CS-TC02: 基于频率调制的激光雷达长度和厚度计量系统

2023-11-17

来源公司：Wavelength Opto-Electronic

在制造光学器件时，确认其符合规格至关重要。在对距离和厚度进行精确测量时，测试可能会对表面造成损坏，而且并非所有光学器件都可以使用非接触式测量技术进行测试。

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