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光谱分辨率
Spectral Resolution（nm）
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波长范围
Wavelength Range（nm）
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专业选型
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正规认证
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品质保障
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Hyper Flux PRO光谱仪-532纳米
厂家：Pembroke Instruments, LLC
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Hyper Flux PRO光谱仪-785nm
厂家：Pembroke Instruments, LLC
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Qmini近红外微型光谱仪
厂家：Pembroke Instruments, LLC
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Qmini小型紫外线光谱仪
厂家：Pembroke Instruments, LLC
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Qmini VIS微型光谱仪
厂家：Pembroke Instruments, LLC
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Qmini VIS/NIR微型光谱仪
厂家：Pembroke Instruments, LLC
光电查为您提供875个产品。下载资料，获取报价，实现功能、价格及供应的优化选择。
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重量: 3.4 kg 波长范围: 1064 nm 工作温度显示: 0-40 Degree C 显示尺寸: 22.8 x 19.7 x 10.7 cm输入光圈选择：f/1.5 用于最大信号，f/2.0 用于分辨率 用户可配置输入耦合、可互换狭缝和保持架系统接口选项 内部光学机械快门，用于自动光学暗收集 与超冷科学相机兼容，可获得极低光拉曼信号并延长测量时间
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重量: 3 kg 工作温度显示: 0-40 Degree C 显示尺寸: 30.2 x 17.9 x 7.5 cm400 - 3200 cm-1 光谱仪范围 高 NA、f/2.0 光学设计，具有出色的灵敏度和信噪比 可互换狭缝调节分辨率和灵敏度 免费操作软件和 SDK
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重量: 1.8 kg 工作温度显示: 0-40 Degree C 显示尺寸: 16.5 x 16.2 x 6.7 cm300 - 3700 cm-1 光谱仪范围 高 NA、f/1.3 光学设计，具有出色的灵敏度和信噪比 可互换狭缝调节分辨率和灵敏度 免费操作软件和 SDK
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重量: 1.8 kg 工作温度显示: 0-40 Degree C 显示尺寸: 16.5 x 16.2 x 6.7 cm150 - 3200 cm-1 光谱仪范围 高 NA、f/1.3 光学设计，具有出色的灵敏度和信噪比 可互换狭缝调节分辨率和灵敏度 免费操作软件和 SDK
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重量: 1.8 kg 工作温度显示: 0-40 Degree C 显示尺寸: 16.5 x 16.2 x 6.7 cm275 - 2000 cm-1 光谱仪范围 高 NA、f/1.3 光学设计，可实现出色的灵敏度和信噪比 可互换狭缝调节分辨率和灵敏度 免费操作软件和 SDK
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重量: 3 kg 工作温度显示: 0-40 Degree C 显示尺寸: 24.0 x 13.5 x 7.1 cm扩展的 270 - 3600 cm-1 光谱仪范围 高 NA、f/1.3 光学设计，具有出色的灵敏度和信噪比 可互换狭缝调节分辨率和灵敏度 (-IC) 免费操作软件和 SDK
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重量: 1.8 kg 工作温度显示: 0-40 Degree C 显示尺寸: 16.5 x 16.2 x 6.7 cm250 - 1850 cm-1 光谱仪范围 高 NA、f/1.3 光学设计，具有出色的灵敏度和信噪比 可互换狭缝调节分辨率和灵敏度 免费操作软件和 SDK
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重量: 1.6 kg 工作温度显示: 0-40 Degree C 显示尺寸: 11.7 x 13.0 x 7.0 cm250 - 1850 cm-1 光谱仪范围 高 NA、f/1.3 光学设计，提供卓越的灵敏度和信噪比 与其他紧凑型 InGaAs 光谱仪相比，信号和速度更胜一筹 免费操作软件和 SDK 了解我们的 OEM 就绪型 1064 光谱仪
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波长范围: 785 nm 显示尺寸: 17.0 x 17.8 x 5.5 cm我们为 OEM 开发的 WP 785 XM 光谱仪具有与标准产品相同的高灵敏度，而且结构更加紧凑、坚固耐用，并提供全面的工程支持。 基于专利 VPH 传输光栅的卓越光学设计 f/1.3 输入孔径实现高通量，覆盖拉曼指纹范围 可配置平台：仅光谱仪/集成激光器/激光器+接口光学器件 坚固耐用、热稳定的光学工作台确保了出色的单元间可重复性 包括 ENLIGHTEN™ 光谱软件和 SDK！
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波长范围: 830 nm 显示尺寸: 17.0 x 17.8 x 5.5 cm我们为 OEM 开发的 WP 830 XM 光谱仪具有与标准产品相同的高灵敏度，而且结构更加紧凑、坚固，并提供全面的工程支持。 基于专利 VPH 传输光栅的卓越光学设计 f/1.3 输入孔径实现高通量，覆盖拉曼指纹范围 可配置平台：仅光谱仪/集成激光器/激光器+接口光学器件 坚固耐用、热稳定的光学工作台确保了出色的单元间可重复性 包括 ENLIGHTEN™ 光谱软件和 SDK！
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波长范围: 1064 nm 显示尺寸: 16.3 x 15.1 x 4.4 cm我们为 OEM 开发的 WP 1064 X 光谱仪具有与标准产品相同的高灵敏度，而且结构更加紧凑、坚固，并提供全面的工程支持。 基于专利 VPH 传输光栅的卓越光学设计 f/1.3 输入孔径实现高通量，覆盖拉曼指纹范围 可配置平台：仅光谱仪/集成激光器/激光器+接口光学器件 可选择探测器冷却级别，以平衡噪音水平、功耗和成本 坚固耐用、热稳定的光学工作台确保了出色的单元间可重复性 包括 ENLIGHTEN™ 光谱软件和 SDK！
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激发波长: 1064nm 范围: 200 - 2500 cm^-1 决议: 14cm^-1Raman on Mobile，Library in Hands Finder Edge（Fe）是一款快速而紧凑的拉曼光谱仪，可确保高效处理；非技术用户可以使用它来快速识别实验室、仓库等中的样品。可以通过透明容器利用拉曼技术进行非接触分析；强大的硬件性能和多样化的库是您可靠的合作伙伴；
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单色仪类型: Czerny-Turner 有效焦距: 500mm 衍射光栅: 600lines/mm 光栅炽热波长: 1200nm 光谱范围: 300 - 2400 nm摄谱仪单色仪Zolix Instruments的Omni-λ系列成像光谱仪和单色仪是需要较高质量数据的研究人员的专业标准。Zolix光谱仪和单色仪具有非常灵活的设计，可配置用于从UV到NIR光谱范围的广泛应用。如拉曼光谱、荧光光谱、探测器光谱响应度测量等。
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激发波长: 785nm 范围: 200 - 2000 cm^-1 决议: 12cm^-1拉曼在移动，图书馆在手中Finder Edge（Fe）是一款快速紧凑的拉曼光谱仪，可确保高效处理；非技术用户可以使用它来快速识别实验室、仓库等中的样品。可以通过透明容器利用拉曼技术进行非接触分析；强大的硬件性能和多样化的库是您可靠的合作伙伴；
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单色仪类型: Other 有效焦距: 85mm 衍射光栅: 1800lines/mm 光栅炽热波长: 532nm 光谱范围: 532 - 680 nmZolix结合了体积相位全息（VPH）光栅、波长优化光学器件和深冷CCD相机，非常自豪地推出了较先进的Omni-iSpect拉曼光谱仪。它解决了与拉曼光谱有关的两个基本问题：速度和灵敏度。VPH光谱仪可让您获得更快的采集速度和更好的信噪比，它是远程检测、超快速拉曼映射等低光拉曼应用的理想选择，其基于透镜的设计可在焦平面上提供较小的失真，并确保较佳的图像质量，同时为您提供高分辨率和大光谱范围，完美的图像质量也是无串扰的多通道应用的理想选择。Omni-iSpect坚固而紧凑的设计使其成为现场和工业应用的理想模块。它仍然适用于学术研究，具有研究级别的性能。Omni-ispect还提供了SDK文件进行二次开发。
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波长范围: 200 - 1700 nm 决议: 0.1nm 最短扫描时间: 60secOMNIFLUO900系列是一款高性能、多功能、模块化分光荧光计，专门用于基础研究和常规实验室应用。模块化设计使其能够测试稳态和瞬态光谱、UV-VIS-NIR宽光谱范围、量子产率和变温光谱。高灵敏度为低样品浓度或小样品体积的测量奠定了坚实的基础。光谱校正和高光谱分辨率保证了光谱的准确性。它配备了直观的软件，可用于材料科学，光物理，光化学，生命科学和农业科学。
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激发波长: 532nm 范围: 80 - 9000 cm^-1 决议: 1.5cm^-1RTS-Mini共焦拉曼显微镜结构紧凑，用途广泛，非常易于使用，专门用于工业和常规分析领域。尽管操作简单，但它可以获得卓越的性能和可靠的结果。无需切换激光波长和更换滤光片，系统非常稳定。对于拥有多个用户的大型实验室来说，专注于科学而不是调整仪器是至关重要的。
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单色仪类型: Czerny-Turner 有效焦距: 320mm 衍射光栅: 1200lines/mm 光栅炽热波长: 500nm 光谱范围: 200 - 1000 nm摄谱仪和单色仪Zolix Instruments的Omni-λ系列成像光谱仪和单色仪是需要较高质量数据的研究人员的专业标准。Zolix光谱仪和单色仪具有非常灵活的设计，可以配置为广泛的应用&从UV到NIR的光谱范围。如拉曼光谱、荧光光谱、探测器光谱响应度测量等。
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单色仪类型: Czerny-Turner 有效焦距: 320mm 衍射光栅: 1200lines/mm 光栅炽热波长: 500nm 光谱范围: 300 - 1200 nmOMNI-λ3008I-IVACN超高性能科学研究CCD光谱仪具有出色的光谱图像校准、高波长精度、出色的杂散光抑制，由高分辨率光谱仪和TE冷却深度CCD组成。它很好地解决了发射光谱、荧光光谱和拉曼光谱的测量，具有研究级的性能。OMNI-λ3008I-IVACN提供二次开发套件，也适用于工业应用。
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Semilab 提供的 SE-2000 是一种独有的模块化光学平台，配备有旋转补偿器光学元件的分光椭偏仪。它可以对单层和多层样品以及基片进行非接触式和非破坏性光学测量，从而获得单独的薄膜厚度和光学特性。