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光谱分辨率
Spectral Resolution（nm）
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波长范围
Wavelength Range（nm）
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专业选型
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正规认证
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品质保障
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waveScan USB
厂家：APE Angewandte Physik & Elektronik GmbH
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AFBR-S20W2UV
厂家：Broadcom
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T-SPECTRALYZER F
厂家：HÜBNER Photonics
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APE waveScan 高分辨率光谱仪
厂家：Applied Physics & Electronics, Inc.
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EMU-120/65埃切莱特光谱仪
厂家：Catalina Scientific Instruments
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AFBR-S20N1N256
厂家：Broadcom
光电查为您提供875个产品。下载资料，获取报价，实现功能、价格及供应的优化选择。
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单色仪类型: Not Specified 光谱范围: 200 - 850 nm导波公司的508PLUS型过程分析仪是一种单通道或多通道、光纤、UV-VIS光谱仪系统，设计用于过程环境。508PLUS型可配置多达4个通道，采用内置热控制的NEMA 4X外壳，以确保在24/7服务模式下获得较稳定的性能。每个通道可监测多达16个参数，使其适用于化学和聚合物工厂、精炼和石化、制药和其他特种化学品、油漆和清漆、粘合剂、废水管理、生物技术等多种应用。它有一个内置的计算机控制单元，带有可选的触摸屏，方便用户界面。
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应用: THz-Time-Domain Spectroscopy, Detecting & characterizing materials, Using amplitude and phase information, Analysing chemicals in powder and tablet form, Analysing liquids and gases, Distinguishing crystalline and amorphous structures, Determinating the fi lling level of polymers, Distinguishing various isomers, Non-destructive testing (NDT), Identifying substances even through plastic pipes and tubes and other packaging, Determining the layer thicknesses of multi-layer systems 测量技术: IR Spectroscopy 光谱仪类型: Benchtop 谱带: IR
HÜBNER Photonics的T-Spectralyzer F是一款太赫兹光谱仪，工作频率为0.1至2.5 THz.它的最小动态范围为54 dB（0.5 THz），频率分辨率为10 GHz，标准测量时间为5秒。光谱仪的光束直径为1.5 mm，标准样品扫描范围为200 X 200 m2。它使用太赫兹波进行安全快速扫描。该光谱仪不需要任何额外的冷却或外部气体供应。它需要115-230 V的交流电源，功耗低于200 W.它采用19机架模块，尺寸为43 X 27 X 46 cm3，是无损检测、太赫兹时域光谱、化学识别和分析应用的理想选择。
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应用: THz-Time-Domain Spectroscopy, Detecting & characterizing materials, Analysing liquids and gases, Investigating moisture distributions, Distinguishing crystalline and amorphous structures, THz-Imaging, Non-destructive testing (NDT) 测量技术: IR Spectroscopy, Transmission, Reflectance 光谱仪类型: Benchtop 谱带: IRHÜBNER Photonics的T-Spectralyzer T/R/F是一款太赫兹光谱仪，工作频率为0.1至4 THz.它的动态范围超过70dB（0.5THz），频率分辨率为10GHz，标准测量时间为5秒。光谱仪使用太赫兹波进行操作，这是完全安全的，并且不需要昂贵的安全预防措施。它不需要任何额外的冷却或外部气体供应。光谱仪有一个大的样品盘，尺寸为335 X 240 mm2，可对样品进行非破坏性无接触分析。该光谱仪非常适合光谱成像、透射/反射测量、THz时域光谱（如检测和表征材料）、使用振幅和相位信息、分析粉末和片剂形式的化学品、分析液体和气体、区分晶体和无定形结构、确定聚合物的填充水平和区分各种异构体以及无损检测（NDT）（如识别物质，甚至通过塑料管、管道和其他包装）以及确定多层系统应用的层厚度。光谱仪需要115-230 V的交流电源，功耗小于200 W.
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成像模式: Diffuse Reflectance (DR) 激发波长: Custom 光谱范围: Custom 光谱范围: 400 - 1000 nm 光谱分辨率: CustomHeadwall MV.X为机器视觉应用带来了高光谱成像，这些应用以前对现成的解决方案要求过高。诸如液体、灰尘和高光谱数据采集产生的大量原始数据等挑战已经被克服。业界首款IP67外壳包含Headwall无与伦比的像差校正同心光谱仪设计、高性能CMOS焦平面阵列和板载处理，输出的不是千兆字节的原始数据，而是光谱分类图像，可实时用于加工线上的快速产品分级和检查。
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激发波长: 532nm 范围: 3650 - 3650 cm^-1 决议: 10cm^-1Headwall的拉曼光谱仪提供极高的信噪比和信号吞吐量。它们基于专利的像差校正，全反射设计，使用Headwall自己的衍射光栅。像差校正衍射技术使得能够在光谱仪内使用大光纤束。因此，在保持增强的信号完整性的同时，可以对较大的目标区域进行采样。专有的共振域“一级”全息光栅确保较大量的衍射光能包含在这个单一的分散级中。格栅由Headwall在无菌洁净室环境中设计和制造。它们专为需要高通量的拉曼光谱应用成像而设计。这允许光谱仪具有非常高的衍射效率，也没有任何多个衍射级的杂散光。拉曼成像光谱的独特之处在于它能够测量装在塑料袋或玻璃容器中的样品。
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单色仪类型: Flat Field Grazing Incidence 衍射光栅: 528lines/mm 光栅炽热波长: 230nm 光谱范围: 190 - 1015 nm 光谱分辨率: 2.2nm紧凑型光栅光谱仪CGS UV-NIR自成一类。极其紧凑、坚固耐用的设计和各种探测器（CCD或PDA）选项使用户能够以较高质量和较佳光谱效率进行测量。CGS采用像差校正成像光栅、SMA连接器作为光学输入和CCD或硅光电二极管阵列（PDA）探测器。非制冷，背面薄CCD探测器捕捉清晰，明亮的图像，并确保高灵敏度。即使在低光水平下，PDA也具有极低的噪声和高S/N。光谱仪的核心部件是一个用于光色散和成像的闪耀平场光栅。根据瑞利标准，整体配置导致光谱像素间距为0.4nm/像素（CCD）和0.7nm/像素（PDA），光谱分辨率约为2nm（取决于狭缝尺寸）。光纤接口是一种SMA光纤连接器，具有固定的入口狭缝（可提供各种宽度），以实现光纤的精确对准。所有光学元件都连接在铝制外壳上。光谱仪模块紧凑的机身和热稳定设计使其成为工业应用的理想选择。即使在恶劣的环境中，低热膨胀和较小杂散光也能保证可靠的测量结果。CGS光谱仪系列完善了MMS、MCS和PGS光谱仪模块的产品线。卡尔蔡司光谱仪模块的灵活设计适用于许多应用。蔡司生产的光谱仪可根据测量原理、使用领域或待分析材料进行分类。然而，CGS较重要的优点是紧凑的机身、合理的价格和对外部影响的不敏感性，这允许直接的工艺集成。
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单色仪类型: Flat Field Grazing Incidence 衍射光栅: 528lines/mm 光栅炽热波长: 230nm 光谱范围: 190 - 935 nm 光谱分辨率: 2.0nm紧凑型光栅光谱仪CGS UV-NIR自成一类。极其紧凑、坚固耐用的设计，以及各种探测器（CCD或PDA）选项，使用户能够以较高质量和较佳光谱效率进行测量。CGS使用像差校正成像光栅、作为光学输入的SMA连接器和CCD或Si光电二极管阵列（PDA）检测器。非制冷，背面薄CCD探测器捕捉清晰，明亮的图像，并确保高灵敏度。即使在低光水平下，PDA也具有极低的噪声和高S/N。光谱仪的核心部件是一个用于光色散和成像的闪耀平场光栅。根据瑞利标准，整体配置导致光谱像素间距为0.4nm/像素（CCD）和0.7nm/像素（PDA），光谱分辨率约为2nm（取决于狭缝尺寸）。光纤接口是一种SMA光纤连接器，具有固定的入口狭缝（可提供各种宽度），以实现光纤的精确对准。所有光学元件都连接在铝制外壳上。光谱仪模块紧凑的机身和热稳定设计使其成为工业应用的理想选择。即使在恶劣的环境中，低热膨胀和较小杂散光也能保证可靠的测量结果。CGS光谱仪系列完善了MMS、MCS和PGS光谱仪模块的产品线。卡尔蔡司光谱仪模块的灵活设计适用于许多应用。蔡司生产的光谱仪可根据测量原理、使用领域或待分析材料进行分类。然而，CGS较重要的优点是紧凑的机身、合理的价格和对外部影响的不敏感性，这允许直接的工艺集成。
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单色仪类型: Flat Field Grazing Incidence 衍射光栅: 248lines/mm 光栅炽热波长: 500nm 光谱范围: 190 - 980 nm 光谱分辨率: 3nm障碍是可以避免或消除的——只要您有行动的灵活性。MCS Flex的新外壳结构现在可以更灵活地将光谱仪模块集成到您的测量系统中，并克服所有障碍。MCS FLEX采用成像光栅、光学输入和CCD或PDA传感器阵列。光谱仪的核心是用于光散射和成像的闪耀平场光栅。根据瑞利标准，整个配置导致0.8nm/像素的光谱像素间距，使得光谱分辨率优于3nm。光输入是带有集成光纤截面转换器的SMA连接器。所有光学元件都安装在由特殊合金制成的外壳中。外壳现在可以更灵活地放置到用户的测量系统中。外壳的特殊合金使MCS Flex具有优异的热性能。由于体积小、重量轻，光谱仪模块非常适合移动测量系统。其出色的热稳定性和极低的杂散光量确保了在恶劣环境中的可靠测量结果。根据传感器阵列的不同，模块分为MCS Flex CCD（190–980nm）或MCSFlexPDA（190–1015nm）。
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单色仪类型: Flat Field Grazing Incidence 衍射光栅: 248lines/mm 光栅炽热波长: 250nm 光谱范围: 190 - 1015 nm 光谱分辨率: 3nm障碍是可以避免或消除的——只要您有行动的灵活性。MCS Flex的新外壳结构现在可以更灵活地将光谱仪模块集成到您的测量系统中，并克服所有障碍。MCS FLEX采用成像光栅、光学输入和CCD或PDA传感器阵列。光谱仪的核心是用于光散射和成像的闪耀平场光栅。根据瑞利标准，整个配置导致0.8nm/像素的光谱像素间距，使得光谱分辨率优于3nm。光输入是带有集成光纤截面转换器的SMA连接器。所有光学元件都安装在由特殊合金制成的外壳中。外壳现在可以更灵活地放置到用户的测量系统中。外壳的特殊合金使MCS Flex具有出色的热性能。由于体积小、重量轻，光谱仪模块非常适合移动测量系统。其出色的热稳定性和极低的杂散光量确保了在恶劣环境中的可靠测量结果。根据传感器阵列的不同，模块分为MCS Flex CCD（190–980nm）或MCSFlexPDA（190–1015nm）。
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单色仪类型: Flat Field Grazing Incidence 衍射光栅: 484lines/mm 光栅炽热波长: 1200nm 光谱范围: 960 - 1690 nm 光谱分辨率: 8nmPGS系列光谱仪设计用于NIR。InGaAs（砷化铟镓）用作该波长范围内的检测器材料。非球面准直器和聚焦透镜的特殊组合允许使用为NIR优化的平面光栅，同时保持光谱成像的良好平场校正。所有光学元件的永久连接确保了出色的长期稳定性。中心体在PGS系列中，中心体采用特殊铝合金（膨胀系数a~13 X 10-6）。该外壳是闪耀光栅、非球面准直器和聚焦透镜的载体。输入光纤和检测器永久连接到中心体，因此提供了极好的稳定性。光栅用于PGS系列的光栅是机械刻划的或全息记录的平面光栅。较大效率适用于NIR中的特定波长范围。具有透镜的清晰直径的光栅表面的尺寸使得NA高达0.37的光纤的光可以看到。输入光纤光的耦合通过玻璃单光纤以标准方式进行。这些光纤的直径为600µm，NA=0.22。光纤末端具有高度为500µm（NIR 1.7）或250µm（NIR 2.2）的狭缝。入口处的狭缝高度适应于InGaAs阵列的像素高度。不需要类似于硅探测器的截面转换。探测器对于PGS，NIR 1.7标准InGaAs用于高达1700nm的波长范围。可提供具有256或512个元件的探测器。要达到2.2µm的波长范围，必须使用扩展InGaAs。在PGS NIR 2.0和PGS NIR 2.2中，使用具有256个元素的检测器。对于扩展的InGaAs阵列，将用于抑制第二衍射级的阻挡滤波器应用于该阵列。
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单色仪类型: Flat Field Grazing Incidence 衍射光栅: 484lines/mm 光栅炽热波长: 1200nm 光谱范围: 960 - 1690 nm 光谱分辨率: 5nmPGS系列光谱仪设计用于近红外（NIR）。InGaAs（砷化铟镓）用作该波长范围内的检测器材料。非球面准直器和聚焦透镜的特殊组合允许使用为NIR优化的平面光栅，同时保持光谱成像的良好平场校正。所有光学元件的永久连接确保了出色的长期稳定性。中心体在PGS系列中，中心体采用特殊铝合金（膨胀系数a~13 X 10-6）。该外壳是闪耀光栅、非球面准直器和聚焦透镜的载体。输入光纤和检测器永久连接到中心体，因此提供了极好的稳定性。光栅用于PGS系列的光栅是机械刻划的或全息记录的平面光栅。较大效率适用于NIR中的特定波长范围。具有透镜的清晰直径的光栅表面的尺寸使得NA高达0.37的光纤的光可以看到。输入光纤光的耦合通过玻璃单光纤以标准方式进行。这些光纤的直径为600µm，NA=0.22。光纤末端具有高度为500µm（NIR 1.7）或250µm（NIR 2.2）的狭缝。入口处的狭缝高度与InGaAs阵列的像素高度相适应。不需要类似于硅探测器的截面转换。探测器对于PGS，NIR 1.7标准InGaAs用于高达1700nm的波长范围。可提供具有256或512个元件的探测器。要达到2.2µm的波长范围，必须使用扩展InGaAs。在PGS NIR 2.0和PGS NIR 2.2中，使用具有256个元素的检测器。对于扩展的InGaAs阵列，将用于抑制第二衍射级的阻挡滤波器应用于该阵列。
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单色仪类型: Flat Field Grazing Incidence 衍射光栅: 484lines/mm 光栅炽热波长: 1400nm 光谱范围: 1340 - 2000 nm 光谱分辨率: 8nmPGS系列光谱仪设计用于NIR。InGaAs（砷化铟镓）用作该波长范围内的检测器材料。非球面准直器和聚焦透镜的特殊组合允许使用为NIR优化的平面光栅，同时保持光谱成像的良好平场校正。所有光学元件的永久连接确保了出色的长期稳定性。中心体在PGS系列中，中心体采用特殊铝合金（膨胀系数a~13 X 10-6）。该外壳是闪耀光栅、非球面准直器和聚焦透镜的载体。输入光纤和检测器永久连接到中心体，因此提供了极好的稳定性。光栅用于PGS系列的光栅是机械刻划的或全息记录的平面光栅。较大效率适用于NIR中的特定波长范围。具有透镜的清晰直径的光栅表面的尺寸使得NA高达0.37的光纤的光可以看到。输入光纤光的耦合通过玻璃单光纤以标准方式进行。这些光纤的直径为600µm，NA=0.22。光纤末端具有高度为500µm（NIR 1.7）或250µm（NIR 2.2）的狭缝。入口处的狭缝高度与InGaAs阵列的像素高度相适应。不需要类似于硅探测器的截面转换。探测器对于PGS，NIR 1.7标准InGaAs用于高达1700nm的波长范围。可提供具有256或512个元件的探测器。要达到2.2µm的波长范围，必须使用扩展InGaAs。在PGS NIR 2.0和PGS NIR 2.2中，使用具有256个元素的检测器。对于扩展的InGaAs阵列，将用于抑制第二衍射级的阻挡滤波器应用于该阵列。
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单色仪类型: Flat Field Grazing Incidence 衍射光栅: 300lines/mm 光栅炽热波长: 1400nm 光谱范围: 1000 - 2150 nm 光谱分辨率: 16nmPGS系列光谱仪设计用于NIR。InGaAs（砷化铟镓）用作该波长范围内的检测器材料。非球面准直器和聚焦透镜的特殊组合允许使用为NIR优化的平面光栅，同时保持光谱成像的良好平场校正。所有光学元件的永久连接确保了出色的长期稳定性。中心体在PGS系列中，中心体使用了一种特殊的铝合金（膨胀系数a~13 X 10-6）。该外壳是闪耀光栅、非球面准直器和聚焦透镜的载体。输入光纤和检测器永久连接到中心体，因此提供了极好的稳定性。光栅用于PGS系列的光栅是机械刻划的或全息记录的平面光栅。较大效率适合于NIR中的特定波长范围。具有透镜的清晰直径的光栅表面的尺寸使得NA高达0.37的光纤的光可以看到。输入光纤光的耦合通过玻璃单光纤以标准方式进行。这些光纤的直径为600µm，NA=0.22。光纤末端具有高度为500µm（NIR 1.7）或250µm（NIR 2.2）的狭缝。入口处的狭缝高度与InGaAs阵列的像素高度相适应。不需要类似于硅探测器的截面转换。探测器对于PGS，NIR 1.7标准InGaAs用于高达1700nm的波长范围。可提供具有256或512个元件的探测器。要达到2.2µm的波长范围，必须使用扩展InGaAs。在PGS NIR 2.0和PGS NIR 2.2中，使用具有256个元素的检测器。对于扩展的InGaAs阵列，将用于抑制第二衍射级的阻挡滤波器应用于该阵列。
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激发波长: 785nm 范围: 300 - 3100 cm^-1 决议: 8cm^-1RevaEducational Raman Spectroscopy平台的核心是一个坚固的浸入式接触探头，该探头采用了专利的球形蓝宝石球透镜接口。BallProbe™由哈司特镍合金和蓝宝石制成，除较恶劣的化学环境外，不受任何环境的影响，同时减少了取样变化，并具有显著的易用性。REVA的短焦距允许对液体、固体、泥浆、粉末和多相混合物进行高度可重复的取样。其使用的简单性允许非专业人员收集高质量的数据，并消除用户与用户之间的差异，从而克服采用的较大障碍之一。
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单色仪类型: Czerny-Turner 有效焦距: 1000mm 衍射光栅: 1200lines/mm 光栅炽热波长: 435nm 光谱范围: 0 - 1500 nm该光谱仪的焦距为1000 mm，非常适合需要极低杂散光水平的应用，例如拉曼荧光激发或发射结构分析需要超高分辨率时。大机械范围允许在更长的波长下使用高密度光栅，以获得较大的分辨率潜力——1200 G/mm的光栅可以扫描到1500 nm，分辨率为0.008 nm。M系列长期以来一直是经过验证的研究级光谱仪系列，提供了任何同类焦距光谱仪都无法提供的系统自动化程度和多功能性。新的II系列产品系列提供了与M系列光谱仪相关的可靠性和无挑战的分辨率，并具有改进的功能，包括高速USB 2.0兼容性、完整的可互换光栅库，以及与HORIBA Scientific' s Synapse™CCD、全系列单通道探测器、光电倍增管和附件的兼容性。
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单色仪类型: Czerny-Turner 有效焦距: 1250mm 衍射光栅: 1200lines/mm 光栅炽热波长: 435nm 光谱范围: 0 - 1500 nm该光谱仪的焦距为1000 mm，非常适合需要极低杂散光水平的应用，例如拉曼荧光激发或发射结构分析需要超高分辨率时。大机械范围允许在更长的波长下使用高密度光栅，以获得最大的分辨率潜力——1200 G/mm的光栅可以扫描到1500 nm，分辨率为0.008 nm。长期以来，M系列一直是经过验证的研究级光谱仪系列，提供了任何同类焦距光谱仪所没有的系统自动化程度和多功能性。新的II系列产品系列提供了与M系列光谱仪相关的可靠性和无挑战的分辨率，并具有改进的功能，包括高速USB 2.0兼容性、完整的可互换光栅库，以及与HORIBA Scientific' s Synapse™CCD、全系列单通道探测器、光电倍增管和附件的兼容性。
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单色仪类型: Czerny-Turner 有效焦距: 140mm 光谱范围: 190 - 800 nm 线性色散: 24.2nm/mmCP140系列是较小的摄谱仪，具有2维*校正的25x8 mm焦平面。其独特的光学设计提供了高f/2吞吐量和无与伦比的空间分辨率。离子蚀刻和全息光栅使CP140系列成为多光纤输入和阵列探测器的完美光谱仪。
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单色仪类型: Czerny-Turner 有效焦距: 140mm 光谱范围: 250 - 800 nm 线性色散: 24.3nm/mmCP140系列是较小的摄谱仪，具有2维*校正的25x8 mm焦平面。其独特的光学设计提供了高f/2吞吐量和无与伦比的空间分辨率。离子蚀刻和全息光栅使CP140系列成为多光纤输入和阵列探测器的完美光谱仪。
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单色仪类型: Czerny-Turner 有效焦距: 140mm 光谱范围: 285 - 715 nm 线性色散: 16.8nm/mmCP140系列是较小的摄谱仪，具有2维*校正的25x8 mm焦平面。其独特的光学设计提供了高f/2吞吐量和无与伦比的空间分辨率。离子蚀刻和全息光栅使CP140系列成为多光纤输入和阵列探测器的完美光谱仪。
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单色仪类型: Czerny-Turner 有效焦距: 140mm 光谱范围: 190 - 410 nm 线性色散: 17.2nm/mmCP140系列是较小的摄谱仪，具有2维*校正的25x8 mm焦平面。其独特的光学设计提供了高f/2吞吐量和无与伦比的空间分辨率。离子蚀刻和全息光栅使CP140系列成为多光纤输入和阵列探测器的完美光谱仪。