美国
    分散: 25.1nm/mm 波长范围: 1600 - 2200 nm 频谱长度: 23.9mm F/Number: 3.7 沟槽密度: 267l/mm

    IV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上,使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的,并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正,这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时,通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上,并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散,因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。

  • 平场和成像光栅 543 00 170 衍射光学元件
    美国
    分散: 9nm/mm 波长范围: 175 - 400 nm 频谱长度: 25.1mm F/Number: 4 沟槽密度: 580l/mm

    IV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上,使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的,并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正,这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时,通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上,并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散,因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。

  • 平场和成像光栅 543 00 180 衍射光学元件
    美国
    分散: 5nm/mm 波长范围: 4160 - 4180 nm 频谱长度: 4mm F/Number: 3.9 沟槽密度: 376l/mm

    IV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上,使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的,并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正,这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时,通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上,并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散,因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。

  • FP1-850K光电探测器 光电探测器
    俄罗斯
    分类:光电探测器
    二极管类型: Si 工作波长: 810nm

    FP1-850K型光电二极管,光谱灵敏度范围为810-870 nm,通过纤芯直径为50μm的多模光纤将辐射引入人体。它是在硅PIN光电二极管的基础上制成的,用于光纤通信系统、陀螺仪、测量设备和其他领域,作为接收器和将光辐射转换为电信号的转换器。帖子导航

  • FREEDOM C-UV 190 - 435 nm OEM光谱仪 光谱仪
    丹麦
    分类:光谱仪
    厂商:Ibsen Photonics
    单色仪类型: Not Specified 光谱范围: 190 - 435 nm 光谱分辨率: 0.15nm

    用于OEM集成的坚固、无热、工业级二极管阵列光谱仪。光谱仪提供高通量和高分辨率。它使用较新的CMOS探测器,并在电子方面提供了灵活性。该光谱仪非常适合不能牺牲性能的手持式和便携式系统应用。

  • FREEDOM HR-VIS-NIR 475 - 1100 nm OEM光谱仪 光谱仪
    丹麦
    分类:光谱仪
    厂商:Ibsen Photonics
    激发波长: 785nm 范围: 0 - 3650 cm^-1 决议: 10cm^-1

    易卜生的Freedom Mini Raman光谱仪是一款超紧凑、坚固耐用、基于无热二极管阵列的光谱仪。它非常适合在532、785或830 nm激发下集成到工业级手持式拉曼系统中的OEM。该光谱仪提供低至0.6纳米的高分辨率,并允许灵活的探测器和电子选择。

  • FREEDOM 紫外190 - 435纳米OEM光谱仪 光谱仪
    丹麦
    分类:光谱仪
    厂商:Ibsen Photonics
    单色仪类型: Not Specified 光谱范围: 190 - 435 nm 光谱分辨率: 0.7nm

    用于OEM集成的坚固、无热、工业级二极管阵列光谱仪。灵活的探测器和电子设备选项。该光谱仪将紧凑、低成本与高性能相结合,是所有不能牺牲性能的手持式和便携式系统应用的理想OEM解决方案。

  • FREEDOM紫外-近红外190 - 1100纳米OEM光谱仪 光谱仪
    丹麦
    分类:光谱仪
    厂商:Ibsen Photonics
    单色仪类型: Not Specified 光谱范围: 190 - 1100 nm 光谱分辨率: 1.8nm

    Freedom UV-NIR光谱仪将紧凑的尺寸、成本效益和高性能与探测器选择的灵活性相结合。这些优点使Freedom特别适合集成到便携式和手持式仪器中。Freedom UV-NIR建立在易卜生(Ibsen)开发的透射光栅上,可为190–1100 nm的两种偏振提供高衍射效率。

  • FREEDOM UV-VIS 190 - 850 nm OEM光谱仪 光谱仪
    丹麦
    分类:光谱仪
    厂商:Ibsen Photonics
    单色仪类型: Not Specified 光谱范围: 190 - 850 nm 光谱分辨率: 1.7nm

    Freedom UV-VIS光谱仪将紧凑的尺寸、成本效益和高性能与探测器选择的灵活性相结合。这些优点使Freedom特别适合集成到便携式和手持式仪器中。Freedom UV-VIS建立在易卜生开发的透射光栅上,可为190–850 nm的两种偏振提供高衍射效率。

  • FREEDOM VIS 360 - 830 nm OEM光谱仪 光谱仪
    丹麦
    分类:光谱仪
    厂商:Ibsen Photonics
    单色仪类型: Not Specified 光谱范围: 360 - 830 nm 光谱分辨率: 1.3nm

    用于OEM集成的坚固、无热、工业级二极管阵列光谱仪。灵活的探测器和电子设备选项。该光谱仪将紧凑、低成本与高性能相结合,是所有不能牺牲性能的手持式和便携式系统应用的理想OEM解决方案。

  • FREEDOM VIS-NIR 475 - 1100 nm OEM光谱仪 光谱仪
    丹麦
    分类:光谱仪
    厂商:Ibsen Photonics
    单色仪类型: Not Specified 光谱范围: 475 - 1100 nm 光谱分辨率: 1.7nm

    用于OEM集成的坚固、无热、工业级二极管阵列光谱仪。灵活的探测器和电子设备选项。该光谱仪将紧凑、低成本与高性能相结合,是所有不能牺牲性能的手持式和便携式系统应用的理想OEM解决方案。

  • FROG Scan Ultra - 多功能超快激光脉冲测量系统 脉冲诊断器件
    美国
    设备类型: FROG 可测量的脉冲宽度: 12 - 15 fs 波长范围: 450 - 1800 nm 输入极化: N/A

    Frog Scan Ultra是目前较通用的超快激光脉冲测量系统。我们的Frog Scan Ultra平台比我们的高价值Frog扫描系统略大,允许使用任何海洋光学光谱仪(包括QE65000和InGaAs型号)。这意味着您的超快激光系统可以使用更高的分辨率和InGaAs探测器。它可以测量从近4µms(仅限定制系统)到短至450 nm的脉冲。使用相同的光学延迟线,我们仍然能够使用相同的系统测量长度小于12 FS到大于15 PS的脉冲。光学台上的面积只有大约一平方英尺(0.1平方米)。与我们的FROG扫描系统一样,您可以轻松更换SHG晶体和光谱仪,以适应您的需求。我们新的Frog Scan脉冲测量系统可以测量从450 nm到1800 nm,从12 FS到10皮秒的脉冲。高速平移台与我们的VideoFrogScan软件(包含在系统中)相结合,意味着Frog Scan可以在接近4 Hz(32 X 32网格,~115光谱/秒,64 X 64网格为1.8 Hz)的频率下进行实时脉冲测量。