Amptek很高兴提供我们改进的硅漂移探测器（SDD）系列，用于扫描电子显微镜（SEM）中的能量色散谱（EDS）。使用我们获得专利的C系列氮化硅（Si3N4）X射线窗口，我们的FAST SDD®的低能量响应可向下延伸至铍（Be）。具有高本征效率的快速SDD®适用于EDS，也称为能量色散X射线光谱（EDX或XEDS）和能量色散X射线分析（EDXA）或能量色散X射线微量分析（EDXMA）。

这款台式ED-XRF光谱仪是一款易于使用的高灵敏度元素分析智能解决方案，可分析大多数样品类型（固体、粉末、液体）的主要痕量成分，只需很少或无需样品制备。当需要时，ElementEye可轻松补充SEM、EPMA、NMR和质谱分析。ElementEye能够进行50kV激励，并采用了我们较新的硅漂移探测器（SDD）技术。结合JEOL先进的基本参数（FP）方法，该仪器可在几分钟内提供高灵敏度的定性和定量分析结果。薄膜FP方法可用于涂层样品上薄膜厚度的无损测量。使用较多9种类型的过滤器和样品室真空装置，可在整个能量范围内进行高灵敏度分析。可选的12位自动进样器可通过连续采集加快分析速度。

Equus 327K SM和Equus 327K M是配备MCT探测器的通用红外摄像机。它们表现出不同的光谱灵敏度。出口：由于使用欧洲探测器和冷却器技术，相机仅受欧洲两用物品法规的约束。

光敏器件是一种坚固耐用的硅光电二极管，具有长期稳定性，与新的专利放大系统一起带来了非常高的灵敏度。探测器经过仔细过滤，以产生与人眼相同的光谱响应特性，如CIE标准。该遥感器配有2米长的软电缆。延长电缆也可用于在距探测器任何所需距离处进行测量。该仪器具有内置温度补偿功能。“保持”功能可保留显示值。为电池消除器提供直流输入，为外部仪器（如记录器、计算机和记录器）提供模拟输出。

EX-5120远程气体监测传感器变送器包含一个基于NDIR原理工作的传感器，用于监测碳氢化合物气体的浓度。它可以针对特定气体（如甲烷）进行校准，但也可以响应其他一些碳氢化合物气体，包括丙烷、丁烷等。该传感器具有用于温度补偿的集成半导体、耐用的钨丝红外光源、滤波器和双温度补偿热释电红外探测器。该传感器变送器可在厌氧环境和连续的碳氢化合物环境中工作。该装置提供长期稳定性，需要较少的维护。EX-5120传感器变送器采用24 VDC电源供电，具有三个LED报警点指示灯、4-20 mA输出和可选报警继电器板。该传感器变送器可连接到各种单通道和多通道Enmet控制器或基于计算机的仪器，如PLC、SCADA、BMS等。

当今的许多数字脉冲处理器即使在低计数率下也会出现脉冲堆积。Falconx仪器使用强大的Sitoro®算法，即使在高计数率下也能准确处理几乎所有检测到的辐射事件，恢复其他脉冲处理器丢弃的数据，并提供卓越的光谱质量。因此，可以在高计数率下实现前所未有的吞吐量。例如，在1 MCPs输出时仅有12%的停滞时间，较大输出计数率约为4 MCPs。FalconX8的分析速度比传统脉冲处理器快得多，从低到高计数率的分辨率下降较小。FalconX8无需在计数率范围内调整成形时间，并可灵活优化分析，以获得较高分辨率、较高吞吐量或两者的组合，以及低于30纳秒的出色脉冲对分辨率。FalconX8可提供1至8个激活通道。对于较大的系统，可以在快速网络上轻松组合多个单元，并可选择干净的机架安装。Xia在设计FalconX8时考虑到了简单性和灵活性。它结构紧凑，高度便携，开箱即可与几乎所有探测器兼容，并且只需较少的设置。

FastGateDSPAD模块是一款紧凑型检测模块，能够选通硅SPAD，用于宽动态范围光学测量。该模块包括一个快速脉冲发生器，在高达80 MHz的重复率下，门控转换低于200 PS，具有完全可编程的导通时间和过量偏置。差分前端电子设备拾取具有低时序抖动的雪崩脉冲。该模块也可以在自由运行模式下运行，SPAD始终开启。该模块的主要特点是由于快速的开关转换，可以增加TCSPC系统的动态范围。因此，通过仅在明确定义的时间窗口中启用检测器，可以从巨大的背景中提取弱信号。通过使用外延SPAD和优化的微波布局来减少快速门转换后电压振荡的影响，获得了良好的光子探测效率和时间分辨率。FastGateDSPAD模块通过PC软件界面进行控制，其中可以设置所有相关的门参数（int./ext。触发、门频率、门宽度）和探测器的所有参数：温度、过量偏压和截止时间。通过这种方式，可以在DCR、截止时间和光子探测效率方面调整探测器性能，以便适当地匹配用户应用的要求。

FHR640和FHR1000是自动Czerny-Turner光谱仪，焦距分别为0.64米（FHR640）和1米（FHR1000）。FHR系列专为需要高精度和即时结果的研究人员而设计，其多功能性允许在宽光谱范围内使用，从UV范围（140 nm）扩展到IR（取决于所使用的光栅和探测器）。FHR被设计为较小化到达焦平面的任何杂散光。光学腔包括黑化挡板和掩模以捕获不需要的光。此外，FHR的光学设计没有再衍射光（再衍射光是杂散光的来源，涉及光学元件本身的多次反射，因此很难屏蔽）。

FHR640和FHR1000是自动Czerny-Turner光谱仪，焦距分别为0.64米（FHR640）和1米（FHR1000）。FHR系列专为需要高精度和即时结果的研究人员而设计，其多功能性允许在宽光谱范围内使用，从UV范围（140 nm）扩展到IR（取决于所使用的光栅和探测器）。FHR被设计为较小化到达焦平面的任何杂散光。光学腔包括黑化挡板和掩模以捕获不需要的光。此外，FHR的光学设计没有再衍射光（再衍射光是杂散光的来源，涉及光学元件本身的多次反射，因此很难屏蔽）。

通过大量的研究和实践，光纤光栅被认为是较精确、较通用的光学传感器。Broptics OS 1500光学传感器专为Micron Optics FBG询问仪器和类似探测器而设计。传感器光栅直接写在标准单模光纤（SMF-28或等效光纤）上，具有非常低的衰减、非常低的熔接损耗和低成本。它可以很容易地将多达20个传感器连接在一个千米距离的阵列中，并且仍然可以被微米光学仪器非常清晰地检测到。其他类型的FBG传感器、光栅规格、光纤和无热封装也是可用的。请直接与我们联系。

dB表可在宽动态范围内高精度测量功率（未校准）、功率稳定性和功率变化。除了使用外部光源（780-1650nm）进行操作外，还可以内置客户定义的半导体光源，以便快速轻松地测试无源元件或本地光纤环路。通过串行（USB）接口和显示器提供数据。显示器以符合人体工程学的方式运行，适合在进行手动调整时进行快速、可辨别的读数。本数据手册中记录的标准选项较终可根据要求进行修改（光源、光纤类型、通道数、探测器类型）。

FineSight拒绝了基于Czerny-Turner的设计，并采用了卓越的光具座。该系统在灵敏度和分辨率方面提供了更好的性能。简单地说，这是一个更好的系统。FineSight既坚固又可靠。FineSight在弱光源下的优异性能使其成为拉曼光谱的理想选择。其高分辨率是激光诱导击穿光谱（LIBS）的理想选择。

与XUL系列一样，XRF光谱仪Fischerscope®X-Ray XAN®非常适合分析形状简单的样品。然而，XanSeries的一大优势在于其高质量的半导体探测器。X射线荧光（XRF）不仅可以测量涂层的厚度，还可以分析合金的成分（例如，G。铜）。XanSeries总共包括5台台式XRF光谱仪，涵盖了广泛的应用。XAN215具有高性价比的PIN检测器。它非常适合简单的涂层厚度任务，例如铁或Au/Ni/Cu上的锌。对于使用合金或贵金属的更复杂的应用，我们建议使用我们的带有硅漂移探测器的XRF设备（例如Xan220）：由于其分辨率高得多，它可以可靠地区分金和铂。当您需要检测微量重金属和其他有害物质时，Xan250是您的解决方案。

IV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上，使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的，并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正，这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时，通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上，并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散，因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。

IV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上，使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的，并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正，这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时，通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上，并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散，因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。

IV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上，使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的，并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正，这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时，通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上，并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散，因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。

IV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上，使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的，并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正，这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时，通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上，并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散，因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。

IV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上，使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的，并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正，这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时，通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上，并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散，因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。

IV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上，使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的，并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正，这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时，通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上，并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散，因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。

IV型像差校正平场和成像光栅被设计为将光谱聚焦到平面表面上，使其非常适合与线性或2-射线探测器一起使用。这些光栅由既不等间距也不平行的凹槽制成，并经过计算机优化，以在探测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正，这些IV型像差校正了平场成像。与传统的I型罗兰圆凹面光栅相比，该光栅提供了更好的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的面探测器时，通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上，并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散，因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。