用X射线衍射法研究硅薄膜上的镍-Thermo Fisher Scientific
2023-05-26
X射线衍射是表征薄膜/层和涂层的最常用的结构分析技术之一。在研究和工业实验室中，由于大量应用材料的开发，需求正在增长。 例如，这些材料被用作激光器和LED中产生光的材料，作为绿色能源采集的光伏集热器，或在先进的光学应用中使用。 多功能无机和有机-无机混合薄膜（纳米级）的晶体结构可以通过GIXRD（掠入射XRD）来组织。鉴于光学和电子特性受到化合物结构的显著影响，这一点至关重要。为了专门测量不是基底，而是层，GIXRD，使用一个固定的光栅角度（~0.5° - 2°Ω）。
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