测量固体材料光热转换效率的一般方法

发布时间:2023-07-25 08:00:00 阅读数: 400

原文标题:A general methodology to measure the light-to-heat conversion efficiency of solid materials

翻译:光电查

样品在电加热(a)和激光加热(b)过程中的温升曲线示意图,其中 P* 为样品接收到的热功率,I₀ 为入射激光功率,TE,max 和 TL,max 分别为电加热和激光加热过程中的最大平均温度变化,DCPS 为直流电源。(c) TGC 拍摄的样品典型温度图像。(d) 最高温度随样品接收热功率变化的示意图,其中 H* 是样品在电加热过程中的散热系数。(e) 所有样品的 LHCE 计算结果,误差带根据补充资料中的公式 S15 得出。S15 得出。计算 LHCE 的简化程序如 (e) 下图所示,其中 A 是样品的吸光度,H 是激光加热时测试区域的散热系数,η 是样品的 LHCE。归功于:Kai Gu 和 Haizheng Zhong

光热转换具有潜在的应用价值,包括光热治疗和太阳能收集,因此人们一直在对其进行深入研究。光热转换效率(LHCE)是评估光热材料(如有机分子、碳基材料和纳米晶体)的最重要指标。

根据热平衡方程,已经成功开发了一些测量胶体纳米晶溶液 LHCE 的方法。虽然其他研究人员对这些方法进行了进一步改进,但由于测量系统的质量项被高估以及散热系数的拟合不精确,这些方法的准确性仍存在争议。此外,大多数报告的方法仅限于胶体溶液。

在《光: 科学与应用》上发表的一篇新论文中,来自北京理工大学的顾凯和钟海政开发了一种测量固体材料 LHCE 的通用方法。他们提出了一种光热和电热等效 (PEE) 方法,用电加热过程模拟激光加热过程。

在电热测量中,通过在热平衡时进行线性拟合,可以得出样品在已知电功率下的散热系数。在光热测量中,通过监测样品在激光加热下的最大温度变化来计算 LHCE。在本研究中,研究人员调查了 PEE 方法在各种有机和无机光热材料中的通用性,包括金纳米棒、石墨烯和 PbSe 纳米晶体等。

此外,研究人员还讨论了 PEE 方法的误差和可靠性以及与假设的偏差,以证明 PEE 方法的优势。

PEE 方法包括两个步骤:电热测量(模块 I)和光热测量(模块 II)。研究中的电热测量是通过使用热成像仪 (TGC) 确定电阻器上样品的温度升高来完成的。同样,光热测量是通过测定样品在激光加热下的温度升高来完成的。

通过绘制温度变化与时间的关系曲线,可以利用热像仪监测平均温度,从而获得最大温度变化。通过对最大温度变化和电加热输入功率的曲线图进行线性拟合,可以得出样品的散热系数。

考虑到光吸收率和散热系数,样品的 LHCE 可以从热平衡方程中推导出来。为了证明 PEE 方法的适用性,研究人员测量了金纳米棒、PbSe 纳米晶体、Cu2Se 纳米晶体、多壁碳纳米管 (MWCN)、氧化石墨烯 (GO)、石墨烯和聚苯胺 (PANI) 的 LHCE。有关误差和假设分析的详情,请参阅论文。

研究团队开发了一种稳健可靠的测量固体材料 LHCE 的方法,有望推动先进光热材料的基础研究。

参考资料

Kai Gu et al, A general methodology to measure the light-to-heat conversion efficiency of solid materials, Light: Science & Applications (2023). DOI: 10.1038/s41377-023-01167-6

相关产品

图片 名称 分类 制造商 参数 描述
  • 3DScope-V2干涉仪 干涉仪 3DScope-V2干涉仪 干涉仪 Connected Fibers

    干涉仪配置: Not Specified 光源: 632 nm or 633nm 输出极化: Not Specified

    3D-Scope V2是Data-Pixel发布的较新干涉仪,用于生产环境。它的设计考虑了速度、精度、简单性、鲁棒性和成本,除了自动化和控制命令外,还通过USB2.0高速链路将非压缩、实时和高质量的图像从硬件传输到软件。3Dscope V2是便携式的,仅通过一个USB链接(包括电源)即可连接到笔记本电脑或台式电脑。所有校准步骤都是自动化的,并嵌入到用户友好的软件界面中,以产生无误差和可靠的测量结果。

  • AccuFiz紧凑型菲佐尔激光干涉仪 干涉仪 AccuFiz紧凑型菲佐尔激光干涉仪 干涉仪 4D Technology

    干涉仪配置: Twyman–Green Interferometer 光源: 632 nm or 633nm, 355nm, 532nm, 1053nm, 1064nm, 1550nm, 10.6um 输出极化: Circular

    Accufiz Fizeau干涉仪提供无与伦比的性能、质量和价值组合,用于精确、可重复测量表面形状和透射波前质量。Accufiz激光干涉仪非常容易在有限的实验室空间中使用。紧凑、轻便的设计具有极高的刚性,可在任何方向或环境中实现较大的稳定性。波长范围为355 nm至1.064µm,孔径范围为33至800 mm,采用水平和垂直安装配置,为各种应用和预算提供了合适的选择。可选的600万像素高分辨率相机可捕捉任何商用干涉仪的较高斜率。测量非球面、自由曲面光学元件和高度像差元件。可选的表面隔离源(SIS)增加了测量平面平行光学器件的能力,无需涂层或背面处理以消除不必要的反射。在薄至300µm的光学器件上量化形状光学厚度、透射波前误差和均匀性。

  • 空气间隔 Etalons 干涉仪 空气间隔 Etalons 干涉仪 TecOptics, Inc.

    干涉仪配置: Not Specified 光源: Not Specified 输出极化: Not Specified

    空气间隔标准具具有适当等级的熔融石英(UV-可见或IR)基底。衬底上的面外AR涂层和楔形物防止形成无关的干涉图案。与基底光学接触的垫片决定了镜面的平行度和标准具的自由光谱范围。根据应用,间隔物可以是熔融石英或低热膨胀材料,例如ZeroDur或Ule。

  • AZP 200 HP自动准直测试和阻断装置 干涉仪 AZP 200 HP自动准直测试和阻断装置 干涉仪 OptoTech Optical Machinery Inc

    干涉仪配置: Not Specified 光源: Not Specified 输出极化: Not Specified

    AZP 200 HP是一款适用于许多光学生产领域的较佳多功能固井装置。由于各种安装和选项,AZP 200 HP可以完美地适应所有特殊的固井和定心任务。

  • Daffi Mt数字式自动光纤和插芯干涉仪 干涉仪 Daffi Mt数字式自动光纤和插芯干涉仪 干涉仪 Data-Pixel

    干涉仪配置: Not Specified 光源: Not Specified 输出极化: Not Specified

    Data-Pixel开发了一条经济高效的干涉仪生产线,可在不影响精度或性能的情况下进行大批量生产。基于我们丰富的干涉仪制造经验,我们将Daffi MT设计为坚固、快速和精确,以满足所有制造或实验室环境。借助BLINK软件平台,Daffi能够测量多光纤连接器和套圈的端面几何形状。Daffi干涉仪附件(法兰和适配器)与DAISI系列完全兼容,允许用户限制3D几何测量单元的成本。BLINK是所有Data-Pixel产品通用的软件平台。专用插件支持干涉测量系列产品:3D Scope-V2、Daffi SF、Daisi-V3、Daffi MT和Daisi MT FP。PDF、HTML和CSV报告功能,具有广泛的数据库支持(SQL Server、MySQL、ODBC、Oracle等).OLE自动化支持可用于专用应用程序。

立即咨询

加载中....