XPLOR-100三维光学检测站
更新时间:2024-04-19 14:40:59
XPLOR-100三维光学检测站概述
Xplor 100是一种先进的全自动计量装置,设计用于测量和分析可见光和NIR波段的光学基板的气泡和夹杂物。
XPLOR-100三维光学检测站参数
- 指数测量范围 / Index Measurement Range: : 400 - 1000
- 准确性 / Accuracy: : -0.001 - 0.001
- 重复性 / Repeatability: : -0.001 - 0.001
XPLOR-100三维光学检测站图片集
XPLOR-100三维光学检测站规格书
XPLOR-100三维光学检测站厂家介绍
自2005年以来,Measurement Solutions一直提供定制测试服务和解决方案。M³被公认为红外光学材料测试和定制自动化和测试解决方案的全球企业中做得较好的。我们的客户范围从主要国防承包商和大型材料供应商到小型光学设计和制造车间。我们以热情、诚实和尊重吸引客户,并相信“及时做好”。
相关内容
相关产品
- 228A OPTICAL WAVELENGTH METER光学计量Bristol Instruments Inc
228光学波长计采用成熟的基于光学干涉仪的设计,以较高精度测量CW激光器的波长。提供两个版本。228A型是较精确的,测量波长的精度为±0.3 pm。对于不太严格的测试要求,228B型是一种价格较低的替代产品,波长精度为±1.0 pm。
- 228B OPTICAL WAVELENGTH METER光学计量Bristol Instruments Inc
228光学波长计采用成熟的基于光学干涉仪的设计,以较高精度测量CW激光器的波长。提供两个版本。228A型是较精确的,测量波长的精度为±0.3 pm。对于不太严格的测试要求,228B型是一种价格较低的替代产品,波长精度为±1.0 pm。
- 828-B HIGH-SPEED OPTICAL WAVELENGTH METER光学计量Bristol Instruments Inc
828系列高速光学波长计采用干涉仪技术,该技术与用于WDM波长测试应用的其他波长计所采用的技术有很大不同。Fizeau标准具设计用于产生由快速InGaAs光电探测器阵列检测的空间干涉图。使用板载数字信号处理器,干涉测量数据被快速处理为精确的波长测量。这些技术的组合提供了无与伦比的1 kHz持续测量速率。
- Referenced Spectroscopic Ellipsometer Nanofilm-rse光学计量Halcyonics GmbH
Nanofilm_RSE是一种特殊类型的椭偏仪,它将样品与参考进行比较。以这种方式,可以测量样品和参考之间的椭圆偏振差。由于参考的取向,在测量过程中不需要移动或调制任何光学元件,并且可以在单次测量中获得完整的高分辨率光谱。通过这种方式,每秒可获得100个光谱。同步X-Y平台能够在几分钟内采集大视场薄膜厚度图。参考光谱椭偏仪将椭偏仪的高灵敏度和层厚区域(0.1nm-10µm)与市场上可用的较高速度相结合。与激光椭偏仪相比,它包括450和900nm之间的光谱信息。这在处理层的一个以上参数是可变的情况下是重要的,例如厚度和光密度。
相关文章