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传感器类型: CMOS # 像素(宽度): 640 # 像素(高度): 480
我们有Daycor®Superb™可供租赁或购买!2020!Daycor®摄像机可精确定位并可视化电晕、电弧、微电弧和局部放电事件的准确位置。电晕和电弧可导致绝缘子、电晕环和电气机械故障损坏。这可能导致掉线,旱季可能发生森林火灾,以及音频噪音和广播/电视干扰。使用我们的租赁电晕相机,以确保没有危险的问题。它将帮助您找到并纠正电晕放电,以防止意外停电。使用该摄像机定期正确检查架空线路和变电站的破坏性电晕活动。Daycor®Superb™非常易于操作!这是一款手持便携式双光谱100%日盲电晕相机,可实时显示覆盖在可见彩色视频图像上的紫外线电晕放电。在透射反射LCD屏幕上的UV和可见图像显示之间没有时间延迟。经认证的较高灵敏度,让您不会错过微弱放电!Daycor®高效折反射宽带镜头系统采用特殊的UV玻璃光学器件以及高性能Lindner SolarBlind UVC通带滤光片和高灵敏度高分辨率检测系统,使Daycor®Superb™成为目前较高灵敏度的SolarBlind相机。它具有5ºX 3.75º的光学视野,可为架空线路和变电站提供较佳的图像细节。2个4倍数码变焦。DAYCOR®是一款出色的检测系统,可用于定位240-280 nm光谱范围内的各种其他紫外线和紫外线源。它很容易发现绝缘子和硬件上的电晕,以进行损坏评估,是对架空线路和变电站组件进行经济高效的预测性维护的理想解决方案。凭借其高灵敏度,DAYCOR®也非常适合检测发电机和电机定子电晕和局部放电。
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波长: 351nm 空间分辨率: 1um 处理区: Not Specified 最大峰值功率: 1 - 100kW
现在可以从其他几种不同的激光源获得UV光子,但是准分子激光器尽管有缺点,但仍然可以做其他激光器不能做的事情,并且在某些情况下(在近中心上有许多小孔),它们可以是经济的,因为它们使用掩模成像而不是单点钻孔。谐振腔配置产生对于近场成像理想的光束,并且激光束的高峰值功率允许在很少或没有热影响区的情况下烧蚀目标材料。193-351 nm光学波长范围允许在目标表面上生成高分辨率(~1µm)特征,浅吸收深度允许通过控制所施加的脉冲数量来严格控制特征深度。大的光束横截面可容纳用于近场成像的大成像掩模。光加工工程师在准分子激光合同制造和系统设计方面拥有丰富的经验。我们可以将定制配置与简单的成像集成,一直到多轴运动、复杂的光学系统和机器视觉。还可以通过净化光束传输将光学缩小2倍至30倍。准分子生产工具是完全封闭和联锁的,符合所有CDRH I类要求。集成气体柜确保气体管道的污染较小。所有准分子系统都使用光加工控制软件。我们设备齐全的准分子实验室使我们能够在系统设计和建造之前进行原理验证。通常使用工作频率高达200 Hz、平均功率为60 W的光机和相干准分子激光器KrF(248 nm),尽管更高功率的激光器可用于高通量应用。
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材料: BK7 尺寸: 35mm 尺寸: 15mm 尺寸: 10mm 安装: Unmounted
www.xfphotonics.com// 函数mm_preLoadImages(){//v3.0
Var d=文档;如果(d.images){如果(!d.mm_p)d.mm_p=新数组();
var I,J=d.mm_p.length,a=mm_preloadImages.arguments;对于(I=0;Iif(a[I].indexOf(“#”)!=0){d.mm_p[J]=新图像;d.mm_p[J++].SRC=a[I];}}
}
函数mm_swapImgrestore(){//v3.0
变量I,X,a=document.mm_sr;对于(I=0;a&I}
函数mm_findobj(n,d){//v4.01
变量p,I,X;如果(!d)D=文件;if((p=n.indexOf(“?”))>0&parent.frames.length){
d=parent.frames[n.substring(p+1)].document;n=n.子串(0,p);}
如果(!(X=d[n])&&d.all)X=d.all[n];对于(I=0;!X&&I对于(I=0;!X&&d.层&&I 如果(!X&&d.getElementById)X=d.getElementById(n);返回X;
}
函数mm_swapimage(){//v3.0
var I,J=0,X,a=mm_swapimage.arguments;document.mm_sr=新数组;对于(I=0;I<(a.长度-2);I+=3)
如果((X=mm_findobj(a[I])))!=null){document.mm_sr[J++]=X;如果(!X.osrc)X.osrc=X.SRC;X.SRC=A[I+2];}
}
// ]]>道威棱镜是由H.W.Dove发明的一种棱镜。它类似于普通直角棱镜的一半,其中平行于斜边面进入的光线在该面发生内部反射,并平行于其入射方向出射。其中一条入射光线沿着其入射方向的延长线射出,如果棱镜绕该光线旋转某个角度,则图像会旋转该角度的两倍。道威棱镜只能用于平行光。 -
分散: 8nm/mm 波长范围: 200 - 400 nm 频谱长度: 25mm F/Number: 3.2 沟槽密度: 600l/mm
IV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上,使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的,并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正,这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时,通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上,并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散,因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。
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分散: 16nm/mm 波长范围: 400 - 800 nm 频谱长度: 25mm F/Number: 3.2 沟槽密度: 300l/mm
IV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上,使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的,并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正,这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时,通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上,并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散,因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。
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分散: 24nm/mm 波长范围: 200 - 800 nm 频谱长度: 25mm F/Number: 3.2 沟槽密度: 200l/mm
IV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上,使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的,并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正,这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时,通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上,并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散,因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。
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分散: 36nm/mm 波长范围: 300 - 1170 nm 频谱长度: 25mm F/Number: 3.2 沟槽密度: 138l/mm
IV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上,使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的,并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正,这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时,通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上,并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散,因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。
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分散: 40nm/mm 波长范围: 200 - 1200 nm 频谱长度: 25mm F/Number: 3.2 沟槽密度: 120l/mm
IV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上,使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的,并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正,这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时,通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上,并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散,因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。
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分散: 48nm/mm 波长范围: 200 - 1400 nm 频谱长度: 25mm F/Number: 3.2 沟槽密度: 100l/mm
IV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上,使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的,并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正,这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时,通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上,并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散,因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。
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分散: 4nm/mm 波长范围: 300 - 400 nm 频谱长度: 25mm F/Number: 3.2 沟槽密度: 1200l/mm
IV型像差校正平场和成像光栅被设计为将光谱聚焦到平面表面上,使其非常适合与线性或2-射线探测器一起使用。这些光栅由既不等间距也不平行的凹槽制成,并经过计算机优化,以在探测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正,这些IV型像差校正了平场成像。与传统的I型罗兰圆凹面光栅相比,该光栅提供了更好的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的面探测器时,通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上,并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散,因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。