高性能薄膜光学滤波器的测量-Alluxa
2023-03-16
来源公司：Alluxa
螺旋线光谱分析系统重新定义了高性能薄膜光学滤波器的测量能力。Helix是由Alluxa工程人员开发的，以解决大多数商用分光光度计的局限性。该系统的能力有四个方面：它能够测量OD7（-70dB）的滤波器边缘，评估OD9（-90dB）的阻塞，分辨半高宽（FWHM）处窄至0.1nm的通带，以及分辨相对于从90%透射率到OD7的边缘波长陡至0.4%的边缘。
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