Alluxa推出用于测量高性能薄膜光学过滤器的helix™光谱分析系统
2023-06-26
来源公司：Alluxa
HELIX光谱分析系统重新定义了高性能薄膜光学过滤器的测量能力。HELIX是由Alluxa工程人员设计和开发的仪器，以解决大多数市售分光光度计的局限性。该系统的能力有四个方面：它能够跟踪滤光片边缘到OD7（-70dB），评估阻隔到OD9（-90dB），解决从90%透射率到OD7的相对于边缘波长的0.4%的边缘，并解决全宽半最大值（FWHM）时窄到0.1nm的通带。
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