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下载规格书 什么是多轴干涉仪（Multiple Axis Interferometer）？
多轴干涉仪是一种使用多束光进行测量的干涉仪。这些干涉仪测量两轴和三轴，可以提高精度，减少对准时间，并节省高性能多轴系统的空间。
全部产品分类
µPhase® 1000柔性干涉仪传感器概述
µPhase® 1000柔性干涉仪传感器参数
- 干涉仪配置 / Interferometer Configuration: : Twyman–Green Interferometer
- 光源 / Light Source: : 632 nm or 633nm
- 输出极化 / Output Polarization: : Random
- 有效值重复性 / RMS Repeatability: : <0.01 waves
- 有效值精度 / RMS Precision: : <0.01 waves
µPhase® 1000柔性干涉仪传感器规格书
µPhase® 1000柔性干涉仪传感器厂家介绍
TriOptics GmbH是一家面向国际的公司，总部位于德国。我们专注于镜头、镜头系统和相机模块的光学测量和制造技术。我们的销售遍布全球，在中国、法国、日本和美国设有子公司，在英国、以色列、印度和韩国设有分销商。我们在整个运营过程中都以客户为导向。我们的目标是为客户提供较好的产品和较佳的问题解决方案，这是通过努力工作、决心和专业知识来实现的。
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图片名称分类制造商参数描述
- DAFFI MT DIGITAL AUTOMATED FIBER AND FERRULE INTERFEROMETER干涉仪Data-Pixel
Data-Pixel开发了一条经济高效的干涉仪生产线，可在不影响精度或性能的情况下进行大批量生产。基于我们丰富的干涉仪制造经验，我们将Daffi MT设计为坚固、快速和精确，以满足所有制造或实验室环境。借助BLINK软件平台，Daffi能够测量多光纤连接器和套圈的端面几何形状。Daffi干涉仪附件（法兰和适配器）与DAISI系列完全兼容，允许用户限制3D几何测量单元的成本。BLINK是所有Data-Pixel产品通用的软件平台。专用插件支持干涉测量系列产品：3D Scope-V2、Daffi SF、Daisi-V3、Daffi MT和Daisi MT FP。PDF、HTML和CSV报告功能，具有广泛的数据库支持（SQL Server、MySQL、ODBC、Oracle等）.OLE自动化支持可用于专用应用程序。
- Interferometer VI-direct SL 10干涉仪Vermont Photonics Technologies Corp
干涉仪是光学生产和质量控制中不可缺少的测量工具。它们用于各种各样的应用。例如，光学表面的平面度和球度检测、半径测量以及光学系统的波前检测。VI系列干涉仪有两种版本：干涉仪VI-Vario和干涉仪VI-Direct。两个版本的不同之处在于仪器中使用的相机类型。干涉仪VI-Vario包含一个模拟摄像机，可连接电视监视器。干涉仪Vi-Direct配有基于USB的数码相机。与模拟摄像机相比，该摄像机具有更高的横向分辨率。它允许干涉图像的三倍数字缩放，因此可以测试较小的零件。另一个优点是降低了对外部干扰（例如振动）的敏感性。
- M-WAVE 339 MWIR Interferometer干涉仪M3 Measurement Solutions
M-Wave 339红外干涉仪是较先进的LUPI（激光不等路径干涉仪），工作在3.39微米。是检测中波红外成像器件/系统和光学材料均匀性的理想仪器。
- NSLI-543-2 N-Slit Laser Interferometer干涉仪Interferometric Optics
通常，基于多棱镜扩束和数字检测，狭缝干涉仪允许透射光学表面的快速干涉测量表征。与传统的逐点非相干显微密度计和逐点非相干显微镜相比，这是一个显著的进步。
- Verifire HDX Interferometry For Precise Mid-Spatial Frequency Characterization干涉仪Zemetrics
Zygo的新型VeriFire HDX干涉仪专为极高性能光学元件和系统的中间空间频率成分表征而设计和制造。该系统包括广受欢迎的VeriFire HD的所有强大功能（如QPSI和长寿命稳定激光器），并增加了重要的增强功能，如新的同类较佳成像和高仪器传递函数（ITF）分辨率、中间空间频率内容和高斜率表面偏差的卓越特性，以及Zygo的DynaPhase®动态采集技术（可选），该技术可消除振动引起的问题，并在几乎任何环境中实现精密计量。
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共路干涉仪是一种干涉仪，其中样品光束和参考光束使用一个共同的光路进行干涉。
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法布里-珀罗干涉仪是一种高分辨率的干涉仪，其工作原理是多光束干涉。多重光束干涉是一种发生在多个相干光束相互作用时的现象，导致形成一个干涉图案。它用于测量精确的波长，分析两个非常接近的波长，确定气体的折射率，以及以波长为单位校准标准米尺等。
Twyman-Green干涉仪是用于测试光学元件的干涉仪。它是由Frank Twyman和Arthur Green在1916年发明的。