• 平场和成像光栅 533 00 570 衍射光学元件
    美国
    分散: 10nm/mm 波长范围: 370 - 760 nm 频谱长度: 37.1mm F/Number: 3 沟槽密度: 950l/mm

    IV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上,使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的,并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正,这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时,通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上,并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散,因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。

  • 平场和成像光栅 533 00 580 衍射光学元件
    美国
    分散: 16nm/mm 波长范围: 340 - 690 nm 频谱长度: 24mm F/Number: 3.3 沟槽密度: 430l/mm

    IV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上,使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的,并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正,这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时,通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上,并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散,因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。

  • 平场和成像光栅 533 00 610 衍射光学元件
    美国
    分散: 40nm/mm 波长范围: 330 - 780 nm 频谱长度: 11.3mm F/Number: 3.5 沟槽密度: 250l/mm

    IV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上,使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的,并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正,这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时,通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上,并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散,因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。

  • 平场和成像光栅 533 00 670 衍射光学元件
    美国
    分散: 23nm/mm 波长范围: 340 - 800 nm 频谱长度: 19.7mm F/Number: 2.8 沟槽密度: 440l/mm

    IV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上,使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的,并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正,这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时,通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上,并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散,因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。

  • 平场和成像光栅 533 00 700 衍射光学元件
    美国
    分散: 32nm/mm 波长范围: 300 - 1100 nm 频谱长度: 25mm F/Number: 2.8 沟槽密度: 227l/mm

    IV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上,使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的,并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正,这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时,通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上,并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散,因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。

  • 平场和成像光栅 533 00 710 衍射光学元件
    美国
    分散: 24nm/mm 波长范围: 190 - 800 nm 频谱长度: 25mm F/Number: 2.8 沟槽密度: 298l/mm

    IV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上,使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的,并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正,这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时,通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上,并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散,因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。

  • 平场和成像光栅 533 00 720 衍射光学元件
    美国
    分散: 16nm/mm 波长范围: 380 - 780 nm 频谱长度: 25mm F/Number: 2.8 沟槽密度: 457l/mm

    IV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上,使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的,并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正,这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时,通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上,并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散,因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。

  • 平场和成像光栅 533 00 890 衍射光学元件
    美国
    分散: 15.5nm/mm 波长范围: 340 - 800 nm 频谱长度: 29.6mm F/Number: 2.2 沟槽密度: 785l/mm

    IV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上,使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的,并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正,这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时,通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上,并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散,因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。

  • 平场和成像光栅 543 00 150 衍射光学元件
    美国
    分散: 25.1nm/mm 波长范围: 1600 - 2200 nm 频谱长度: 23.9mm F/Number: 3.7 沟槽密度: 267l/mm

    IV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上,使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的,并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正,这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时,通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上,并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散,因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。

  • 平场和成像光栅 543 00 170 衍射光学元件
    美国
    分散: 9nm/mm 波长范围: 175 - 400 nm 频谱长度: 25.1mm F/Number: 4 沟槽密度: 580l/mm

    IV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上,使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的,并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正,这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时,通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上,并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散,因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。

  • 平场和成像光栅 543 00 180 衍射光学元件
    美国
    分散: 5nm/mm 波长范围: 4160 - 4180 nm 频谱长度: 4mm F/Number: 3.9 沟槽密度: 376l/mm

    IV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上,使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的,并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正,这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时,通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上,并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散,因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。

  • FLIR E53热成像仪 科学和工业相机
    相机类型: Industrial, Security 阵列类型: Not Specified 光谱带: 7.5 - 14 um # 像素(高度): 240 # 像素(宽度): 180

    FLIR E75、E85、E95和入门级E53高级热像仪提供快速识别热点和发现配电和机械系统中的潜在故障点所需的卓越分辨率和范围性能。Exx系列拥有高达161,472像素的分辨率和比任何其他手枪式相机更生动的LCD屏幕,使诊断问题比以往任何时候都更容易,即使在远处也是如此。使用这些坚固耐用、直观的相机,通过定期的预测性维护程序,避免代价高昂的停机和生产时间损失。

  • 福禄克TiS20红外摄像机 科学和工业相机
    美国
    厂商:Fluke
    相机类型: Industrial, Security 阵列类型: Not Specified 光谱带: 7.5 - 14 um # 像素(高度): 120 # 像素(宽度): 90

    福禄克TIS20是一款经济实惠的定焦红外摄像机,分辨率为120x90,使您能够快速检查大面积区域。它建造得很坚固,所以你可以把它带到任何地方。你可以看到更多的大3.5英寸液晶显示屏。并将三个IR-Fusion®预设与AutoBlend一起使用,以将可见光图像与同一目标的红外图像混合,从而更快地发现问题。您还可以使用193:1的A距离与点(D:S)比率从更远的距离拍摄高质量的图像。凭借4 GB内存和4 GB以上的可选Micro SD卡,您可以在TIS20上存储数千张图像,从而快速轻松地记录问题。锂离子智能电池配有五段LED电量显示屏,您可以随时了解剩余电量。

  • Fluke TiX1000红外摄像机 科学和工业相机
    美国
    厂商:Fluke
    相机类型: Industrial, Security 阵列类型: Not Specified 光谱带: 7.5 - 14 um # 像素(高度): 1024 # 像素(宽度): 768

    Tix1000提供Tix660的所有功能,但分辨率为1024 X 768。您可以使用相机上的32倍数码变焦,从安全距离获得壮观、详细的红外图像。您还可以调用LaserSharp Auto Focus、Auto Focus、Manual或EverSharp Multifocal Recording,以节省时间,同时获得一致准确的图像。借助5.6英寸高分辨率LCD大屏幕,您可以在每幅图像中看到更多细节,并获得1024 X 768分辨率的高测量精度。为了进一步增强您远距离查看细节的能力,TiX1000在超分辨率模式下提供4倍的相机像素,为您提供2048 X 1536(3,145,728像素)图像。您可以在更安全的距离工作,并检查您无法以任何其他方式接近的区域,同时仍然可以获得壮观、详细的红外图像。为了增加多功能性,除了标准镜头外,TiX1000还兼容七个可选的现场安装镜头(2倍和4倍长焦镜头、两个广角镜头、三个微距镜头)。

  • 福禄克TiX520红外摄像机 科学和工业相机
    美国
    厂商:Fluke
    相机类型: Industrial, Security 阵列类型: Not Specified 光谱带: 7.5 - 14 um # 像素(高度): 320 # 像素(宽度): 240

    Fluke Tix520配备240°全旋转屏幕,可帮助您在难以触及的目标上方、下方和周围轻松导航。您可以快速捕捉和处理图像,并在5.7英寸响应触摸屏LCD上通过相机上的分析功能现场分析图像。通过编辑发射率、背景温度、透射率、调色板、颜色警报、调整红外融合以及启用/禁用摄像机上的所有标记来节省时间。

  • 福禄克TiX560红外摄像机 科学和工业相机
    美国
    厂商:Fluke
    相机类型: Industrial, Security 阵列类型: Not Specified 光谱带: 7.5 - 14 um # 像素(高度): 320 # 像素(宽度): 240

    使用Tix560相机,您可以通过240°旋转屏幕轻松地在物体上方、下方和周围移动,并以舒适的角度观看。这将帮助您捕捉关键的红外细节,而不会使您的颈部紧张。您可以更快地捕捉和处理图像,并在5.7英寸响应触摸屏LCD上通过相机上的分析功能现场分析图像。通过编辑发射率、背景温度、透射率、调色板、颜色警报、调整红外融合以及启用/禁用摄像机上的所有标记来节省时间。

  • 福禄克TiX620红外摄像机 科学和工业相机
    美国
    厂商:Fluke
    相机类型: Industrial, Security 阵列类型: Not Specified 光谱带: 7.5 - 14 um # 像素(高度): 640 # 像素(宽度): 480

    使用福禄克Tix620,您可以在安全距离外进行检查,并通过32倍相机数码变焦获得壮观、详细的红外图像。您可以在5.6英寸高分辨率LCD大屏幕上看到每个图像的更多细节,并获得640 X 480分辨率的高测量精度和精密图像。

  • 福禄克TiX640红外摄像机 科学和工业相机
    美国
    厂商:Fluke
    相机类型: Industrial, Security 阵列类型: Not Specified 光谱带: 7.5 - 14 um # 像素(高度): 640 # 像素(宽度): 480

    Tix640为您提供32倍相机数码变焦,从安全距离拍摄壮观、详细的红外图像。它还提供自动对焦,手动和Eversharp多焦点记录,以节省您的时间,并提供一致准确的图像。此外,您可以在5.6英寸高分辨率LCD大屏幕上看到每张图像的更多细节,并获得640 X 480分辨率的高测量精度。为了进一步增强您远距离查看细节的能力,Tix640在超分辨率模式下提供4倍相机像素,为您提供1280 X 960(1,228,800像素)图像(在软件中)。您可以在更安全的距离工作,并检查您无法以任何其他方式接近的区域,同时仍然可以获得壮观、详细的红外图像。为了增加多功能性,除了标准镜头外,Tix640还兼容七个可选的现场安装镜头(2倍和4倍长焦镜头、两个广角镜头、三个微距镜头)。

  • 福禄克TiX660红外摄像机 科学和工业相机
    美国
    厂商:Fluke
    相机类型: Industrial, Security 阵列类型: Not Specified 光谱带: 7.5 - 14 um # 像素(高度): 640 # 像素(宽度): 480

    Tix660包括Tix640的所有功能,以及LaserSharp®自动对焦和高温选项。您可以使用相机上的32倍数码变焦,从安全距离获得壮观、详细的红外图像。除了LaserSharp自动对焦功能外,您还可以使用自动对焦、手动对焦和EverSharp多焦点记录功能,以节省时间,同时获得一致准确的图像。借助5.6英寸高分辨率LCD大屏幕,您可以在上的每张图像中看到更多细节,并获得640 X 480分辨率的高测量精度。为了进一步增强您远距离查看细节的能力,Tix660在超分辨率模式下提供4倍相机像素,为您提供1280 X 960(1,228,800像素)图像(软件)。您可以在更安全的距离工作,并检查您无法以任何其他方式接近的区域,同时仍然可以获得壮观、详细的红外图像。为了增加多功能性,除了标准镜头外,Tix660还兼容七个可选的现场安装镜头(2倍和4倍长焦镜头,两个广角镜头,三个微距镜头)。

  • FOA-M2300CDEFV1C-AA009 固定增益EDFA 激光器模块和系统
    澳大利亚
    放大器类型: EDFA - Erbium-Doped Fiber Amplifier 波长范围: 1529.5 - 1563 nm 最大输出功率: 19dBm 标称增益: 0.1dB

    Finisar的70x90 mm固定增益(FG)EDFA产品系列支持全系列C或L波段固定增益WDM EDFA,以及窄带、CWDM和单通道EDFA。这些产品支持冷却泵或非冷却泵,因此可以针对每种应用实现尺寸、功耗和性能的较佳组合。该平台集成了先进的控制和监控功能,并在所有工作条件下为稳定增益提供快速瞬态抑制。FG EDFA可以通过软件配置为前置放大器、功率放大器或在线放大器,从而允许使用单个零件号来处理不同的网络功能。这些产品针对不同的输出功率提供多种增益配置。此外,它们还可以配置VOA(可变光衰减器),以更精确地保持光输出功率。