VT750和VT1200干涉仪工作站

空气间隔标准具具有适当等级的熔融石英（UV-可见或IR）基底。衬底上的面外AR涂层和楔形物防止形成无关的干涉图案。与基底光学接触的垫片决定了镜面的平行度和标准具的自由光谱范围。根据应用，间隔物可以是熔融石英或低热膨胀材料，例如ZeroDur或Ule。

基于使DAISI获得成功的设计和理念，DAISI-MT包括白色和Redight光源，可在同一系统上测量多光纤套圈和单光纤连接器的端面几何形状。其革命性的设计使其非常适合在生产环境和现场应用中使用。除了自动化和控制命令外，实时和高质量的图像通过USB2.0高速链路以高达每秒100张图像的速度从硬件传输到软件。DAISI-MT是便携式的，可以连接到笔记本电脑或台式电脑。所有校准步骤都是自动化的，并嵌入到用户友好的软件界面中，以产生无误差和可靠的测量。白光干涉仪的机械和电子设计比红光（单色）干涉仪的设计更具挑战性。整个光学系统必须以纳米级的精度和完美的线性方式在许多微米范围内平移。DAISI-MT系统做到了这一点：基于一个30微米行程的闭环压电传感器，在不到10秒的时间内对表面进行快速精确的扫描。

波长: 632.8 nm

普惠测量系统公司（Pratt&Whitney Measurement Systems）的LMS200是一种激光干涉仪，通过将测量探头位置与632.8nm红色氦氖激光光源的波长进行比较来测量内部和外部尺寸。该专利激光路径与测量轴一致，消除了阿贝误差。它有一个花岗岩底座，其热膨胀系数比钢小十倍以上，使该干涉仪成为高度稳定的测量源。该干涉仪的精度为0.05+0.5Lµm，重复性为0.04µm.它的测量范围高达200 mm，直接读数范围为200 mm.LMS200干涉仪有一个碳化钨平板（1/10波）测量探头，带有Ø0.25金刚石尖端。探头是电动和远程控制的，以提高系统稳定性并消除操作员的影响。它可以测量最大尺寸为293 X 203 mm的样品，并具有14克的探针接触力。该干涉仪具有两步校准功能，这是一种先进的省时功能，允许使用两个实验室级别的可追踪量块进行校准，从开始到结束仅需30秒。它可以在直接读取或比较器模式下工作，并具有可编程自动循环功能，支持用户定义的恒定吞吐速率。该干涉仪根据命令存储所有测量结果的总和，并可显示统计数据，指示计算的平均值和一个标准偏差。LMS200需要110/120至220/240 V的交流电源，并消耗1-2 A的电流。它采用尺寸为56 X 41 X 79 cm的封装，非常适合测量球/球体、磁带/磁盘基板、光学元件、聚乙烯薄膜、量块/滑规、涂层厚度标准、塞规和销规、丝线、薄膜厚度、量块堆叠、网格厚度、纺织品和精密零件。

波长: 350 to 535 nm探测器类型: Photodiode

Thorlabs公司的SA200-3B是一款干涉仪，自由光谱范围（FSR）为1.5 GHz，波长为350至535 nm.有关SA200-3B的更多详细信息，请参见下文。