FIS在货架上备有您需要的跳线。从我们的大量库存中选择单模和多模跳线。FIS库存跳线采用较流行的连接器组合。使用可靠耐用的陶瓷套圈组装，您可以选择PC、UPC和APC抛光表面。大多数电缆组件样式可以是单工或双工。多模跳线有50/125或62.5/125两种版本。

与XUL系列一样，XRF光谱仪Fischerscope®X-Ray XAN®非常适合分析形状简单的样品。然而，XanSeries的一大优势在于其高质量的半导体探测器。X射线荧光（XRF）不仅可以测量涂层的厚度，还可以分析合金的成分（例如，G。铜）。XanSeries总共包括5台台式XRF光谱仪，涵盖了广泛的应用。XAN215具有高性价比的PIN检测器。它非常适合简单的涂层厚度任务，例如铁或Au/Ni/Cu上的锌。对于使用合金或贵金属的更复杂的应用，我们建议使用我们的带有硅漂移探测器的XRF设备（例如Xan220）：由于其分辨率高得多，它可以可靠地区分金和铂。当您需要检测微量重金属和其他有害物质时，Xan250是您的解决方案。

FISCHERSCOPE®X光XUL®系列是每个电镀车间真正的基础设备。这些简单且经济实惠的能量色散X射线荧光XRF分析仪非常适合监测镀液成分，但在质量控制方面，它们也是不可或缺的帮手：坚固耐用，非常适合测量螺母和螺栓等批量生产零件上的电镀层。XUL/XULM系列中的所有XRF光谱仪操作简单直观。较大的样品可以用手简单地放置在测量室中；或者，对于较小的项目，如插头，仪器可以配备手动样品台。虽然测量设备很紧凑，但它们为您的试件提供了足够的空间-高达17厘米。如果您有几个不同的测量任务，FischerScope X射线XULM具有可更换的过滤器和准直器，因此您可以为所有应用创建较佳的测量条件。此外，XULM具有内置的微聚焦管，即使测量点很小，测量层很薄，也能提供精确的结果。

与来自Tucsen的较好SCMOS相机技术一样，FL-20冷却相机在-15°C下工作，可确保长期可靠运行，显著降低暗电流累积导致的热像素，并获得更纯净的荧光背景图像。灵敏度是CCD的两倍以上，满足专业荧光成像的需求。

1英寸图像传感器覆盖了CMount的较佳图像质量FOV；传感器分辨率高达2000万像素，因此即使使用4倍和10倍显微镜物镜成像，也不会损失光学分辨率。FL-20BW基于Tucsen的SCMOS相机专业散热技术，可实现低至0.001E/pixel/s的暗电流水平，显著降低长时间曝光时的热像素噪声。

IV型像差校正平场和成像光栅设计用于将光谱聚焦到平面上，使其非常适合与线性或2-D阵列探测器一起使用。这些光栅是用既不等距也不平行的凹槽制成的，并且经过计算机优化以在检测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正，这些IV型像差校正了平场成像光栅提供比传统的I型罗兰圆形凹面光栅好得多的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的区域检测器时，通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上，并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散，因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。

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IV型像差校正平场和成像光栅被设计为将光谱聚焦到平面表面上，使其非常适合与线性或2-射线探测器一起使用。这些光栅由既不等间距也不平行的凹槽制成，并经过计算机优化，以在探测器平面上形成入口狭缝的近乎完美的图像。由于它们的大光学数值孔径和像差校正，这些IV型像差校正了平场成像。与传统的I型罗兰圆凹面光栅相比，该光栅提供了更好的光收集效率和信噪比。当使用诸如CCD的面探测器时，通常可以将多个源聚焦到入口狭缝上，并独立地评估来自每个源的光谱。这些“成像光栅”几乎没有像散，因此只需要一个固定的光学元件来构建成像光谱仪。

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