• 单色仪光栅 522 00 410 衍射光学元件
    美国
    光谱范围: 400 - 800 nm 分散: 0.5nm/mm 沟槽密度: 2000l/mm 偏差 D: 3deg

    使用IV型像差校正单色器光栅,单个凹面光栅将来自入口狭缝的光分散、准直并重新聚焦到出口狭缝上。通过光栅的简单旋转获得波长扫描。这些光栅的凹槽间距是计算机优化的,以产生具有较小值的高质量图像像散和彗差,即使在大数值孔径下。与Czerny-Turner单色仪(配有一面平面光栅、一面准直镜和一面聚焦镜)相比,像差校正单色仪光栅提供了更好的光收集效率和信噪比。

  • 单色仪光栅 522 00 450 衍射光学元件
    美国
    光谱范围: 200 - 800 nm 分散: 2.2nm/mm 沟槽密度: 1484l/mm 偏差 D: 46.4deg

    使用IV型像差校正单色器光栅,单个凹面光栅将来自入口狭缝的光分散、准直并重新聚焦到出口狭缝上。通过光栅的简单旋转获得波长扫描。这些光栅的凹槽间距是计算机优化的,以产生具有较小值的高质量图像像散和彗差,即使在大数值孔径下。与Czerny-Turner单色仪(配有一面平面光栅、一面准直镜和一面聚焦镜)相比,像差校正单色仪光栅提供了更好的光收集效率和信噪比。

  • 单色仪光栅 522 00 470 衍射光学元件
    美国
    光谱范围: 175 - 520 nm 分散: 0.5nm/mm 沟槽密度: 1500l/mm 偏差 D: 61.2deg

    使用IV型像差校正单色器光栅,单个凹面光栅将来自入口狭缝的光分散、准直并重新聚焦到出口狭缝上。通过光栅的简单旋转获得波长扫描。这些光栅的凹槽间距是计算机优化的,以产生具有较小值的高质量图像像散和彗差,即使在大数值孔径下。与Czerny-Turner单色仪(配有一面平面光栅、一面准直镜和一面聚焦镜)相比,像差校正单色仪光栅提供了更好的光收集效率和信噪比。

  • 单色仪光栅 522 00 480 衍射光学元件
    美国
    光谱范围: 400 - 1200 nm 分散: 3.3nm/mm 沟槽密度: 1000l/mm 偏差 D: 46.4deg

    使用IV型像差校正单色器光栅,单个凹面光栅将来自入口狭缝的光分散、准直并重新聚焦到出口狭缝上。通过光栅的简单旋转获得波长扫描。这些光栅的凹槽间距是计算机优化的,以产生具有较小值的高质量图像像散和彗差,即使在大数值孔径下。与Czerny-Turner单色仪(配有一面平面光栅、一面准直镜和一面聚焦镜)相比,像差校正单色仪光栅提供了更好的光收集效率和信噪比。

  • 单色仪光栅 522 00 500 衍射光学元件
    美国
    光谱范围: 1200 - 2400 nm 分散: 3nm/mm 沟槽密度: 570l/mm 偏差 D: 38deg

    使用IV型像差校正单色器光栅,单个凹面光栅将来自入口狭缝的光分散、准直并重新聚焦到出口狭缝上。通过光栅的简单旋转获得波长扫描。这些光栅的凹槽间距是计算机优化的,以产生具有较小值的高质量图像像散和彗差,即使在大数值孔径下。与Czerny-Turner单色仪(配有一面平面光栅、一面准直镜和一面聚焦镜)相比,像差校正单色仪光栅提供了更好的光收集效率和信噪比。

  • 单色仪光栅 522 00 510 衍射光学元件
    美国
    光谱范围: 380 - 740 nm 分散: 8nm/mm 沟槽密度: 1800l/mm 偏差 D: 38deg

    使用IV型像差校正单色器光栅,单个凹面光栅将来自入口狭缝的光分散、准直并重新聚焦到出口狭缝上。通过光栅的简单旋转获得波长扫描。这些光栅的凹槽间距是计算机优化的,以产生具有较小值的高质量图像像散和彗差,即使在大数值孔径下。与Czerny-Turner单色仪(配有一面平面光栅、一面准直镜和一面聚焦镜)相比,像差校正单色仪光栅提供了更好的光收集效率和信噪比。

  • 单色仪光栅 522 00 540 衍射光学元件
    美国
    光谱范围: 400 - 1100 nm 分散: 9nm/mm 沟槽密度: 670l/mm 偏差 D: 27deg

    使用IV型像差校正单色器光栅,单个凹面光栅将来自入口狭缝的光分散、准直并重新聚焦到出口狭缝上。通过光栅的简单旋转获得波长扫描。这些光栅的凹槽间距是计算机优化的,以产生具有较小值的高质量图像像散和彗差,即使在大数值孔径下。与Czerny-Turner单色仪(配有一面平面光栅、一面准直镜和一面聚焦镜)相比,像差校正单色仪光栅提供了更好的光收集效率和信噪比。

  • 单色仪光栅 522 00 600 衍射光学元件
    美国
    光谱范围: 1000 - 2400 nm 分散: 9.6nm/mm 沟槽密度: 500l/mm 偏差 D: 41.3deg

    使用IV型像差校正单色器光栅,单个凹面光栅将来自入口狭缝的光分散、准直并重新聚焦到出口狭缝上。通过光栅的简单旋转获得波长扫描。这些光栅的凹槽间距是计算机优化的,以产生具有较小值的高质量图像像散和彗差,即使在大数值孔径下。与Czerny-Turner单色仪(配有一面平面光栅、一面准直镜和一面聚焦镜)相比,像差校正单色仪光栅提供了更好的光收集效率和信噪比。

  • 单色仪光栅 532 00 110 衍射光学元件
    美国
    光谱范围: 190 - 800 nm 分散: 8nm/mm 沟槽密度: 1200l/mm 偏差 D: 61.6deg

    使用IV型像差校正的单色光栅,单个凹面光栅将来自入口狭缝的光分散、准直并重新聚焦到出口狭缝上。通过光栅的简单旋转来获得波长扫描,这些光栅的凹槽间距由计算机优化,以产生具有较小值的高质量图像与Czerny-Turner单色仪(配有一个平面光栅、一个准直镜和一个聚焦镜)相比,IV型像差校正的单色仪光栅提供了更好的光收集效率和信噪比。

  • 单色仪光栅 532 00 520 衍射光学元件
    美国
    光谱范围: 200 - 800 nm 分散: 7nm/mm 沟槽密度: 950l/mm 偏差 D: 40deg

    使用IV型像差校正单色器光栅,单个凹面光栅将来自入口狭缝的光分散、准直并重新聚焦到出口狭缝上。通过光栅的简单旋转获得波长扫描。这些光栅的凹槽间距是计算机优化的,以产生具有较小值的高质量图像像散和彗差,即使在大数值孔径下。与Czerny-Turner单色仪(配有一面平面光栅、一面准直镜和一面聚焦镜)相比,像差校正单色仪光栅提供了更好的光收集效率和信噪比。

  • 单色仪光栅 542 00 160 衍射光学元件
    美国
    光谱范围: 5000 - 10000 nm 分散: 64nm/mm 沟槽密度: 100l/mm 偏差 D: 38deg

    使用IV型像差校正单色器光栅,单个凹面光栅将来自入口狭缝的光分散、准直并重新聚焦到出口狭缝上。通过光栅的简单旋转获得波长扫描。这些光栅的凹槽间距是计算机优化的,以产生具有较小值的高质量图像像散和彗差,即使在大数值孔径下。与Czerny-Turner单色仪(配有一面平面光栅、一面准直镜和一面聚焦镜)相比,像差校正单色仪光栅提供了更好的光收集效率和信噪比。

  • 安装的精密空气缝隙/针孔 光圈
    中国大陆
    分类:光圈
    裂缝宽度: 5-1000um 狭缝长度: 1-9mm 安装: Mounted 部件直径: 25.4mm

    我们的狭缝和针孔可以预先安装在黑色阳极氧化铝外壳中,以提供安全的机械支撑。安装件还装配到各种光学组件中。底座可以清楚地标记孔径/狭缝尺寸,以便于识别。可用狭缝宽度:5–1000µm狭缝长度:3 mm或定制狭缝材料:304不锈钢,或带黑色氧化饰面的304不锈钢外壳:黑色阳极氧化铝,外径Ø1″(25.4mm)X厚度0.10″(2.5mm)未安装的狭缝直径:Ø9.5 mm针孔可用:5um-1000um也可提供未安装的狭缝或未安装的针孔。通过移除扣环,可以将狭缝或针孔从其外壳中取出。

  • NIRQuest512-2.2 光谱仪
    分类:光谱仪
    波长范围: 900 - 2200 nm 决议: 5nm 最短扫描时间: .001sec

    总统的选择!这台NIRQUEST512-2.2近红外光谱仪是我们较喜欢的NIRQUEST装置,大范围,高灵敏度,较佳价值。可租可买!按周或按月租用NirQuest512-2.2,在购买之前验证您的应用程序和系统性能!租赁费用的50%可用于购买新设备(较高为销售价格的50%)。小尺寸光纤USB光谱仪采用冷却增强型InGaAs 512元素探测器阵列,用于900–2200nm波长范围内的光谱测量。25微米狭缝产生5nm量级FWHM的光学分辨率,包括SpectraSuite软件和电源。强大–深热电冷却低至-20°C,实现低暗电流快速–非常适合使用化学计量模型的应用模块化–可配置一系列光源、光纤和配件,以满足您的特定应用

  • NSLI-543-1 N-Slit激光干涉仪 干涉仪
    美国
    分类:干涉仪
    干涉仪配置: Not Specified 光源: 543nm 输出极化: Not Specified 有效值重复性: Not Specified 有效值精度: Not Specified

    通常,基于多棱镜扩束和数字检测,狭缝干涉仪允许透射光学表面的快速干涉测量表征。与传统的逐点非相干显微密度计和逐点非相干显微镜相比,这是一个显著的进步。

  • NSLI-543-2 N-Slit激光干涉仪 干涉仪
    美国
    分类:干涉仪
    干涉仪配置: Not Specified 光源: 543nm 输出极化: Not Specified 有效值重复性: Not Specified 有效值精度: Not Specified

    通常,基于多棱镜扩束和数字检测,狭缝干涉仪允许透射光学表面的快速干涉测量表征。与传统的逐点非相干显微密度计和逐点非相干显微镜相比,这是一个显著的进步。

  • NSLI-594-1 N-Slit激光干涉仪 干涉仪
    美国
    分类:干涉仪
    干涉仪配置: Not Specified 光源: 594nm 输出极化: Not Specified 有效值精度: Not Specified

    通常,基于多棱镜扩束和数字检测,狭缝干涉仪允许透射光学表面的快速干涉测量表征。与传统的逐点非相干显微密度计和逐点非相干显微镜相比,这是一个显著的进步。

  • NSLI-594-2 N-Slit激光干涉仪 干涉仪
    美国
    分类:干涉仪
    干涉仪配置: Not Specified 光源: 594nm 输出极化: Not Specified 有效值重复性: Not Specified 有效值精度: Not Specified

    通常,基于多棱镜扩束和数字检测,狭缝干涉仪允许透射光学表面的快速干涉测量表征。与传统的逐点非相干显微密度计和逐点非相干显微镜相比,这是一个显著的进步。

  • NSLI-632-1 N-Slit激光干涉仪 干涉仪
    美国
    分类:干涉仪
    干涉仪配置: Not Specified 光源: 632 nm or 633nm 输出极化: Not Specified 有效值重复性: Not Specified 有效值精度: Not Specified

    通常,基于多棱镜扩束和数字检测,狭缝干涉仪允许透射光学表面的快速干涉测量表征。与传统的逐点非相干显微密度计和逐点非相干显微镜相比,这是一个显著的进步。

  • NSLI-632-2 N-Slit激光干涉仪 干涉仪
    美国
    分类:干涉仪
    干涉仪配置: Not Specified 光源: 632 nm or 633nm 输出极化: Not Specified 有效值重复性: Not Specified 有效值精度: Not Specified

    通常,基于多棱镜扩束和数字检测,狭缝干涉仪允许透射光学表面的快速干涉测量表征。与传统的逐点非相干显微密度计和逐点非相干显微镜相比,这是一个显著的进步。

  • Ocean Insight火焰光谱仪 光谱仪
    美国
    分类:光谱仪
    厂商:Ocean Insight
    单色仪类型: Not Specified 光栅炽热波长: 190nm 光谱范围: 190 - 1100 nm 光谱分辨率: 0.1nm

    自近25年前生产出世界上先进台微型光谱仪以来,海洋光学一直致力于利用光谱学的力量帮助客户解决问题。我们重新设计了我们的核心光谱仪设计,以改善客户较想要的功能。享受更高的热稳定性,通过切割边缘制造技术减少单元之间的差异,以及可互换狭缝的自由,更简单的设备连接器和LED状态指示灯。用海洋光学公司的新型火焰光谱仪开辟一条发现之路。