使用单像素太赫兹传感器检测材料中隐藏的缺陷

发布时间:2023-11-07 09:46:35 阅读数: 125

单像素衍射太赫兹传感器的示意图,该传感器可利用快照照明检测三维样品中隐藏的缺陷,以及其三维打印原型的照片。图片来源:加州大学洛杉矶分校 Ozcan 实验室。

 

在工程和材料科学领域,探测材料内部的隐藏结构或缺陷至关重要。传统的太赫兹成像系统依靠太赫兹波穿透不透明材料的独特特性,用于揭示各种相关材料的内部结构。

 

这种能力为工业质量控制、安全检查、生物医学和国防等众多应用领域提供了前所未有的优势。然而,大多数现有的太赫兹成像系统吞吐量有限,设置笨重,而且需要光栅扫描才能获取隐藏特征的图像。

为了改变这种模式,加州大学洛杉矶分校塞缪利工程学院和加州纳米系统研究所的研究人员开发了一种独特的太赫兹传感器,它能利用单像素光谱太赫兹探测器快速检测目标样品体积内隐藏的缺陷或物体。

与传统的逐点扫描和基于数字图像形成的方法不同,这种传感器只需一张快照就能检测到太赫兹辐射照射下的测试样品体积,而无需形成或数字处理样品图像。

该传感器由加州大学洛杉矶分校电气与计算机工程系校长教授 Aydogan Ozcan 博士和诺斯罗普-格鲁曼公司捐赠讲座教授 Mona Jarrahi 博士领导,是一种全光学处理器,善于搜索和分类由隐藏缺陷衍射引起的意外波源。论文发表在《自然-通讯》杂志上。

"奥兹坎博士同时也是加州大学洛杉矶分校加州纳米系统研究所的副所长,他说:"这是我们看待和利用太赫兹成像和传感方式的一次转变,我们将从传统方法转向更高效、人工智能驱动的全光学传感系统。

这种新型传感器由一系列衍射层组成,利用深度学习算法进行自动优化。训练完成后,这些衍射层将通过 3D 打印等增材制造方法转化为物理原型。这样,系统就能进行全光学处理,而无需进行繁琐的光栅扫描或数字图像捕捉/处理。

奥兹坎博士说:"这就好比传感器拥有了自己的内置智能,"他将其与之前人工智能设计的光学神经网络相提并论。"我们的设计包括几个衍射层,可根据被测材料中是否存在隐藏结构或缺陷来修改输入太赫兹频谱。可以认为,这赋予了我们的传感器以光速'感知'和'响应'的能力。

为了展示他们的新概念,加州大学洛杉矶分校的研究小组利用3D打印技术制造了一个衍射太赫兹传感器,并成功检测到了硅样品中的隐藏缺陷。这些样品由堆叠的硅片组成,其中一层含有缺陷,而另一层则掩盖了缺陷。该智能系统准确地揭示了各种形状和位置的未知隐藏缺陷的存在。

研究小组认为,他们的衍射缺陷传感器框架还可以在红外线和 X 射线等其他波长上工作。这种多功能性预示着从制造质量控制到安全检查,甚至文化遗产保护等众多应用领域。

这种非成像方法的简便性、高通量和成本效益有望在速度、效率和精度要求极高的应用领域取得变革性进展。

参考资料

Jingxi Li et al, Rapid sensing of hidden objects and defects using a single-pixel diffractive terahertz sensor, Nature Communications (2023). DOI: 10.1038/s41467-023-42554-2

相关产品

图片 名称 分类 制造商 参数 描述
  • 3DScope-V2干涉仪 干涉仪 3DScope-V2干涉仪 干涉仪 Connected Fibers

    干涉仪配置: Not Specified 光源: 632 nm or 633nm 输出极化: Not Specified

    3D-Scope V2是Data-Pixel发布的较新干涉仪,用于生产环境。它的设计考虑了速度、精度、简单性、鲁棒性和成本,除了自动化和控制命令外,还通过USB2.0高速链路将非压缩、实时和高质量的图像从硬件传输到软件。3Dscope V2是便携式的,仅通过一个USB链接(包括电源)即可连接到笔记本电脑或台式电脑。所有校准步骤都是自动化的,并嵌入到用户友好的软件界面中,以产生无误差和可靠的测量结果。

  • AccuFiz紧凑型菲佐尔激光干涉仪 干涉仪 AccuFiz紧凑型菲佐尔激光干涉仪 干涉仪 4D Technology

    干涉仪配置: Twyman–Green Interferometer 光源: 632 nm or 633nm, 355nm, 532nm, 1053nm, 1064nm, 1550nm, 10.6um 输出极化: Circular

    Accufiz Fizeau干涉仪提供无与伦比的性能、质量和价值组合,用于精确、可重复测量表面形状和透射波前质量。Accufiz激光干涉仪非常容易在有限的实验室空间中使用。紧凑、轻便的设计具有极高的刚性,可在任何方向或环境中实现较大的稳定性。波长范围为355 nm至1.064µm,孔径范围为33至800 mm,采用水平和垂直安装配置,为各种应用和预算提供了合适的选择。可选的600万像素高分辨率相机可捕捉任何商用干涉仪的较高斜率。测量非球面、自由曲面光学元件和高度像差元件。可选的表面隔离源(SIS)增加了测量平面平行光学器件的能力,无需涂层或背面处理以消除不必要的反射。在薄至300µm的光学器件上量化形状光学厚度、透射波前误差和均匀性。

  • 空气间隔 Etalons 干涉仪 空气间隔 Etalons 干涉仪 TecOptics, Inc.

    干涉仪配置: Not Specified 光源: Not Specified 输出极化: Not Specified

    空气间隔标准具具有适当等级的熔融石英(UV-可见或IR)基底。衬底上的面外AR涂层和楔形物防止形成无关的干涉图案。与基底光学接触的垫片决定了镜面的平行度和标准具的自由光谱范围。根据应用,间隔物可以是熔融石英或低热膨胀材料,例如ZeroDur或Ule。

  • AZP 200 HP自动准直测试和阻断装置 干涉仪 AZP 200 HP自动准直测试和阻断装置 干涉仪 OptoTech Optical Machinery Inc

    干涉仪配置: Not Specified 光源: Not Specified 输出极化: Not Specified

    AZP 200 HP是一款适用于许多光学生产领域的较佳多功能固井装置。由于各种安装和选项,AZP 200 HP可以完美地适应所有特殊的固井和定心任务。

  • Daffi Mt数字式自动光纤和插芯干涉仪 干涉仪 Daffi Mt数字式自动光纤和插芯干涉仪 干涉仪 Data-Pixel

    干涉仪配置: Not Specified 光源: Not Specified 输出极化: Not Specified

    Data-Pixel开发了一条经济高效的干涉仪生产线,可在不影响精度或性能的情况下进行大批量生产。基于我们丰富的干涉仪制造经验,我们将Daffi MT设计为坚固、快速和精确,以满足所有制造或实验室环境。借助BLINK软件平台,Daffi能够测量多光纤连接器和套圈的端面几何形状。Daffi干涉仪附件(法兰和适配器)与DAISI系列完全兼容,允许用户限制3D几何测量单元的成本。BLINK是所有Data-Pixel产品通用的软件平台。专用插件支持干涉测量系列产品:3D Scope-V2、Daffi SF、Daisi-V3、Daffi MT和Daisi MT FP。PDF、HTML和CSV报告功能,具有广泛的数据库支持(SQL Server、MySQL、ODBC、Oracle等).OLE自动化支持可用于专用应用程序。

立即咨询

加载中....