CS-16-500W-15F是那些喜欢氙气灯而不是金属卤化物灯的部门的理想选择，因为它为伪造文件提供了额外的红外输出。尽管CrimeScope®的设计非常适合在实验室中使用，但它足够小，可以带到犯罪现场，使其成为一款出色的两用设备。CS-16-500W-15F覆盖光谱的紫外线和可见光部分，并提供可选的红外线。它是连续可调的，允许完全覆盖频谱。CS-16-500W-15F包含一个自动滤光轮，在设备前面有一个LED读数。有一个远程控制器集成到液体光导的工作端，用于控制波长选择。由于远程控制器是集成的，因此没有单独的电线、连接或控制来安装。可选的脚踏开关可用于免提操作。

质量保证和质量控制法规，如ISO 9000、GLP、GMP和药典，要求公司验证使用中的任何分光光度计是否始终在高水平上运行。Hellma Analytics认证的标准物质可用于测试以下参数：波长精度、光度精度、杂散光和紫外/可见分光光度计的光谱分辨率。

质量保证和质量控制法规，如ISO 9000、GLP、GMP和药典，要求公司验证使用中的任何分光光度计是否始终在高水平上运行。Hellma Analytics认证的标准物质可用于轻松有效地测试以下参数：波长精度、光度精度、杂散光和UV/VIS分光光度计的光谱分辨率。

质量保证和质量控制法规，如ISO 9000、GLP、GMP和药典，要求公司验证使用中的任何分光光度计是否始终在高水平上运行。Hellma Analytics认证的标准物质可用于轻松有效地测试以下参数：波长精度、光度精度、杂散光和UV/VIS分光光度计的光谱分辨率。

质量保证和质量控制法规，如ISO 9000、GLP、GMP和药典，要求公司验证使用中的任何分光光度计是否始终处于高水平。HELLMA Analytics认证的标准物质可用于轻松有效地测试以下参数：波长精度、光度精度、杂散光和紫外/可见分光光度计的光谱分辨率。

质量保证和质量控制法规，如ISO 9000、GLP、GMP和药典，要求公司验证使用中的任何分光光度计是否始终处于高水平。HELLMA Analytics认证的标准物质可用于轻松有效地测试以下参数：波长精度、光度精度、杂散光和紫外/可见分光光度计的光谱分辨率。

质量保证和质量控制法规，如ISO 9000、GLP、GMP和药典，要求公司验证使用中的任何分光光度计是否始终在高水平上运行。HELLMA Analytics认证的标准物质可用于轻松有效地测试以下参数：波长准确度、光度准确度、杂散光和紫外/可见分光光度计的光谱分辨率。

质量保证和质量控制法规，如ISO 9000、GLP、GMP和药典，要求公司验证使用中的任何分光光度计是否始终在高水平上运行。Hellma Analytics认证的标准物质可用于测试以下参数：波长精度、光度精度、杂散光和紫外/可见分光光度计的光谱分辨率。

CropScan 1000B近红外透射分析仪设计用于测量小麦、大麦、油菜、高粱、燕麦、小黑麦、大豆、玉米、水稻、豌豆、豆类等全谷物中的蛋白质、油、淀粉、纤维和水分。CropScan 1000B使用一杯500毫升的谷物倒入料斗中。谷粒落入测量单元中，在测量单元中收集10次扫描并进行平均，以在大约35秒内提供结果。CropScan 1000B提供了一个可选的测试重量模块，以便自动计算测试重量或百升重量。可以使用键盘将筛分重量和保留重量输入到CropScan 1000B中，以便计算所有参数并显示在屏幕上。CropNet谷物数据管理和地磅软件可在PC中操作，以读取地磅监视器并生成负载报告。CropNet将数据存储到PC中，并可以将数据发布到互联网上，以便使用智能手机、平板电脑或PC进行远程查看。

农场分析仪上的CropScan 1000H可测量小麦、大麦、高粱、燕麦、大米、大豆、鹰嘴豆、小扁豆、羽扇豆、蚕豆、油菜和其他种子和谷物中的蛋白质、油和水分。易于使用，坚固耐用，可靠且经济实惠。

CropScan 2000B是一款灵活的近红外透射分光光度计，能够测量谷物、油籽、面粉、粗粉和其他加工谷物产品中的蛋白质、油、淀粉、纤维和水分。CropScan 2000B使用一系列专为不同应用设计的样品池。有3个谷物细胞，即8毫米-油菜和亚麻籽，16毫米-小麦，大麦，燕麦，高粱，水稻，扁豆，和24毫米-玉米，大豆，羽扇豆，鹰嘴豆，豆类。有2个用于粉末和浆料的挤压单元。有一个10毫米的液体池，可用于油和其他透明液体。CropScan 2000B具有内置打印机，可连接到外部电子秤，用于测量测试重量。CropNet谷物数据管理软件可与CropScan 2000B一起使用，以存储和管理数据，并将其发布到互联网上，以便使用智能手机、平板电脑或PC进行远程查看。

CropScan 3000B近红外透射分析仪设计用于测量小麦、大麦、油菜、高粱、燕麦、小黑麦、大豆、玉米、大米、豌豆、豆类等全谷物中的蛋白质、水分、淀粉、纤维和油。内置的触摸屏电脑提供了一种测量各种谷物样品的方法，而且还增加了有关谷物的存储和质量信息，包括：测试重量、筛选、保留、品种、等级、吨位、存储位置。CropScan 3000B使用倒出测量池，该测量池具有针对每种谷物类型的自动路径长度选择。选择产品后，CropScan 3000B会调整测量单元的路径长度，以提供较佳扫描。CropScan 3000B可以连接到第二个屏幕，其中CropNet谷物数据管理软件与CR3000B操作软件并行运行。地磅监控器可通过USB端口和电缆连接到CR3000B，以便自动获取负载重量。或者，可以将条形码阅读器和电子秤连接到CR3000B USB端口，以记录现场试验测试中使用的袋子重量和样品ID。CropNet软件将数据发布到互联网上，可以使用智能手机、平板电脑或个人电脑远程查看。

CropScan 3000F面粉和谷物分析仪是一种近红外透射分光光度计，能够在不到60秒的时间内测量谷物中的蛋白质和水分，以及面粉中的蛋白质、水分、灰分、吸水性和淀粉损伤。CropScan 3000F使用旋转样品盘收集谷物、油籽、粗面粉、面粉、粗粉和其他粉状材料的多个扫描。可以收集多达30个子扫描并进行平均，以提供更精确的测量。样品装载简单快捷。对于面粉加工和面食制造行业，CropScan 3000F是先进个为全谷物和粉末提供简单而精确的测量系统的NIR分析仪。内置的触摸屏PC为用户提供了一个简单的界面，但却是一个全面的软件，用于存储和管理为即将到来的谷物、加工中的面粉流以及成品面粉和膳食产品收集的数据。PC包括无线和以太网连接，因此数据可以通过公司网络无缝传输。

CropScan 3000S On Silo Analyser设计用于测量流经螺旋钻、传送带或气动泵的谷物和油籽中的蛋白质、水分和油。该系统由安装在环境外壳中的近红外光谱仪、触摸屏PC、大幅面数字显示器、远程采样头和光纤电缆组成。CropScan 3000S设计用于捕获流经远程采样头的谷物样本，其中部分谷物落入远程采样头。NIR光穿过颗粒，然后由光纤电缆收集，该光纤电缆将光发送回NIR光谱仪。谷粒从远程采样头落回到流动的谷粒流中，或者落到收集仓中，在收集仓中可以收集流动的平均样品。然后大约每7-12秒重复该过程。使用触摸屏界面的PC控制远程采样头和近红外光谱仪。PC计算蛋白质、水分和油数据，并使用无线调制解调器或以太网电缆将数据发送到互联网或另一台PC。可以使用PC、平板电脑或智能手机监控数据。

CropScan 3300H是一款功能强大的近红外透射光谱仪，能够测量谷物和油籽在联合收割机中剥离时的蛋白质、油和水分。CropScan 3300H在谷物从净谷升运器取样时对其进行测量。当光线穿过样品时，谷物落入远程采样头中，在那里停留几秒钟。光纤电缆收集传输的光，并将其发送到位于机舱内的近红外光谱仪。安装在舱内的触摸屏平板电脑控制系统，并实时显示蛋白质、油和水分数据。每7-12秒收集一次数据，并将其显示在触摸屏PC上，显示面元平均值、场平均值和实时蛋白质图谱。该软件将数据发送到互联网上，可以使用PC、平板电脑或智能手机进行监控。联合收割机分析仪上的CropScan 3300H已安装在世界各地的John Deere、Case、New Holland、Claas、Massey Ferguson和Gleaner联合收割机上。

通过将CropScan 3000B全谷物分析仪、SieVematic II测试重量和筛选分析仪以及CropNet谷物数据管理软件连接在一起，开发了CropScan自动谷物测试系统，以实现谷物测试自动化。CropScan 3000B近红外透射分析仪设计用于测量小麦、大麦、油菜、高粱、燕麦、小黑麦、大豆、玉米、大米、豌豆、豆类等全谷物中的蛋白质、水分、淀粉、纤维和油。该系统从SIEVEMATIC II测试重量和筛选分析仪开始。将1升谷物样品倒入顶部料斗中，其中500ml滴入与测压元件连接的元件中。用刷子擦去多余的谷物，然后通过侧斜槽落入CropScan 3000B谷物分析仪的料斗中。对500mm的谷物进行称重，计算出试重并显示在液晶显示屏上。谷物落入位于SieVematic谷物摇动器上的筛子中，该摇动器自动开始摇动该样品40次。同时，CropScan 3000B开始分析其料斗中的多余谷物，以测量蛋白质、油、水分等。谷物摇动器停止后，操作员移开筛子，将筛渣倒入预称的杯子中，并将杯子放在筛子上的内置天平上。记录筛渣的重量，并将测试重量和筛渣重量发送到CropScan 3000B，以便与蛋白质、水分和油数据以及品种、等级、储存位置等结合起来。第二个屏幕连接到CropScan 3000B，其中CropNet谷物数据管理软件与CR3000B操作软件并行运行。地磅监控器可通过USB端口和电缆连接到CR3000B，以便自动获取负载重量。或者，可以将条形码阅读器和电子秤连接到CR3000B USB端口，以记录现场试验测试中使用的袋子重量和样品ID。CropNet软件将数据发布到互联网上，可以使用智能手机、平板电脑或个人电脑远程查看。

交叉极化波（XPW）的产生是一个非线性三阶过程，在此过程中基波和产生的波具有相同的频率。然而，所产生的波与泵浦波偏振垂直偏振。在XPW产生过程中，相位匹配发生在大带宽上。这意味着基波和XPW具有相同的相速和群速。交叉极化波（XPW）的产生过程由晶体的三阶非线性和张量的各向异性驱动。用于交叉偏振波（XPW）产生的典型光学材料是具有Z（-#91；001-#93；）或全息（-#91；011-#93；）晶体取向的氟化钡（BaF2）晶体。理论预测，当使用-#91；011-#93；-切割BaF2晶体时，较大XPW能量转换效率约为35%，伴随的脉冲缩短因子为√3，对应于纯三阶非线性过程。

交叉极化波（XPW）的产生是一个三阶非线性过程，在这个过程中，基波和产生的波具有相同的频率。然而，所产生的波与泵浦波偏振垂直偏振。在XPW产生过程中，相位匹配发生在大带宽上。这意味着基波和XPW具有相同的相速度和群速度。交叉偏振波（XPW）的产生过程是由晶体的三阶非线性和张量的各向异性驱动的。用于交叉偏振波（XPW）产生的典型光学材料是具有Z（-#91；001-#93；）或全息（-#91；011-#93；）晶体取向的氟化钡（BaF2）晶体。理论预测，当使用-#91；011-#93；-切割BaF2晶体时，较大XPW能量转换效率约为35%，伴随的脉冲缩短因子为√3，对应于纯三阶非线性过程。

交叉极化波（XPW）的产生是一个非线性的三阶过程，在此过程中基波和产生的波具有相同的频率。然而，所产生的波与泵浦波偏振垂直偏振。在XPW产生过程中，相位匹配发生在大带宽上。这意味着基波和XPW具有相同的相速和群速。交叉极化波（XPW）的产生过程由晶体的三阶非线性和张量的各向异性驱动。用于交叉偏振波（XPW）产生的典型光学材料是具有Z（-#91；001-#93；）或全息（-#91；011-#93；）晶体取向的氟化钡（BaF2）晶体。理论预测，当使用-#91；011-#93；-切割BaF2晶体时，较大XPW能量转换效率约为35%，伴随的脉冲缩短因子为√3，对应于纯三阶非线性过程。

ISOTECH提供各种千分尺驱动的交叉滚轮定位平台，行程范围为0.25″至3.0″。所有装置均提供X、XY和XYZ配置，可承载从23磅到160磅的负载。直线定位精度为每英寸行程0.0001″。所有定位载物台型号均配有英制或公制千分尺和安装孔。大多数型号都配有锁定千分尺，所有型号都配有我们的Posi-Lock摩擦锁定机构，以固定工作台。