McPherson公司的234/302是一台焦距为200nm的像差校正真空单色仪。它提供1200 G/mm光栅的光谱分辨率（FWHM），入射角为32度，并具有可在0.01至3 mm范围内进行微米调节的精密狭缝。单色仪由一个波长计数器和一个手动操作的正弦驱动器组成，可提供精确且可重复的波长定位。它有一个微通道板和CCD适配器，可以使用计算机软件进行扫描。单色仪的光栅尺寸为40 X 45 mm，是深紫外和真空紫外应用的理想选择。

McPherson的248/310型是一种掠入射紫外单色仪，采用罗兰圆配置。该器件工作波长为1~310nm，焦距为1m，光谱分辨率高达0.16nm.它具有20mm×25mm的光栅尺寸，并且该单色仪上的掠射角提高了反射效率，从而确保了良好的聚焦和光谱分辨率。该单色仪由一个弦长仪组成，并具有一个可手动操作的波长驱动器，用于精确和可重复的波长定位。它配备了可调狭缝、真空光栅调焦、高精度波长驱动和滤光片插入滑块。根据应用，该仪器的入射角可以从84度到88度。它采用紧凑的外壳形式，是XUV、软X射线（SXR）和极端紫外线应用的理想选择。

OSI Optoelectronics的FCI-GaAs-xxM是一款光电二极管，波长范围为650至860 nm，带宽为2 GHz，电容为0.65 PF，暗电流为0.03 nA，响应度/光敏度为0.63 A/W.有关FCI-GaAs-xxM的更多详细信息，请联系我们。

OSI Optoelectronics的FCI-InGaAs-Qxxx系列是一款光电二极管，波长范围为900至1700 nm，电容为25至225 PF，暗电流为0.5至100 nA，响应度/光敏度为0.85至0.95 A/W，上升时间为3至24 ns.有关FCI-InGaAs-Qxxx系列的更多详细信息，请联系我们。

OSI Optoelectronics的FCI-InGaAs-xxM系列是一款光电二极管，波长范围为900至1700 nm，带宽为2 GHz，电容为0.65 PF，暗电流为0.03 nA，响应度/光敏度为0.95 A/W.有关FCI-InGaAs-xxM系列的更多详细信息，请联系我们。

Vishay Intertechnology的VEMT3700F是一款硅NPN光电晶体管，光谱带宽为870至1050 nm.它具有与870至950 nm红外发射器匹配的日光阻挡滤光片，并且具有±60度的半灵敏度角度。该光电晶体管的最小集电极-发射极（C-E）击穿电压为70 V，C-E暗电流高达200 nA，C-E电容为3 PF.上升/下降时间为2-6μs，截止频率为180 kHz.这款光电晶体管采用表面贴装微型PLCC-2封装，尺寸为3.5 X 2.8 X 1.75 mm，非常适合光断续器、微型开关、计数器、编码器和位置传感器应用。

安立公司（Anritsu Corporation）的MS9740B-009是一款光谱分析仪，可测量600至1750 nm的波长。它的光学灵敏度范围为-90至+23 dBm，动态范围为57-70 dB.该频谱分析仪的波长精度为±50至±300 pm，波长稳定性为±5 pm.它具有超过32dB的光回波损耗和0.2至0.65秒的扫描时间。该频谱分析仪支持SM光纤、50μm/125μm GI光纤、62.5μm/125μm GI光纤、PC连接器SM和GI光纤。它可以通过以太网和GPIB接口进行远程控制，并支持连接到外部VGA显示器。MS9740B-009具有支持调制信号的信号电平积分功能，并可以使用噪声拟合函数准确估计噪声位置。它支持光轴对准、波长校准和有效分辨率校准功能。该频谱分析仪具有用于评估器件的光学有源器件（LD模块、DF-LD、FP-LD、LED、PMD、WDM、OPT AMP和WDM滤波器）测量菜单屏幕。它支持关键评估项目的一次性测量，如光学中心波长、电平、OSNR、光谱宽度等，并在一个屏幕上显示这些结果。该频谱分析仪需要100-120 V或200-240 V的交流电源，功耗为75 W.它采用台式模块，尺寸为426 X 177 X 350 mm，具有FC、SC、ST和DIN光纤连接器。该频谱分析仪是光收发器测量、LD模块测试分析、光学芯片/CAN器件评估、EDFA分析、光学放大器应用分析、窄带滤波器分析、透射率评估、插入损耗评估和WDM应用的理想选择。

普惠测量系统公司（Pratt&Whitney Measurement Systems）的LMS200是一种激光干涉仪，通过将测量探头位置与632.8nm红色氦氖激光光源的波长进行比较来测量内部和外部尺寸。该专利激光路径与测量轴一致，消除了阿贝误差。它有一个花岗岩底座，其热膨胀系数比钢小十倍以上，使该干涉仪成为高度稳定的测量源。该干涉仪的精度为0.05+0.5Lµm，重复性为0.04µm.它的测量范围高达200 mm，直接读数范围为200 mm.LMS200干涉仪有一个碳化钨平板（1/10波）测量探头，带有Ø0.25金刚石尖端。探头是电动和远程控制的，以提高系统稳定性并消除操作员的影响。它可以测量最大尺寸为293 X 203 mm的样品，并具有14克的探针接触力。该干涉仪具有两步校准功能，这是一种先进的省时功能，允许使用两个实验室级别的可追踪量块进行校准，从开始到结束仅需30秒。它可以在直接读取或比较器模式下工作，并具有可编程自动循环功能，支持用户定义的恒定吞吐速率。该干涉仪根据命令存储所有测量结果的总和，并可显示统计数据，指示计算的平均值和一个标准偏差。LMS200需要110/120至220/240 V的交流电源，并消耗1-2 A的电流。它采用尺寸为56 X 41 X 79 cm的封装，非常适合测量球/球体、磁带/磁盘基板、光学元件、聚乙烯薄膜、量块/滑规、涂层厚度标准、塞规和销规、丝线、薄膜厚度、量块堆叠、网格厚度、纺织品和精密零件。

来自Xonox Technology GmbH的X-FIZ 100 ECO是一种相移斐索干涉仪，具有130万像素的单色相机。它具有远程控制，定位电动焦点调节和10倍光学放大变焦。该干涉仪具有632.8nm HeNe激光源，其产生2mW Class-1偏振输出。它可以通过带有有线遥控器的USB 3.0接口进行控制，并具有用于变焦和对焦的旋转定位控制器。X-FIZ 100 ECO具有刚性框架和坚固的光学机械设计，可确保在安装时和随着时间的推移保持对准。它有一个带自动饱和调节的智能电子衰减器和一个带Tip-Tilt TS支架的压电移相器，该支架与Zygo式卡口和XonOx 4+光学连接器兼容。该干涉仪需要110-240 V的交流电源，采用310 X 285 X 595 nm的封装。

Thorlabs公司的ODL220是一种光学延迟线，其最大光学延迟为1470 PS.它具有0.67fs的延迟偏移和81.7mm的波束高度。该光学延迟线包括直流伺服台、控制器、带底座的低色散镀银回射器光学器件和两个插入式光阑，该光阑具有四个用于对准的安装位置。它在平移台的一端有一个刀口棱镜，将光束反射到平移平台上的两个V形块安装的镜子。该光学延迟线具有带线性轴承的无刷直流电机，行程范围为220mm.该模块的尺寸为370 X 90 X 44 mm.

来自Vixar的795S-0000-x002，是波长为795nm具有TO-46封装的单模窄线宽VCSEL激光器。输出功率为0.06-0.17mW@85℃，0.1-0.25mW@25℃，0.04-0.16mW@95℃，阈值电流为0.6-0.9mA，线宽≤100MHz，调制带宽≥4GHz，符合行业标准PLCC4 SMT封装或行业标准PLCC2 SMT封装。可应用于位置传感、运动控制、医疗设备、印刷、测量和光谱传感（如原子钟）。该产品是专为低功耗、偏振和光谱稳定性而设计。

标准设置，干涉仪模块位于花岗岩工作台底部，与Z轴对齐 - 测量球形部件的理想工具。 多种选件使这些测量设备能够适应不同的测量任务。 - 微型光学元件的测量范围可达直径60mm。 - 设计紧凑，可用于生产 安装在减震花岗岩台面上。带4个减震元件的被动减震系统。 全面的模块化系统允许所有轴的配置，在轴承（摩擦或交叉滚柱轴承）和通过滚珠丝杠主轴的工作台驱动（手动或电动）方面，可根据具体应用进行理想的定制。 OptoTech干涉仪模块 检查微型EL-F数字式，带60毫米扩束器 使用高质量的OptoTech 60mm基准球测量微光学元件，测量精度为 λ/20 - 集成数字位置传感器（海德汉线性光栅尺），分辨率为 1µm，用于测量测试半径。

优化用于生产 测量装置由天然硬石制成，门式结构，被动气浮，水平调节 干涉仪模块反向安装在X轴上 X/Y/Z/B轴可通过电机调节。可通过操纵杆移动。测量位置可保存 适用于CX和CV圆柱和平面光学元件 通过使用计算机生成的全息图（CGH）将准直波面分割为一维，以创建圆柱波面。 包括集成 PC 工作站 OptoTech软件与Zygo MX相结合 全自动测量单个圆柱段

刚性花岗岩底座和被动式空气阻尼器 Z轴配置的高精度半径滑轨 安装在B轴上的反向设计的干涉仪模块 高分辨率旋转轴（B 轴），用于将干涉仪单元垂直于基片表面定位 直接驱动旋转轴（C轴），用于旋转光路中的高孔径球面和平面 OptoTech Inspect Mini EL-F 数字式 2" 菲佐干涉仪模块 设计紧凑，集成 PC 工作站 操作： 传统（手动）或使用μStitch MSI软件进行自动轴控制 OptoTech干涉仪软件 μShape OWI用于自动透镜评估

新型多功能缝合干涉仪MSI 300专为测试直径达300毫米的高孔径球体而设计。可选配最大300毫米的平面光学测量仪 刚性花岗岩底座和无源空气轴承 Z轴调整中的高精度半径滑块 MAHR MarOpto FI 1100 Z干涉仪模块 带X/Y轴十字滑台的反向设计干涉仪模块 高分辨率旋转轴（B轴），用于在光路中定位高孔径球体 直接驱动旋转轴（C轴），用于旋转光路中的高孔径球和可选平面 标准工件夹头HD-40（可选配其他夹头） OptoTech Inspect Mini EL-F数字式4 "菲佐干涉仪模块（其它模块可根据要求提供） 设计紧凑，集成PC工作区 操作 传统（手动）或使用μStitch MSI软件进行自动轴控制

高精度减震花岗岩底座，安装在被动式4点减震系统上 通过对称门户结构避免静态相关的干扰因素 节省空间的显示器集成。监测台不直接安装在测量结构上，以获得更好的测量结果。 通过带集成三轴微调的空气轴承滑台平稳、精确地定位测试对象 可调节的监测器支架 提供不同的功能强大的干涉仪模块（MAHR MarOpto FI 1100 Z 或 Zygo Verifire）和舒适的软件解决方案，用于评估测量结果。

刚性门式结构上的垂直梁导向 安装在减震花岗岩底座上 被动式空气减震器 用于放大干涉图像的电动变焦装置 用于横向定位的空气轴承台 尖端和倾斜装置 安全气壳

在解决特定分析任务时，选择理想的取样技术至关重要。布鲁克公司的 MPA II 为用户的日常质量保证/质量控制工作以及复杂的方法开发研究提供了全面的解决方案。 开始时，用户往往不清楚哪种取样方法最理想。有了 MPA II，只需运行几种方法，然后选择最合适的选项即可。 由于 MPA II 采用模块化设计，因此可以很容易地根据用户需求对仪器进行改装。仪器坚固耐用，既可用于实验室，也可用于工厂车间。它甚至可以放置在多功能推车上进行移动应用。

CAVILUX HF 是一种坚固耐用、用途广泛的高性能脉冲二极管激光光源，非常适合高速相机。它也是工业和科学研究与开发工作的多功能优秀工具。 材料测试、焊接、弹道和爆炸以及流动和喷雾研究都是 CAVILUX HF 的标准应用实例。该光源可与阴影成像和 Schlieren 光学解决方案配合使用。 CAVILUX HF 的最大占空比很高（2%），因此帧频可达每秒几十万帧（fps）。

XRE 镜头具有独特的光学设计，专门用于测量虚拟现实、混合现实和增强现实头显中的近眼显示。这种透镜具有电子聚焦功能，还提供双眼测量以及折叠和非折叠配置。镜头设计模拟人眼的位置、大小和视野，用于测量头显。