作为块硅中超快激光改性驱动因素的时间对比缺陷

2023-08-30

来源公司：成都禹治科技

尽管最近在硅和其他窄间隙材料内部的三维超快激光写入方面取得了成功，但在已确定的超过材料击穿阈值的窄实验窗口方面仍存在很大差异

作为块硅中超快激光改性驱动因素的时间对比缺陷 文件预览

更多下载

• TC LAB 系列产品手册

  来源公司：Wavelength Opto-Electronic

• WTCP5V5A PWM 温度控制器产品手册

  来源公司：Wavelength Opto-Electronic

• QCL 系列竞争对手噪声比较

  来源公司：Wavelength Opto-Electronic

• 激光驱动器噪声对 QCL 线宽的影响

  来源公司：Wavelength Opto-Electronic

• QCL OEM(+) 系列低噪声 QCL 驱动器手册

  来源公司：Wavelength Opto-Electronic

• QCL OEM 系列低噪声 QCL 驱动器手册

  来源公司：Wavelength Opto-Electronic

• PLD10000 / PLD12500 激光二极管驱动器手册

  来源公司：Wavelength Opto-Electronic

• PLD 系列激光二极管驱动器手册

  来源公司：Wavelength Opto-Electronic