薄层平行光学器件的表面测量方法-AMETEK Ultra Precision Technologies

2023-03-27

来源公司：AMETEK Ultra Precision Technologies

创新技术允许同时测量薄光学器件的前表面和后表面。从历史上看，测量平面平行的薄光学器件的表面是有问题的，因为后表面和前表面彼此非常接近。非常接近的多个反射表面使得标准干涉测量方法极具挑战性（如果不是不可能的话），以获得可靠的测量结果。

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