五氧化二铌薄膜布里渊光谱法-LightMachinery

2023-03-03

来源公司：LightMachinery

使用20倍显微物镜，测量了沉积在玻璃或锗衬底上的五氧化二铌（Nb2 O5）薄膜的布里渊频移。两种情况下的薄膜厚度均为5μm，与物镜的收集/激发焦点体积深度的~20%相关（沿z轴方向~25μm）。图1和图2中的光谱是通过在样品上使用25mW的激光功率收集的。

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